TiN镀膜的磨损与膜组织结构之间联系的电镜研究
ELECTRON MICROSCOPY STUDY ON RELATION BETWEEN WEAR-RESISTANCE AND MICROSTRUCTURE OF HCD ION-PLATED TiN FILM
出处
《理化检验（物理分册）》
CAS
1989年第4期6-8,共3页
Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)
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