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能对材料应力进行非接触成像的新系统

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摘要 法国CEDIP红外系统公司最近推出一种基于高性能焦平面列阵摄像机和数字图像处理软件的新型测量系统,该测量系统的名称为ALTAIR Li系统,它能产生处于动态负载条件下的材料和结构的高质量应力图像。当一种结构经受循环负载时,其材料表面会产生小的温差。在绝热条件下。
作者 高国龙
出处 《红外》 CAS 2004年第5期4-4,共1页 Infrared

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