PLA测试产生方法概论

PLA以其独特的优势和规整的结构,越来越广泛地应用于复杂的VLSI系统的设计中,它的测试问题由于其难度和特殊性受到普遍的重视。十多年来,许多研究人员专注于PLA测试方法的研究,提出了不少解决问题的办法。本文试图在讨论PLA的故障类型及其故障模型和检测关系的基础上,归纳总结并分析现有的PLA故障测试生成的几类主要方法,以飨读者,切磋商讨。