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日立S—45O扫描电镜故障分析及检修方法 被引量:1

ANALYSIS AND SEEKING THE TROUBLES OF SEM (Model: HITACHI S-450)
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摘要 本文叙述了近10年来我们使用日立S—450扫描电子显微镜时所遇到的部分故障及故障分析、检查和修理的原则和方法。同时叙述了提高仪器管理者自我修复仪器的能力的重要意义和这种能力提高的基本方法。
出处 《华南农业大学学报》 CAS CSCD 1992年第A01期97-98,共2页 Journal of South China Agricultural University
关键词 故障 显示屏 电源 扫描 电子显微镜 SEM Troubles CRT Power supply Secondary electron detector
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