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塞曼效应实验中显微测微技术及测量误差分析

Technology of Microscopy and Micrometer in the Experiment of the Effect of Zeeman and the Error Analysis
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摘要 介绍显微测微技术的测量原理及其在塞曼效应实验中的应用,分析了测微过程中产生的误差. In this paper,the principle of microscopy and micrometer is described,and used in the experiment of the effect of Zeeman.The systematic error of the instrument is analyzed.
出处 《南华大学学报(理工版)》 2004年第2期103-104,共2页 Journal of Nanhua University(Science & Engineering)
关键词 塞曼效应实验 显微测微技术 测量误差 误差分析 物理实验 the effect of Zeeman micrometry error analysis
  • 相关文献

参考文献3

  • 1郑振维,龙罗明,周春生,等.近代物理实验[M].长沙:湖南师范大学出版社,1989.
  • 2陈九畴,文双春,文景.大学物理实验[M].长沙:湖南师范大学出版社,1997.
  • 3槠圣麟.原子物理学[M].北京:高等教育出版社,1979.

共引文献1

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