摘要
介绍显微测微技术的测量原理及其在塞曼效应实验中的应用,分析了测微过程中产生的误差.
In this paper,the principle of microscopy and micrometer is described,and used in the experiment of the effect of Zeeman.The systematic error of the instrument is analyzed.
出处
《南华大学学报(理工版)》
2004年第2期103-104,共2页
Journal of Nanhua University(Science & Engineering)