摘要
本文揭示了YBa_2Cu_3O_(7-x)超导陶瓷材料中微结构特征参量与临界电流密度(J_c)以及Cu-O面行为之间的关系.实验用3个样品的T_c均为90K,但他们的J_c分别为30,300和2000A/cm^2.结果表明,l/w≥3晶粒数,含畴晶粒数和平直晶界数这3个微结构特征参量,在YBCO超导材料中起着重要作用.研究结果还表明,这些微结构特征参量与结构中二维Cu-O面的行为密切相关,并且也是解释微结构影响J_c原因的关键.
出处
《中国科学（A辑）》
CSCD
1992年第8期834-837,共4页
Science in China(Series A)
基金
中国科学院高性能陶瓷和微结构开放实验室资助
