摘要
通过对长波长 PIN+FET 组件的可靠性试验,估算了长波长 PIN+FET组件的平均寿命;对失效样品进行了分析,确定了其主要失效模式,并对优化工艺作了进一步探讨。
The mean life of long-wavelength PIN/FET modules is evalua- ted on the basis of the experiment on their reliability.Analysis is made on some failure samples and the main failure mode is established,Moreover,the
出处
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
1993年第1期93-96,共4页
Semiconductor Optoelectronics
关键词
光电器件
可靠性
失效分析
Optoelectrical Device
PIN/FET Module
Reliability
Failure Analysis
