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大型数字电路的动态电流测试模式

The Testing Model of Dynamic Current for Large Digital Circuits
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摘要 组合逻辑电路的最大动态电流测试应在电路的原始输入端施加一个特定的测试序列才能实现.文中提出一种算法模式可以快速生成所需的测试序列.算法与电路的原始输入端数无关. A special testing sequence input is need for measuring maximum dyna- mic current of a combinational logic circuit.The algorithm proposed in this paper could be used to generate testing sequence quickly,which is independent to the number of input variables in the circuit.
作者 金树泽
出处 《北方交通大学学报》 CSCD 北大核心 1993年第4期400-406,共7页 Journal of Northern Jiaotong University
关键词 数字电路 动态电流 测试模式 电流 digital circuit current test/combinational logic circuits dynamic current test model test generation algorithm
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