高速位误码率测试仪的设计与实现
Design and realization of high-speed BER testing instrument
摘要
介绍了高速位误码率测试仪的结构,给出具体的设计方法,并对其具体实现进行了详细的介绍。
The authers introduced the structure, design and realization of a high-speed Bit Error Rate (BER) testing instrument.
出处
《电光与控制》
2004年第2期54-56,共3页
Electronics Optics & Control
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