运用霍尔芯片测量涂层厚度的方法

本文以回顾已有的涂层测厚的方法为基础,提出利用测量由于涂层厚度变化引起磁场强度变化的霍尔芯片传感器来间接测量涂层厚度的两种方法:永久磁法和电磁铁法,分别针对铁基和铝基表面上涂层测厚的新方法.永久磁法是一种利用霍尔芯片测量磁场与铁基之间因涂层引起的磁场强度变化感应现象进而推算得到涂层厚度的方法;电磁铁法是一种利用霍尔芯片测量因铝基与探头线圈的涡流感应受涂层厚度影响电磁铁磁场强度的方法.本文通过实验论证两种测量方法的可行性.