《电子测试》

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《电子测试》创刊于1987年，见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的...查看详情>>

曾用名电子测试（新电子）；微电子测试
主办单位北京市科学技术研究院
国际标准连续出版物号1000-8519
国内统一连续出版物号11-3927/TN
出版周期双月刊

期刊信息

曾用名电子测试（新电子）；微电子测试
主管单位北京市科学技术研究院
主办单位北京市科学技术研究院
总编/主编陈晓筱
地址北京市海淀区北三环中路31号
邮政编码100083
电话010-66027428-9001
电子邮件etest@vip.126.com
单价35
定价210

期刊简介

《电子测试》创刊于1987年，见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。同时，本刊也希望成为社会各界有识之士进行学术交流平台，共同发展，携手共进！

收录情况

日本·日本科学技术振兴机构数据库

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