采用硝酸钡、硝酸锶、钛酸丁酯、正硅酸乙脂和硼酸三正丁脂为原料的溶胶凝胶方法制备了Si B O系BaxSr1-xTiO3玻璃陶瓷。通过差热分析(DTA)、热失重(TG)、X射线衍射(XRD)分析Si B O系BST玻璃陶瓷超细粉体合成过程及其相结构变化。采用... 采用硝酸钡、硝酸锶、钛酸丁酯、正硅酸乙脂和硼酸三正丁脂为原料的溶胶凝胶方法制备了Si B O系BaxSr1-xTiO3玻璃陶瓷。通过差热分析(DTA)、热失重(TG)、X射线衍射(XRD)分析Si B O系BST玻璃陶瓷超细粉体合成过程及其相结构变化。采用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)描述Si B O系BST玻璃陶瓷烧结体的相结构和显微组织结构变化。阻抗分析仪测量Si B O系BST玻璃陶瓷的-50～100℃介电温谱。实验结果表明:Si B O系BST玻璃陶瓷粉体的相结构为立方钙钛矿相结构,其合成温度为700℃,不存在第二相。Si B O系BST玻璃陶瓷的烧结温度低于传统工艺。Si B O系BST玻璃陶瓷的显微结构呈细晶结构。Si B O系BST玻璃陶瓷的介电常数ε随着烧结温度升高而增大,介电损耗tgδ随测试温度的增加而降低。随着晶粒平均尺寸的减小,Si B O系BST玻璃陶瓷样品的介电峰变低,平坦,宽化,存在介电峰弥散化的现象。展开更多
文摘 采用硝酸钡、硝酸锶、钛酸丁酯、正硅酸乙脂和硼酸三正丁脂为原料的溶胶凝胶方法制备了Si B O系BaxSr1-xTiO3玻璃陶瓷。通过差热分析(DTA)、热失重(TG)、X射线衍射(XRD)分析Si B O系BST玻璃陶瓷超细粉体合成过程及其相结构变化。采用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)描述Si B O系BST玻璃陶瓷烧结体的相结构和显微组织结构变化。阻抗分析仪测量Si B O系BST玻璃陶瓷的-50～100℃介电温谱。实验结果表明:Si B O系BST玻璃陶瓷粉体的相结构为立方钙钛矿相结构,其合成温度为700℃,不存在第二相。Si B O系BST玻璃陶瓷的烧结温度低于传统工艺。Si B O系BST玻璃陶瓷的显微结构呈细晶结构。Si B O系BST玻璃陶瓷的介电常数ε随着烧结温度升高而增大,介电损耗tgδ随测试温度的增加而降低。随着晶粒平均尺寸的减小,Si B O系BST玻璃陶瓷样品的介电峰变低,平坦,宽化,存在介电峰弥散化的现象。
