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基于Haswell I5-4300U集成显卡的优化 被引量:1
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作者 吴德理 罗回彬 +2 位作者 刘泽 叶伦寿 路良刚 《现代电子技术》 北大核心 2015年第16期125-128,共4页
随着多媒体技术和3D应用技术的发展,新一代视频彩票投注终端迎来3D投注游戏的需求。在东莞天意So C4300U平台的基础上,通过对比patch包、改变渲染特效状态、修改显卡共享内存对Haswell I5-4300U集成显卡进行相关测试,通过测试结果的数... 随着多媒体技术和3D应用技术的发展,新一代视频彩票投注终端迎来3D投注游戏的需求。在东莞天意So C4300U平台的基础上,通过对比patch包、改变渲染特效状态、修改显卡共享内存对Haswell I5-4300U集成显卡进行相关测试,通过测试结果的数据对比分析,实现对Haswell I5-4300U集成显卡性能的优化。 展开更多
关键词 Haswell 集成显卡 测试 3D投注游戏
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一种可编程式模拟芯片自动测试方法及其应用 被引量:3
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作者 李演明 黄晟睿 +2 位作者 邓新安 张春红 沈宇衡 《现代电子技术》 2022年第8期29-34,共6页
针对电池保护芯片的传统测试方法的缺点和测试需求,文中基于ACCOTEST STS8200测试平台,设计一种用于电池保护芯片的自动测试方案。首先分析电池保护芯片的过充、过放、过流及过温等功能测试需求,给出测试电路;然后针对芯片的各项关键指... 针对电池保护芯片的传统测试方法的缺点和测试需求,文中基于ACCOTEST STS8200测试平台,设计一种用于电池保护芯片的自动测试方案。首先分析电池保护芯片的过充、过放、过流及过温等功能测试需求,给出测试电路;然后针对芯片的各项关键指标依次设计测试程序,并提出一种基于可编程控制的OTP Trimming算法;最后,设计测试板并在测试机上进行测试验证。文中提出的测试方案采用软件菜单选项和野口转接板设计方法,可大大缩短芯片测试的开发周期。结果表明,在测试31 631颗芯片后,芯片的测试良率为99.35%,且Trimming后数据的均值为2 254 mV,标准差为1.766。说明文中测试方案有效且可靠性较高,达到了可编程控制的灵活性要求。 展开更多
关键词 模拟芯片 自动测试方法 OTP Trimming技术 芯片功能测试 测试板设计 测试验证
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基于可测试性技术的测试矩阵优化研究 被引量:2
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作者 王力 贾春宇 《现代电子技术》 北大核心 2020年第21期137-142,共6页
可测试性技术在机载电路板中的应用使故障诊断问题得到快速发展,但是测试时间长,测试成本高。为了缩短测试时间,降低测试成本,基于MCSA算法、等权值抗误判算法、极小权值-极大相异性算法,融合改进的测试矩阵优化算法,使测试矩阵更加优化... 可测试性技术在机载电路板中的应用使故障诊断问题得到快速发展,但是测试时间长,测试成本高。为了缩短测试时间,降低测试成本,基于MCSA算法、等权值抗误判算法、极小权值-极大相异性算法,融合改进的测试矩阵优化算法,使测试矩阵更加优化,测试向量数量减少。经实验验证,运用优化后的测试矩阵进行测试可以有效缩短测试时间,提高测试效率,降低测试成本。 展开更多
关键词 可测试性技术 故障诊断 机载电路板 测试时间 测试成本 测试矩阵
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宽色域视频图像多路径并行传输研究
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作者 于夫 《现代电子技术》 2022年第3期78-82,共5页
为了在控制宽色域视频图像多路径传输时延的同时,增强视频传输质量,提出宽色域视频图像多路径并行传输方法。根据色域标准条件和颜色测量原理,计算并获得色域边界的具体数值。建立宽色域视频图像信息之间的扩展映射关系,在此基础上分别... 为了在控制宽色域视频图像多路径传输时延的同时,增强视频传输质量,提出宽色域视频图像多路径并行传输方法。根据色域标准条件和颜色测量原理,计算并获得色域边界的具体数值。建立宽色域视频图像信息之间的扩展映射关系,在此基础上分别定义数据包中的周期性数据帧、非周期性数据帧,提高了多路径环境中的传输稳定性。通过发现节点并建立链接的处理方式,完成视频图像的多路径并行传输编码,实现了宽色域视频图像多路径并行传输。实例分析结果表明,与Kirsch算子图像分割法相比,多路径并行传输方法在处理宽色域视频图像时始终保持较低的传输时延(未超过30 ms),且在实验过程中显示带宽均高于700 Kb/s,实现了增强视频传输质量的目的。 展开更多
关键词 多路径并行传输 宽色域视频图像 色域边界 传输时延 链接处理 周期性数据帧 非周期性数据帧
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SMT质量检测中的AOI技术及应用 被引量:3
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作者 王凡 姜建国 申洁琳 《现代电子技术》 2011年第9期179-182,共4页
随着电子制造业中印刷电路板元器件安装普遍采用表面贴片技术,产品的集成度更高,元器件体积更小,安装密度更大,传统的检测技术在技术和速度上都不能适应新的电子检测技术。而基于机器视觉的检测技术(AOI)可以快速、准确地实现对贴片安... 随着电子制造业中印刷电路板元器件安装普遍采用表面贴片技术,产品的集成度更高,元器件体积更小,安装密度更大,传统的检测技术在技术和速度上都不能适应新的电子检测技术。而基于机器视觉的检测技术(AOI)可以快速、准确地实现对贴片安装产品缺陷的自动检测,是提高电子制造业自动化水平和产品质量的重要技术。对AOI的技术原理进行了阐述,通过分析AOI在工艺中放置位置和最终需要实现目标及其在SMT工序中的应用,充分表明AOI在SMT工艺中的优点。 展开更多
关键词 AOI SMT 印刷电路板 质量
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数字阵列模块自动测试系统的研究与设计 被引量:3
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作者 马小芳 《现代电子技术》 北大核心 2015年第19期125-127,共3页
数字阵列模块是数字阵列雷达的核心组成部分,利用高集成技术将数字收发模块和模拟收发模块封装成一个组件。由于数字阵列模块数量多、通道数目多、测试指标多,对其进行自动测试变得尤为重要。针对数字阵列模块的自动测试给出了系统设计... 数字阵列模块是数字阵列雷达的核心组成部分,利用高集成技术将数字收发模块和模拟收发模块封装成一个组件。由于数字阵列模块数量多、通道数目多、测试指标多,对其进行自动测试变得尤为重要。针对数字阵列模块的自动测试给出了系统设计,包括硬件和软件设计。通过应用VC与Lab VIEW动态数据交换技术、VC++多线程技术、UDP数据传输及数据后处理技术,较好地解决了数字阵列模块测试数据量大、难处理的问题。通过对某型雷达数字阵列模块的测试,表明该测试系统达到了很高的测试精度。 展开更多
关键词 数字阵列模块 动态数据交换 VC++多线程技术 UDP数据传输 数据后处理技术 自动测试系统
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一种针对多级串联模拟电路的可测性设计技术 被引量:1
7
作者 王哲 李晓光 《现代电子技术》 2010年第24期12-14,共3页
随着集成电路的发展,测试难度的增加,可测试性设计也越来越重要。针对串联结构的模拟电路提出一种可测性设计结构,该结构大大提高了电路内系统模块的可测试性,减少了需要额外引出的I/O数,同时不随内部模块数的增加而增加,并且可以与数... 随着集成电路的发展,测试难度的增加,可测试性设计也越来越重要。针对串联结构的模拟电路提出一种可测性设计结构,该结构大大提高了电路内系统模块的可测试性,减少了需要额外引出的I/O数,同时不随内部模块数的增加而增加,并且可以与数字电路的边界扫描技术相兼容,通过在Cadence下仿真,证明了该结构简单有效。 展开更多
关键词 可测性设计 边界扫描 模拟电路 测试
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PN结二极管散粒噪声测试方法研究 被引量:1
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作者 郑磊 《现代电子技术》 2011年第22期162-164,共3页
针对散粒噪声难以测量的特点,提出了一种低温散粒噪声测试方法。在屏蔽环境下,将被测器件置于低温装置内,有效抑制了外界电磁波和热噪声的干扰,采用背景噪声充分低的放大器以及偏置器、适配器等,建立低温散粒噪声测试系统。应用该系统... 针对散粒噪声难以测量的特点,提出了一种低温散粒噪声测试方法。在屏蔽环境下,将被测器件置于低温装置内,有效抑制了外界电磁波和热噪声的干扰,采用背景噪声充分低的放大器以及偏置器、适配器等,建立低温散粒噪声测试系统。应用该系统对PN结二极管进行散粒噪声测试,得到了很好的测试结果。 展开更多
关键词 散粒噪声 扩散电流 低温装置 PN结
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板级电路检测中的EMI热点分析技术及算法
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作者 何宇昊 刘晨 +2 位作者 张兆华 张明辉 慕文博 《现代电子技术》 2022年第9期132-136,共5页
PCB板级电路的腐蚀失效往往会带来不可预知的电气故障,传统检测电路板腐蚀失效的方法(AOI、AXI)受人工限制和非上电操作的影响,电子设备检测定位一直是技术难题,往往带来调试周期延长和检测成本增加,给PCB板级电子单元的大规模检测实施... PCB板级电路的腐蚀失效往往会带来不可预知的电气故障,传统检测电路板腐蚀失效的方法(AOI、AXI)受人工限制和非上电操作的影响,电子设备检测定位一直是技术难题,往往带来调试周期延长和检测成本增加,给PCB板级电子单元的大规模检测实施带来了诸多不确定性。文中提出一种EMI热点分析技术,通过对电路EMI(电磁干扰)特性的检测,利用合理的故障算法分析扫描得到的电路板工作时的磁场图像和曲线,建立EMI热点分析诊断规则信息数据库,依据数据库规则信息对高速板级电路进行诊断,能较为准确地判断电气故障位置。 展开更多
关键词 EMI热点分析 PCB电路板 电路检测 异常区域识别 诊断规则数据库 技术验证
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PXIe接口可重构测试仪器的驱动程序开发
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作者 王法臻 崔少辉 王成 《现代电子技术》 2021年第8期19-23,共5页
针对自主开发设计的PXIe接口可重构测试仪器,在Windows 7 x64环境下设计开发基于WDF驱动框架的PXIe驱动程序,解决上位机与仪器设备之间的通信问题。首先在简要描述WDF驱动框架特点的基础上,结合实际功能需求重点阐述PXIe驱动程序的开发... 针对自主开发设计的PXIe接口可重构测试仪器,在Windows 7 x64环境下设计开发基于WDF驱动框架的PXIe驱动程序,解决上位机与仪器设备之间的通信问题。首先在简要描述WDF驱动框架特点的基础上,结合实际功能需求重点阐述PXIe驱动程序的开发过程。其次较为详细地介绍包括硬件访问、电源状态管理、DMA传输及中断处理等功能实现的有效途径。最后经测试验证,该驱动程序运行稳定可靠,达到了设计要求。 展开更多
关键词 PXIe接口 可重构仪器 驱动程序设计 WDF驱动框架 功能实现 测试验证
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