吸收湿气对微电子塑料封装影响的研究进展

微电子塑料封装中常用的聚合物材料因易于吸收周围环境中的湿气而对器件本身的可靠性带来很大影响,本文回顾了封装材料中湿气扩散、湿应力及蒸汽压力的产生这3个互相联系过程的研究情况,从理论分析、特征参数描述及其实验测定、有限元模拟分析的角度来分别予以介绍．从已有的理论分析与实验结果中可以看出,塑封材料吸收湿气会给器件的可靠性带来诸多影响,湿气的吸收、扩散、蒸发等过程,实验测量,以及由湿气带来的其它相关问题正成为微电子封装可靠性研究领域中的新热点,受到越来越多的关注与重视．

塑料封装集成电路结构热应力分布的解析解

由于集成电路的硅芯片与其周围的塑料封装材料热膨胀系数的不协调,产生的热残余力会直接导致封装结构的破坏及集成电路的失效· 将硅芯片的角点结构模化成半无限大楔体,求得了热应力分布的解析解· 在此基础上。

基于焊点形态的工艺参数对底部引线塑料封装器件焊点可靠性影响分析

选取焊盘长度、焊盘宽度、钢网厚度和间隙高度为四个关键因素,采用水平正交表L25(56)设计25种不同参数水平组合的底部引线塑料封装(bottom leaded plastic,BLP)器件焊点,建立25种焊点的形态预测模型和有限元分析模型;对热循环加载条件下BLP焊点进行非线性有限元分析,计算25种不同焊点形态的BLP焊点热疲劳寿命;基于热疲劳寿命计算结果进行极差分析。结果表明,四个因素对BLP焊点热疲劳寿命影响由大到小的顺序依次是焊盘宽度、焊盘长度、间隙高度和钢网厚度;可靠性最高的BLP焊点工艺参数水平组合为焊盘长度1.1 mm、焊盘宽度0.65 mm、钢网厚度0.15 mm和间隙高度0.09 mm。

塑料封装铜丝内连电子元器件开封新工艺研究

采用两种开封工艺对塑料封装、铜丝内连的电子元器件进行了开封实验。通过自动开封机对开封工艺参数的精确控制,使用浓硝酸与浓硫酸的混合液对样件进行开封,比较完整的保留了铜丝内连结构,达到了开封测试的基本要求。另外通过在混合腐蚀液中添加过量CuSO4.5H2O晶体使腐蚀液中的Cu2+在开封过程中始终保持饱和溶解状态下进行手工开封,结果表明改进后的腐蚀液对铜丝及铜球焊点的腐蚀破坏得到有效抑制。研究结果对于解决塑料封装、铜丝内连电子器件开封测试的难题具有指导意义。

塑料封装杂交稻种子寿命的研究

在含水量11.36%以下用塑料密封杂交稻种子,保持室内条件,能延长种子的寿命,到第2年6月使用时种子发芽率可以达到85%以上。隔年使用的种子含水量必须在10%以下。总结出杂交稻种子寿命的预测回归方程。

高速发展中的塑料封装基板及其基材

十世纪九十年代中期,电子电路安装技术迈入了高密度安装时代。与此同时,IC封装也步入了以BGA、CSP、MCM为典型代表的新的发展阶段。这些巨大的变比,引起了印制电路板（PCB）基材技术的新变革和市场领域的新扩展。有机树脂半导体封装基板及其基材的问世和技术发展,就是其中这一发展变化的重要方面。 本文对当前世界上塑料封装用有机印制电路板的高速发展趋势作一介绍,并重点介绍日本近年塑料封装基板用有机基材料方面的技术发展。

TO系列塑料封装离层探讨

文章研究了TO系列塑料封装功率器件产品产生离层的原因。同时,研究了TO系列塑料封装功率器件产品在上芯、压焊、塑封工序中的原材料、塑封模具、工艺参数等对离层的影响,并通过SAT图片,对影响离层的因素进行了论证,提出了如何预防或减轻TO系列塑料封装产品离层的产生。实验结果表明:塑封工艺参数的合理选择、塑封模具结构的合理选用、塑封料优选对TO系列塑料封装离层有较好的改善作用,并且在塑封生产线上易于实现。文章在这些方面做了相关尝试,取得了较好的效果。

引线框架塑料封装集成电路分层及改善

分层是塑料集成电路封装过程和可靠性试验后常见的问题,如何解决分层问题是封装材料供应商、封装工程师、可靠性试验工程师共同研究与改善的课题。通过对封装产品结构、材料、工艺方法等方面进行深入的解析,详细阐述了引线框架塑料封装集成电路分层产生机理,描述了分层对集成电路的危害以及如何预防分层的发生,进而提出了有效的改善措施。结果表明,这些措施的应用能够有效预防分层问题的发生,提高塑料封装集成电路的可靠性。

意法半导体(ST)采用塑料封装的MEMS麦克风实现更纤薄、坚固的电子产品设计

横跨多重电子应用领域、全球领先的半导体供应商、全球第一大消费电子和便携设备MEMS供应商意法半导体是全球第一家量产采用塑料封装的MEMS麦克风的半导体公司。从手机和平板电脑到噪声计（noise—lvel meter）和消噪耳机（noise—cancellingheadphone），在消费电子和专业级语音输入应用中。意法半导体首创专利技术可节省MEMS麦克风的占板空间并延长其使用寿命耐用性。意法半导体的创新封装工艺可确保麦克风具有优异的电声性能,以及无与伦比的机械强固性和纤薄外观。即将上市的新一代麦克风的尺寸再缩减到2×2mm，这项技术为麦克风微型化的终极之作，也代表了嵌入在硅腔体（siliconcavities）内的麦克风技术发展实现飞跃。

无铅再流焊对塑料封装湿度敏感性的影响

环保方面的原因不断推动无铅电子产品的市场需求。目前印刷电路板的组装都是采用低熔点的锡铅合金对元件进行焊接。已确定的典型的锡铅焊料的替代物--无铅锡合金的熔点比传统锡铅焊料的熔点要高出30-40℃。相应的再流焊峰值温度必须提高，以保证可靠的连接。无铅焊料所要求的再流温度的提高，势必对于湿度敏感的塑封表面安装器件（SDMs)产生影响。本文研究了无铅焊料模拟组装传引脚器件（160MQFP和144LQFP）和层压结构封装的器件（27mm和35mmPBGA和low profile细间距BGA）的湿度/再流试验效果。用C模式扫描显微镜和横断面失效分析确认失效位置，评估湿度/再流试验。结果表明再流温度升至260℃时，湿度敏感性至少降低一个IPC/JEDEC等级。对于一种封装（160MQFP）的试验分析表明，即使对“干燥”封装在260℃下再流后，也发现了芯片表面裂纹。无铅焊料提高了温度要求，这就要求封装材料和封装设计的改进，以适应广泛的湿度/再流试验条件。

塑料封装中裂纹问题的分析及对策

本文主要介绍了塑料封装中裂纹产生的原因以及如何抑制裂纹所采取的各种对策。

导热胶与金属的散热性能之比较——应用于微电子混合电路、IC塑料封装中的案例分析

本文论述了填加银粉和填加一氮化硼填料的环氧胶在散热和导热中的应用以及与使用低共熔合金焊接的芯片粘接中热阻性能相比较的案例分析。

对KK ST-200塑料封装压机的改进

KK ST-200型塑料封装压机常被用于电子元器件后道工序的注塑封装。由于具有占地面积小、耗电量低、合模速并变化圆滑性好等优点而受到用户的欢迎。但是，由于过分追求低功耗、小体积而使该设备也存在一些困扰用户的问题，通过对该设备进行必要的改进，使其更适合于国内半导体生产企业的生产需求。

塑料封装中多片集成电路的互连

采用引线框架和压模工艺,用低成本的塑料管壳封装一个芯片的集成电路相对地要容易一些。然而,对于特定的功能要求一个以上的器件的封装来说,就不那么容易或廉价了。本文介绍的组装技术适用于塑料封装多芯片电路的大批量、低成本生产。 当电路功能需要两个或两种以上芯片加工工艺时,采用多芯片电路是很有利的。例如,一个混合的数字/模拟电路,其数字部分可能要求CMOS电路,而模拟或线性功能则需要双极型电路。诚然。

塑料封装对半导体器件质量的影响

本文论述了半导体器件失效的原因,并就如何提高器件的质量,尤其是可靠性的提高,从工艺角度和材料要求方面作了分析和探讨。

窄间距小外形塑料封装工艺技术

在解决低弧度、长引线金丝球焊和塑封外引线共面性等问题的基础上。

飞思卡尔在大功率RF晶体管塑料封装领域实现突破

飞思卡尔半导体日前宣布推出业内第一款封装往超模压塑料封装内、性能堪与气腔封装媲美的2GHz大功率RF晶体管。这些先进的设备基于飞思卡尔的高压第七代（HV7）RF外侧扩散金属氧化物半导体（LDMOS）技术。这种先进的技术旨在帮助无线基础设施的设计人员极大地降低无线系统中最昂贵的元件-基站放大器的成本，同时达到严格的性能要求。

NDK塑料封装SAW双工器

Nihon Dempa Kogyo（NDK）公司推出的WX807C SAW双工器适用于US-CDMA移动电话，其Rx频段为881．5MHz，Tx频段为836．5MHz。而该公司的WX910ASAW双工器则适于UMTS应用，Rx频段为2140MHZ，TX频段为1950MHz。以上产品采用塑料封装。该双工器比陶瓷封装的轻40％-50％，因而更易于处理和装配，封装材料也更便宜。该产品在Tx频段插损为2．0dB，