试验电压对输电线路缺陷电晕放电紫外光子计数率的影响

高压输电线路缺陷故障早期往往伴随着电晕放电,会产生特定波长的紫外光,因此可以利用紫外成像仪检测这些电晕放电现象。为研究试验电压对输电线路缺陷电晕放电的紫外光子计数率的影响,通过模拟架空线路在不同电压下的电晕放电现象对不同长度的断裂铝股进行了紫外测量,对试验结果进行分析得到了影响规律。试验结果表明,在距离放电点距离相同,且成像增益相同时,断裂铝股起晕后的光子计数率与试验电压的平方近似呈线性关系,试验电压平方对不同长度断裂铝股的影响梯度基本相同,在0.25～0.3之间。这一结论在实际输电线路中也得到了有效验证,为紫外仪在输电线路电晕缺陷检测上的应用奠定了基础。

高计数率α、β粒子辐射检测方法研究与实现

提出一种用单探测器实现α、β粒子辐射同时检测的方法和系统。设计出纹波小于20 mV的±12 V、±5 V直流电源,保证了耦合输出信号的灵敏度;改用检波电路将信噪比提高了12.1 dB,同时将反冲信号由-700 mV抑制到+200 mV以内,还彻底抑制了比较器产生的反串信号,省去"极零相消"电路。采用双路单稳态触发器实现α道对β道的有效屏蔽。经实测,本检测系统对302cps源的β粒子辐射计数率可达79%,提高了22%;β道对α道的串道比为1%,降低了1%;对6190cps源的α粒子辐射计数率可达54%,提高了9%;α道对β道的串道比为12%,降低了17%。

计数率测量仪死时间的确定方法

采用反应堆不同的运行功率和缓发中子不同时刻的衰减作为模拟源,测量出两套计数率测量仪的死时间分别为3.65和5.18μs,并提出利用反应堆的功率周期上升测量计数率测量仪死时间的方法。

高计数率单道脉冲幅度分析器

介绍了一种单道脉冲幅度分析器的设计与分析，其特点是没有任何延时元件，电路的分辨时间仅由集成器件的时间特性决定。因此，只要采用快速器件，就可以达到高计数率工作的要求。

藻类超弱发光及其光子计数率与藻类数量的关系

用高敏超弱光测量仪测得二角多甲藻(Peridinium bipes),莱因衣藻(Chlamydomonas veinhardii),纤细裸藻(Euglena gracilis)和四尾栅藻(Scenedesmus quadricauda)等四种藻类发射的自然超弱光,并求出藻类浓度(个/ml)与超弱光光子计数率(hy·min^(-1))的线性回归方程及相关系数;显着性检验表明两个计量之间的相关性是显著或是非常显著(r>r_(0.05)或r>r_(0.01))

EDXRF分析装置的角度布置对荧光计数率影响的蒙特卡罗模拟

在EDXRF分析中,X射线荧光计数率与待测元素种类和含量有密切关系。但X射线荧光计数率又与很多因素有关,其中X光管、样品和探测器的几何位置关系是一个重要的影响因素。为了设计较好计数率的能量色散型X荧光分析仪,采用MCNP4C程序,建立与实际相符的几何模型,模拟了不同入射角和出射角时的X荧光计数率,得到了X光管与样品、探测器与样品之间的最佳角度。所得结果与文献资料进行比较,其结果符合得很好。

启明星1#次临界装置内不同位置探测器的中子计数率变化

在启明星1#次临界装置上进行了次临界外推实验,外中子源分别采用Am-Be中子源和252Cf中子源,放置在启明星1#次临界装置中心,中子探测器放置在次临界装置内不同位置,研究相对中子计数率的变化。实验测量结果表明:在启明星1#次临界装置不同位置的探测器测量得到的中子计数率变化不同,但对外推结果影响不大。

SPECT固有计数率、固有均匀性质量控制检测

目的检测单光子发射计算机断层成像系统(SPECT)的性能指标,评价其是否符合相关标准,确保临床诊断的准确性。方法用RGRMS-2012型SPECT性能模体对SPECT的固有计数率、固有均匀性进行检测,依据相关标准对检测结果进行判断,对不符合项进行修正,确保诊断的准确性。结果该SPECT的固有计数率、固有均匀性符合相关标准。结论设备在日常使用中的磨损、老化情况会对设备性能产生影响,建议定期进行设备状态检测,保证设备的可靠运行。

近地卫星舱内粒子计数率随空间位置的变化

为测量近地轨道空间舱内辐射环境 ,在卫星内搭载了两台带有定时数据存储功能的盖革 -弥勒 (G -M)计数管式辐射测量仪 ,获得了卫星飞行期间 ( 1 5d)舱内带电粒子计数率动态变化的完整数据。通过分析 ,可获得此次飞行卫星舱内辐射环境随轨道空间位置变化的信息 ,能够较完整的描绘出南大西洋异常区辐射环境的粒子等剂量曲线。

核电厂堆外中子测量系统闪发高计数率问题研究

从故障现象、原因排查和解决措施三个方面,分析了我国核电厂近期发生的堆外中子测量系统闪发高计数率异常中所涉及的电缆接头问题和探头故障问题,提出了核电厂应关注堆外中子测量系统设备制造和安装的质量等建议,为解决和避免类似的堆外中子测量系统闪发高计数率问题提供借鉴。

大面积GEM中子探测器高计数率读出电子学系统研制

研制并测试了GEM中子探测器的512通道高计数读出电子学系统,以满足中国散裂中子源高效率、高分辨、高通量二维位置灵敏中子探测器的需求.系统以Kintex-7 FPGA作为系统控制和数据分析的核心,使用8块AS20Board前端芯片对灵敏面积为200 mm×200 mm的探测器的两个维度的信号进行读出,读出通道为256×256.读出数据经FPGA分析后通过千兆以太网传输至计算机显示.计算机可通过千兆以太网发送配置指令对前端采样电路和FPGA算法进行配置.系统与探测器组装后在中子束流实验中测得系统最高瞬时计数率为(1.2±0.1)×10^6s^-1,系统运行稳定,受噪声干扰小.

从理论角度降低低本底α、β测量仪净计数率探测下限研究

本文从不等式角度推导了低本底α、β测量仪测量过程中净计数率探测下限的公式,并计算两种典型探测下限公式对应的犯第二类错误的实际概率值。在不做近似的情况下,一定时间发生原子核衰变的数目服从二项分布。当净计数率的平均值为探测下限这个值时,净计数率的随机数低于判断限的概率就是犯第二类错误的实际概率值。结合初始时刻的放射性原子核数目、整个测量时间发生了衰变的放射性原子核数、放射性原子核发生衰变的概率,可以计算犯第二类错误(产生误判)的实际概率值。通过计算,发现大多数情况下犯第二类错误的实际最大概率比标称概率值低1到2个量级。因此在保证犯第二类错误的实际概率值趋近并小于标称值的情况下,通过引入修正系数对探测下限进行了修正。通过计算发现,当kα=1.645,kβ=1.645时,通过引入修正系数可以使探测下限至少降低22%。

高强度短寿命核素对其它峰计数率和半衰期影响的研究

利用HPGe探测器及DSPECPIus谱仪的活时间校准模式（LTC）和零死时间校准模式（ZDT），对含有高强度短寿命核素的混合样品作了测量。结果表明：在计数率急剧变化的情况下，LTC方法测得的峰计数经修正以后仍然存在计数丢失；与ZDT模式的数据相比，初始阶段数据丢失率约2．O％～3．8％。这部分不能正确修正的计数对短寿命核素的半衰期几乎没有影响，但是对半衰期相对较长的核素有一定的影响，实验中，LTC和ZDT两种模式下24Na的半衰期相差了2．56％。

卫星舱内空间带电粒子计数率的动态变化研究

在我国１９９６年的返回式卫星舱内，搭载了２台Ｇ－Ｍ计数管型辐射测量仪，取得了卫星飞行期间（１５ｄ）舱内带电粒子计数率动态变化的数据。每台仪器的４万多个计数率数据中，８０％以上的计数率小于１５０／ｍｉｎ，大于５００／ｍｉｎ的仅占２％以下，最大计数率达６×１０３／ｍｉｎ。计数率随飞行时间呈周期性变化，周期约为４５ｍｉｎ，除每日出现４～５组大计数率数据外，一般的变化幅度是０～２００／ｍｉｎ。南大西洋异常区是引起计数率增大的原因。卫星上的热释光剂量计测出飞行１５ｄ的舱内平均日剂量为０．１７９ｍＧｙ／ｄ。

计数率和分辨时间对光场统计性质测量的影响——基于单光子探测器测量的实验分析

对光子统计性质的测量是获得量子态光场非经典特性的重要手段。目前，效率很高的“数字化”单光子计数模块（Single-Photon-Counting Module，简称SPCM，包括信号提取和电子放大部分）已经被广泛应用。本文利用工作在盖革模式下的单光子探测器，分别采用单个探测器直接对光子计数的方法，以及由两个探测器组成的传统HBT方案，对相干光场及热光场的统计性质进行了测量和分析。通过改变计数率，调整分辨时间等，系统地研究了光场二阶相干度受实验条件的影响。结果表明，采取不同的方法对光场统计性质的测量时，不同的计数率和时间分辨率对测量结果都会构成影响。实验表明，在综合考虑系统中的各种因素对测量影响的情况下，通过选择合适的测试条件（单探测器直接测量，计数率为109kc／s，分辨时间范围为28ns-212ns；双探测器测量，计数率为50kc／s，分辨时间为32ns），采用两种方法，均能够揭示相干光场和热光场不同的光子统计性质。

γ能谱测量中死时间与最佳峰计数率相关性研究

探讨了在有限测量时间内更准确测量高放样品的最佳峰计数率条件。基于标准不确定度评价原理,获得了给定统计不确定度条件下,峰下本底占比和峰面积临界值之间应满足的函数关系。结果表明,要达到给定不确定度,峰下本底占比越大,要求累计的峰面积临界值越大。基于泊松分布研究了相对死时间、峰计数率和输入计数率之间的函数关系,在相对死时间为(1-1/e)≈63.2%时,各能峰的计数率达到最大值。采用两种商用谱仪对上述结论进行了实验验证。

数字线性计数率计

计数率计能够直接监视、测量和指示输入脉冲的平均计数率。介绍了数字线性计数率计的E-PLD设计。它比模拟线性计数率计有更高的精度、更好的线性和稳定性。

液闪分析中反符合屏蔽对各种放射性核素计数率的影响

采用有/无反符合屏蔽的3台液闪仪测定了多种放射性核素的计数率,结果表明:对α核素、纯β核素和不存在β-γ级联辐射的β/γ核素,反符合屏蔽对其计数率的影响可以忽略;但对存在β-γ级联辐射的β/γ核素,反符合屏蔽使其β计数率显著降低。因此,用有反符合屏蔽的液闪仪进行绝对测量时必须考查待测核素的衰变特性。

具有高计数率性能的ECT闪烁探测器前端电路

介绍了几种可以提高ＥＣＴ 闪烁探测系统计数率性能的前放电路设计，包括延迟线斩波法（ＤＬＣ）、动态积分法（ＤＩＭ）和脉冲堆积防止法（ＰＰＭ）， 并给出了它们的性能比较。

SGS测量技术中的计数率损失校正方法试验研究

在HPGeγ谱仪测量中,当谱仪系统通过的总计数率较高时,会出现计数率损失现象。在定量测量分析中需要对损失的计数率进行校正。通过试验,对参考峰法与谱仪内置活时间计数法的校正效果进行了比较分析。结果表明：在试验涉及的死时间范围中,参考峰校正方法存在不足,而活时间计数法得到的计数率结果能够满足定量测量的需要。根据这个结果,卸除了研制中的分段式γ扫描测量装置上的参考源,降低了装置成本,提高了装置的安全性能,简化了测量分析流程。试验表明，简化后装置的测量分析结果满足设计指标的要求。