一种模拟边界扫描的FPGA高可靠自更新方法

针对FPGA+PROM设计架构中不支持动态重构功能的型号产品,在不增加额外器件的前提下,提出了基于边界扫描模拟技术的FPGA自更新方法,同时研究了升级过程中的可靠性保障措施,做到高可靠、无感化更新。这种设计方式可在型号产品不开盖、不使用USB-JTAG的情况下完成PROM的在线升级,为军用嵌入式计算机提供了一种PROM在线升级的能力,在武器产品的可维修性、保障性等方面具有重要的意义。

边界扫描测试技术及可测试性设计研究

随着集成电路技术的不断发展,在超大规模集成电路时代,数字电路的应用越来越广泛,而其中使用的大规模数芯字片越来越多,如数字信号处理(digital signal processing,DSP)、现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)等;然而也带来了更多的测试问题。边界扫描测试技术为测试复杂、高密度电路系统提供了新的解决方案,注入了新的活力。它为数字电路提供了一套完整的、标准化的可测试性设计方法,有效解决了传统测试方法无法解决的问题,并具有广阔的应用前景。本文首先对边界扫描测试技术的发展史、测试原理进行概述,并对比边界扫描测试与传统测试区别;其次对边界扫描测试技术在可测试性设计层面的应用场景进行概述;最后提出可行性建议。

边界扫描测试技术的原理及其应用

边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法,他提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试。自从1990年2月JTAG与TEEE标准化委员会合作提出了“标准测试访问通道与边界扫描结构”的IEEE1149.11990标准以后,边界扫描技术得到了迅速发展和应用。利用这种技术,不仅能测试集成电路芯片输入/输出管脚的状态,而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障。对芯片管脚的测试可以提供100%的故障覆盖率,且能实现高精度的故障定位。同时,大大减少了产品的测试时间,缩短了产品的设计和开发周期。边界扫描技术克服了传统针床测试技术的缺点,而且测试费用也相对较低。这在可靠性要求高、排除故障要求时间短的场合非常适用。特别是在武器装备的系统内置测试和维护测试中具有很好的应用前景。本文介绍了边界扫描技术的含义、原理、结构,讨论了边界扫描技术的具体应用。

边界扫描技术及其应用

边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试。介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构,并以PC机作为平台,利用边界扫描技术对某飞控计算机系统中的CPU电路板进行测试,实现了该电路板的可测性设计,体现了边界扫描技术对于芯片互连故障测试检验效率高,控制简单方便,易于实现的优越性。

边界扫描技术在故障信息处理中的应用

边界扫描技术广泛应用于电路可测试性设计,在故障信息处理测试设计中尝试融入边界扫描技术,采用扫描器件直接替换、扫描结构置入等方法。通过仿真试验表明该设计方法可行,经过系统硬件测试,证明边界扫描技术能够有效提高故障信息处理能力。

数字系统设计中边界扫描测试诊断策略

本文介绍了边界扫描技术及其IEEE 1149.1标准。包括它的基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注。

边界扫描测试技术

边界扫描技术是一种标准化的可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试。介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了边界扫描技术的应用。

基于微机的边界扫描测试主控系统的设计

分析了边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求 ,提出了一种基于微机PCI总线的低成本边界扫描测试主控系统的硬件设计方案 .该系统以PC机为平台 ,以用CPLD器件实现的JTAG主控器生成满足IEEE114 9.1协议的边界扫描测试信号 ,并用普通的SRAM实现存储器共享 .仿真表明 ,该系统产生的测试信号完全满足IEEE114 9.1协议的时序要求 ,可用于IC或PCB的边界扫描测试 ,以及进行边界扫描测试的研究和实验 .

基于SOPC的边界扫描测试控制器IP核设计

在研究边界扫描数字电路测试技术标准IEEE1149.1的基础上,采用SOPC设计技术,用FPGA设计实现了一款基于Avalon总线的边界扫描测试总线控制IP核,与其它复用IP核可形成以NIOS Ⅱ处理器为核心的通用数字电路边界扫描测试控制器,该控制器产生符合IEEE1149.1标准的测试信号控制被测边界扫描系统,进行各种边界扫描测试;该IP核的成功设计,为基于边界扫描的电子系统机内自测试系统的实现,奠定了坚实的应用基础。

从1149.1标准到1149.7标准分析边界扫描技术的发展

边界扫描技术是一种应用于集成电路的测试性结构设计方法,其主要优点在于用极少的电路引脚解决了极为复杂的电路测试问题;伴随着边界扫描技术的发展,已经具有IEEE1149.1、IEEEIEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6等多个标准,它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试;文中对边界扫描的多个协议标准进行了介绍和分析,着重讨论了各个标准的体系结构及功能,最后介绍了边界扫描技术面临的挑战及今后的发展方向。

边界扫描测试仪软件系统开发

边界扫描是一种正在被人们普遍接受的可测试性设计技术 ,在电子设备测试和故障诊断中发挥着越来越重要的作用。本文介绍了开发的边界扫描测试仪样机的工作原理 ,并着重论述了其软件开发的几个重要问题。

边界扫描技术在PCB可测性设计中的应用

运用边界扫描技术,对PCB可测性设计进行了研究,给出了具体实现方法,并实现几种电路板的可测性设计。结果证明该方法有效缩短了电路板开发周期,降低了维修测试费用,具有较大的实用价值。

基于USB接口的边界扫描测试控制器设计

边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计技术,它以特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,能大大提高数字电路的可测试性;采用DSP和边界扫描总线控制芯片74LVT8980设计了边界扫描测试控制器,该控制器采用USB总线与计算机进行通信,实现USB通信协议与边界扫描总线协议的自动转换,测试数据能够自动加载、采集和诊断;实际测试表明这种方法具有方便、快捷、即插即用的特点。

基于边界扫描技术的板级BIT设计及测试策略

随着超大规模集成电路 (VLSI)、表面安装器件 (SMD)、多层印制电路板 (MPCB)等技术的发展 ,常规BIT设计面临挑战。为解决上述问题 ,本文提出了一种基于边界扫描技术的板级BIT的扫描器件置入法及其测试策略。该方法操作简单 ,经济实用 ,一旦广泛使用 ,无疑将会有很好的军事经济效益。

基于AVR单片机的边界扫描测试控制器设计

根据边界扫描测试IEEE1149.1技术标准,采用AVR单片机以及边界扫描总线控制芯片74ACT8990设计了边界扫描测试控制器;该控制器通过串口与计算机通信,将计算机的指令转化为符合边界扫描标准的测试时序信号,注入被测板;并且采集被测板响应,送回计算机进行故障诊断;该测试控制器结构简单,使用方便而且成本低;通过实际测试验证,测试控制器产生的测试信号符合IEEE1149.1系列标准,可以用于功能测试、数字电路故障诊断以及边界扫描研究。

基于单片机的边界扫描实验系统的设计与实现

为了将边界扫描技术构架更好地应用于电路可测性设计中,在介绍边界扫描结构、测试基本原理的基础上,提出了运用单片机模拟边界扫描时序,控制被测电路进入相应边界扫描状态的方法;利用模拟开关控制整体扫描链路的转换,同时结合现有CPLD下载电路,完成了被测电路核心逻辑、外围管脚的设置,最后实现了基于IEEE1149.1测试访问门和边界扫描结构标准的边界扫描实验系统;实验系统可以完成IEEE1149.1的所有边界扫描测试,并具有实现简单、操作灵活等特点。

边界扫描测试优化算法——极小权值-极大相异性算法

IEEE 1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法 ,在边界扫描测试过程中 ,生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键。在分析现有边界扫描测试生成算法的基础上 ,提出了一种极小权值 极大相异性算法。该算法可以在确定边界扫描测试向量集的紧凑性指标的前提下 ,生成故障诊断能力相当优化的测试向量集。仿真试验表明 ,该算法的性能优于现有的类似算法。

基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计

简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性。

边界扫描测试生成算法优化问题

紧凑性和完备性是评价边界扫描测试生成算法的两大指标,紧凑性指标越小、完备性指标越大则表明算法越优。算法研究目的是减小紧凑性指标,增加完备性指标,而它们是一对矛盾的集合体,单纯优化任何一个都不能使测试算法最优。论文提出了一种通过综合权衡两大指标来优化算法方法:1·确定对完备性指标的要求,寻求紧凑性指标最小的测试向量集。2·在确定紧凑性指标的前提下,寻求完备性指标最佳的测试向量集。以此为依据对现有算法进行了优劣排序,并提出了两种更优的新算法,最后对这种优化问题未来的发展方向进行了预测。

基于边界扫描技术的通用测试系统设计

为了满足电子设备的测试维修需求,文章运用边界扫描测试技术,研制了一种通用性的自动测试系统;从系统的工作原理、硬件设计及软件设计等方面进行了阐述,并通过实例说明了本系统的测试结果。结果表明,该系统性能稳定、集成度高、通用性强,对各领域中数字电路测试维修设备的研制有一定的参考价值。