1.集成电路技术的高速发展 几十年来集成电路(IC)技术一直以极高的速度发展。著名的摩尔(Moore)定则指出IC的集成度(每个微电子芯片上集成的器件数),每3年左右为一代,每代翻两番,对应的IC制作工艺中的特征线宽每代缩小约30%。...1.集成电路技术的高速发展 几十年来集成电路(IC)技术一直以极高的速度发展。著名的摩尔(Moore)定则指出IC的集成度(每个微电子芯片上集成的器件数),每3年左右为一代,每代翻两番,对应的IC制作工艺中的特征线宽每代缩小约30%。根据按比例缩小原理(Scaling Down Princi-ple),特征线条越窄,IC的工作速度越快,单元功能消耗的功率就越低。展开更多
近年来,微流体变焦透镜的研究已展示出其在光学系统中的应用前景,其中基于介质上电润湿(Electrowet-ting on dielectric,EWOD)的微流体变焦透镜只需改变外加电压便能快速调节透镜焦距,并且具有尺寸小、结构灵活、功耗低、焦距调节范围...近年来,微流体变焦透镜的研究已展示出其在光学系统中的应用前景,其中基于介质上电润湿(Electrowet-ting on dielectric,EWOD)的微流体变焦透镜只需改变外加电压便能快速调节透镜焦距,并且具有尺寸小、结构灵活、功耗低、焦距调节范围广等许多突出优点而日益受到注目。在介绍EWOD机理的基础上,综述了目前基于EWOD的微流体变焦透镜的研究进展。展开更多
文摘研制了一种基于介质上电润湿(electrow etting-on-d ielectric,EWOD)的新型低驱动电压电子纸反射式显示单元器件.本文分析了器件的工作原理以及性能影响因素,并提出用优化的氮化硅与碳氟聚合物复合介质层来改善器件的驱动电压.实验证实,器件在15V低电压驱动下成功实现了“开启”、“关闭”功能,其“开启”、“关闭”响应时间小于1/30 s.
文摘1.集成电路技术的高速发展 几十年来集成电路(IC)技术一直以极高的速度发展。著名的摩尔(Moore)定则指出IC的集成度(每个微电子芯片上集成的器件数),每3年左右为一代,每代翻两番,对应的IC制作工艺中的特征线宽每代缩小约30%。根据按比例缩小原理(Scaling Down Princi-ple),特征线条越窄,IC的工作速度越快,单元功能消耗的功率就越低。
文摘近年来,微流体变焦透镜的研究已展示出其在光学系统中的应用前景,其中基于介质上电润湿(Electrowet-ting on dielectric,EWOD)的微流体变焦透镜只需改变外加电压便能快速调节透镜焦距,并且具有尺寸小、结构灵活、功耗低、焦距调节范围广等许多突出优点而日益受到注目。在介绍EWOD机理的基础上,综述了目前基于EWOD的微流体变焦透镜的研究进展。