基于科教融合理念的药学专业建设探索与思考

经过五年的科教融合探索实践,齐鲁工业大学(山东省科学院)在学科建设、科研创新、人才引育、成果转化和社会服务等方面获得快速发展,充分彰显科教融合的独特优势。科教融合学院-药学院紧跟国家科教融合政策导向,紧贴地方药学专业建设需求,深挖自身人才和科研优势,从明晰育人方向、构建课程体系、创新培养模式、夯实师资力量和强化校企合作五个方面入手,探索实践药学专业科教融合建设的新路径、新形态。该文以药学专业建设为例,梳理专业在科教融合方面所做的工作、取得成效,以及存在的矛盾问题和发展方向,为下一步创新推进科教融合发展,合力培育优质人才,加快科教成果落地提供参考借鉴。

多表面干涉下的光学元件面形检测

为了消除平行平板类光学元件的多表面干涉效应对元件面形测量的影响,提出了基于波长移相调谐技术与傅里叶变换原理的多表面干涉条纹检测技术。首先,根据波长移相原理和被测元件的厚度,按照推算出的被测腔长与元件厚度间的比例关系正确摆放被测元件的测试位置。然后,通过波长移相技术采集一组干涉图。最后,对这组多表面干涉图进行离散傅里叶变换,提取带有被测元件前后表面面形的频率信息以及厚度变化的频率信息,通过重构算法得到准确的面形信息和厚度信息。实验结果表明:与传统的13步移相算法相比,得到的前表面PV值和RMS值分别相差0.003和0.001,而后表面PV值与RMS值分别相差0和0.001。这些结果基本满足平行平板类光学元件面形的高精度测量与洁净测量的要求。

波前功率谱密度函数评价方法探讨

波前功率谱密度 PSD( Power Spectral Density)能定量给出波前畸变的空间频率分布、限定波纹度和粗糙度指标 ,全面反映 ICF驱动器对高功率激光光学元件加工质量的特殊要求。给出了波前功率谱密度 PSD的定义及计算方法 ,并使用大口径相移干涉仪作为波前检测仪器 ,对光学磷酸盐钕玻璃透射波前进行了测试实验 ,获得波前一维 PSD分布 ,证实功率谱密度为高功率激光光学元件波前参数的一种有效表征方式。同时 ,还对 PSD与均方根 RMS之间的关系进行了初步的讨论。

划痕型缺陷对光场质量的影响

为了研究高功率激光系统中划痕型缺陷对光场质量的影响,采用分步傅里叶算法对非线性近轴波动方程进行求解,模拟分析了不同划痕参数(长度、宽度、深度)下,元件内部、光束近场、元件后传输光场以及光束远场的光强分布情况。数值模拟结果表明:随着划痕长度、宽度或深度的增加,元件内部以及元件后传输光场的峰值强度和对比度均会相应增强;光束近场的光强对比度也会略微增大;对于光束远场的强度分布,与划痕宽度方向所对应的频谱能量会不断增强。该项研究工作可以为划痕检验标准的制定提供一定的定量分析依据。

高功率激光光学元件面形参数表征

针对神光Ⅲ原型装置使用的光学元件,基于国内光学元件加工现状,结合空间频段的概念,对高功率固体激光驱动器所需光学元件不同的面形评价参数进行了阐述。结合对激光远场焦斑的影响,对面形评价参数的重要性进行了举例说明。提出了面形的综合评价方式,全面界定面形各项评价参数,对光学元件的评价具有一定的参考价值。

糖尿病病人生存质量研究进展

介绍了生存质量的定义,糖尿病病人生存质量测评的意义及工具,糖尿病生存质量影响因素及护理干预。

国外数据库立法与案例之评析

近20多年来,美国信息产品的销售额增长很快,如1977到1996年间,美国核心版权产业的增长率几乎是全国经济增长率的3倍.1美国核心版权产业1996年的对外销售额为601.8亿美元,第一次超过汽车业、农业等部类,成为美国出口份额最大的经济部类.

论知识产权法的利益平衡原则

知识产权法调整的对象不仅涉及多元的主体利益,而且涉及到复杂的国内和国际经济秩序,同时由于知识产权所存在的智力成果的非物质性、知识产品生产的社会性、知识产权取得的国家授权性等迥异于有形财产权的特点,以及知识产品对人类文明的进步所起的特殊作用,决定了利益平衡在知识产权法中有着特殊的存在价值和意义。本文着重探讨了利益平衡的内涵、依据和实现方式。

光学材料光学均匀性检测方法分析

光学均匀性是光学材料的重要指标,直接影响到透射光学系统的波面质量,改变系统的波相差。惯性约束聚变(Inertial Confine Fusion,ICF)激光驱动器的研制要求对材料的光学均匀性进行高精度的检测,同时兼顾洁净度要求。实验中利用斐索干涉仪实现了大口径光学材料光学均匀性的检测,并与国外检测数据进行了对比,对检测过程中的影响因素主要包括样品的厚度测量偏差及折射系数偏差进行了分析。结果表明,样品的厚度测量偏差及折射系数偏差对结果的影响较小,可以忽略。同时用两种干涉仪专用软件对大量样品测量数据进行处理,对比了不同干涉仪光学均匀性的计算结果,表明这两种情况下对光学均匀性的处理结果相符,解决了大口径光学坯件光学均匀性的检测问题。

光学膜层激光预处理过程研究

光学元件经过激光预处理后 ,其抗激光破坏能力最大提高 2倍以上 ,系统研究激光预处理机理和工艺 ,能安全可靠地提高光学元件损伤阈值 ,提升高功率激光系统的能量密度。研究了几种 sol- gel膜、PVD膜在预处理前后膜层表面的变化 (损伤形貌 )以及损伤阈值的增幅 ,发现预处理过程膜层仍然发生了一定程度的轻微损伤 ,这种损伤和膜层本身缺陷、激光参数密切相关 。

KDP晶体折射率不均匀性对三倍频转换效率的影响

采用正交偏振干涉测量法获得了典型的快速(RG)和传统(CG)生长的KDP晶体折射率空间分布,数值模拟了倍频晶体固定失谐角分别为0和220μrad时晶体折射率不均匀性对高功率三倍频光转换效率的影响。结果表明:快速生长晶体的折射率不均匀性的均方根约为传统生长晶体的6倍;三倍频转换效率在低功率密度下对折射率不均匀性不敏感,在高功率密度下尤其是转换效率较高时很敏感;当混频过程中的二倍频光不过剩时,在晶体折射率变化对三倍频效率的影响方面,倍频晶体比混频晶体严重;目前国产的传统生长晶体可以满足高功率三倍频实验要求。

用功率谱密度坍陷评价光学元件波前中频误差特性

扼要介绍了光学元件波前二维功率谱密度的计算方法,并引入功率谱密度坍陷的概念描述光学元件波前频谱特性。功率谱密度坍陷是对二维功率谱密度在不同角度上进行Radon变换得到的投影,它既利用了光学元件波前的所有有效数据,又沿袭了一维功率谱密度简明直观的特点。虽然功率谱密度坍陷在结果的表现形式和量纲方面与一维功率谱密度相同,但功率谱密度坍陷在评价光学元件波前频谱特性方面比用一维功率谱密度和二维功率谱密度更具优越性。

高功率激光宽光谱减反膜的溶胶-凝胶旋转法制备工艺

采用溶胶 凝胶法用旋转镀膜工艺在K9玻璃基片上制备出了SiO2和有机硅单层减反膜以及有机硅 SiO2双层减反膜。考察了旋转速度对SiO2和有机硅单层膜的中心透射波长、膜层折射率等基本光学性质的影响,实验确定了双层膜的涂敷工艺。透射光谱测量表明,采用本文工艺条件制备的有机硅 SiO2双层膜在430～800nm范围内透射率达99%以上。

农村社区冠心病并发抑郁发生率和相关因素的研究

目的：研究新兴工业化农村社区冠心病并发抑郁的发生率和相关因素。方法：对114例在我院就医、属三角镇户籍常住人口的冠心病（CHD）患者进行Zung量表（SDS量表）检测，同时调查其经济状况、健康习惯、社会活动能力等。用Spss 13．0版统计软件进行统计分析。结果：抑郁发生率37．7％，女性44．3％（27／61）高于男性30．2％（16／53）。其中≥70岁者为47．6％（30／63），高于〈70岁者的25．5％（13／51），NYHA心功能与Zung得分、抑郁的发生、社会活动能力和生产劳动能力皆负相关。心功能3～4级比1～2级发生抑郁的比例高约5．7倍。低收入、几乎不参加社会活动、几乎不锻炼身体以及少量饮酒是冠心病并发抑郁症的独立预测因素。结论：新兴工业化农村社区冠心病并发抑郁的发生率和相关因素与其它地区不同。

激光预处理对光学元件膜层性能的影响

激光预处理是使膜层提高损伤阈值的一种有效手段,现在流行的激光预处理机理模型之一是缺陷消除模型。实验从对元件膜层激光预处理前后各项参数的对比出发,分析了激光预处理对膜层的影响,说明了光学元件膜层激光预处理的过程,是对膜层去除缺陷、固化、洁净的过程。

干涉法测量光学材料光学非均匀性

为了实现光学材料光学非均匀性的高精度检测,采用将光学材料制成一小楔角(小于0.117°)光学元件并利用菲索干涉法检测其光学非均匀性的方法,对测量过程进行了理论仿真分析和熔石英材料光学非均匀性的实验验证,取得了熔石英材料的光学非均匀性数据,峰谷值为4.33×10^(-6),均方根值为0.862×10^(-6),测量准确度优于4.8×10^(-7)。结果表明,该测量方法能有效避免目前检测方法中将光学材料制成平板元件而引起干涉混叠的现象。

供给侧结构性改革背景下技能型人才培养的内涵建设、动力导向与推进机制

技能型人才培养与经济发展需求的不匹配是职业教育面临的主要矛盾之一。在当前产业转型升级,各行各业对高素质技能型人才迫切需要的形势下,职业教育也需要从供给侧角度进行改革。职业教育培养的技能型人才作为人才队伍的重要组成部分,对于推动经济发展和社会进步发挥着不可或缺的作用。在"供给侧"改革背景下的技能型人才培养,需要政府加强制度保障、经费投入,需要职业院校努力提高技能型人才培养质量,需要社会深度参与,为职业教育提高人才培养质量提供条件和机会。

KDP晶体光学均匀性检测实验研究

本文阐述了正交偏振干涉测量技术的基本原理和实验方法。Fizeau干涉仪的输出激光束经过线偏振镜后变为线偏振光,调整偏振方向让光束的偏振态分别平行于KDP晶体的o轴和e轴,得到两幅干涉图。通过这两幅干涉图的差值得到晶体的折射率分布不均匀性。该检测技术借助可改变输出激光偏振态的大口径干涉仪精确地测量晶体在切割方向上o光折射率和e光折射率的偏差。本文所采取的方法是在大口径干涉仪的小端口放入可改变偏振方向的线偏光镜。本文通过对一批330mm×330mm的大口径KDP晶体的折射率均匀性测量验证了该方法。

三种不同波长的激光对熔石英损伤行为的对比研究

利用SAGA激光器,输出脉宽为7.2ns、波长分别为1064nm、532nm、355nm的基频光和倍频光,对相同类型的5块石英基片用R∶1的方法分别测量了其损伤阈值,对比不同波长激光对石英材料的损伤行为差异。得出其损伤阈值在三种不同波长激光作用下分别为:46.78J/cm2、13.4J/cm2、9.28J/cm2;并利用尼康E600W光学显微镜对三种不同波长激光造成的损伤形貌进行了观察,结合当前光学材料的损伤机理,对比得出倍频激光对石英基片的损伤破坏能力远大于基频光,且对石英材料的损伤机理主要表现为多光子吸收导致的雪崩电离破坏,而基频光的损伤多为表面缺陷及杂质引起的热破坏的结论。