使用阱型高纯锗γ谱仪测量了待测滤材样品和参比溶液中241 Am 59.5keV和239 Pu 129.3keV的能峰计数比,结合参比溶液中已知的241 Am/239Pu原子比数据给出了滤材样品的241 Am/239 Pu原子比,结果与滤材样品经化学处理后采用同位素稀释质谱...使用阱型高纯锗γ谱仪测量了待测滤材样品和参比溶液中241 Am 59.5keV和239 Pu 129.3keV的能峰计数比,结合参比溶液中已知的241 Am/239Pu原子比数据给出了滤材样品的241 Am/239 Pu原子比,结果与滤材样品经化学处理后采用同位素稀释质谱法测量的241 Am/239Pu原子比在不确定度范围内一致。展开更多
文摘使用阱型高纯锗γ谱仪测量了待测滤材样品和参比溶液中241 Am 59.5keV和239 Pu 129.3keV的能峰计数比,结合参比溶液中已知的241 Am/239Pu原子比数据给出了滤材样品的241 Am/239 Pu原子比,结果与滤材样品经化学处理后采用同位素稀释质谱法测量的241 Am/239Pu原子比在不确定度范围内一致。