平面镜反射率的标定及修正

研究了用同步辐射源标定软X光掠入射平面镜的反射率。实验采用北京同步辐射装置（BSRF）-3W1B柬线及反射率计靶室，在50～1500eV能区，做了C，Si，Ni和Au材料平面镜在1^o～7^o掠射角下的反射率标定曲线。由于3W1B束线的单色器采用变间距光栅作色散元件，光栅分光必然存在高次谐波，高次谐波严重影响光源的单色性，从而给平面镜的反射率标定值带来误差。前置滤片虽然能有效抵制高次谐波，但不能完全消除高次谐波。为此，利用透射光栅对光源做了单色性研究，给出高次谐波在不同能区所占光源强度的比例，从而对平面镜反射率标定值做出修正。

辐射加热金X光再发射时间测量

利用星光Ⅱ三倍频激光打双盘靶，研究了辐射加热材料的Ｘ光发射时间。激光脉冲能量４０～６０Ｊ、脉冲宽度６００～７００ｐｓ。通过两台时间关联的亚千Ｘ光能谱仪分别监测双盘靶初、次级发射Ｘ光谱，给出了辐射加热次级Ｘ光再发射时间。

滤片-XRD探测系统响应时间测量

研究了软X射线能谱仪探测道系统(系统包括X射线二极管(XRD)、SUJ 50 10电缆和不同频带示波器)的响应时间。实验利用上海激光联合实验室的20TW激光器激光(激光能量约20J,脉冲宽度约1ps)打金箔靶产生的X光,用XRD探测系统测量,记录示波器有TK684C,TK694C和WM8500等。将实验数据进行了线性拟合和比对分析。滤片 XRD探测系统的响应时间随偏压升高而加快,随传输电缆长度的增加而变慢,因此测量快信号过程时,应提高探测器偏压,缩短传输电缆,选择宽频带高采样率示波器,以便减少系统的响应时间,减小信号失真程度。

多种材料软X光平面镜反射率标定

利用北京同步辐射装置(BSRF) 3W1B束线及反射率计靶室,在束流强度40～120mA、贮存环电子能量2GeV专用光运行模式下,做了不同材料掠入射平面镜反射率标定实验。标定过程用高灵敏度无死层的硅光二极管代替X射线二极管(XRD)作探测器,使输出信号提高2～3个量级,可标定能区从150～270eV拓展为50～1500eV能区,对C,Si和Ni材料平面镜给出完整的反射率标定曲线,最终把实验数据与理论计算比对并分析。

五通道多层镜软X光能谱仪研制

五通道多层镜软X光能谱仪以光电导探测器(GaAs)作软X光探测器,为了消除杂散光影响,在多层镜通道后面加适当材料滤光片,构成谱仪探测系统,使用能量范围260～1200eV,谱仪在神光 三倍频腔靶实验中,进行了实时考核,五通道全部测到软X光信号,基本达到预定的目标。

ROSS滤片法测量软X光谱强度

介绍了 ROSS滤片差分法基本原理 ,给出了 ROSS滤片差分对的理论设计及实际应用差分对的响应函数计算结果。并用此方法获得了激光等离子体发射软 X光谱的绝对强度测量值。

多层膜镜用于激光等离子体发射软X光谱测量

本文研究软Ｘ光Ｗ／Ｓｉ多层镜色散特性，多层镜与Ｘ射线二极管（ＸＲＤ）配合，用于激光等离子体发射软Ｘ射线诊断，通过与滤片－ＸＲＤ探测结果比较，估计给出ｗ／Ｓｉ（ｄ＝２．４７ｎｍ）在光子彼长λ＝１．８９ｎｍ处的能量分辨及反射率。

滤片-X 光二极管阵列探测器的同步测量技术

本文描述了滤片┐Ｘ光二极管阵列探测器的同步测量技术。在利用同步时标建立的归一化坐标系中，不需要明确测量延迟时间，即可恢复由示波器记录的信号脉冲的时间同步特性。然后通过同步校正后时间信号还原Ｘ光能谱的时间演变过程。

软X光能谱仪探测元件晌应曲线标定

报道了软X光能诺仪探别元件的能量响应曲线标定工作．实验利用北京同步辐射装置-3W1B束经及反射率计靶室，在束流40—80mA、贮存环电子能量2.2GeV专用光运行模式下，在150—1500eV能区的四个能段，做了铝阴极X射线二权管、滤光片及擦入射平面反射镜能量响应标定实验，通过实验数据比对及分析，最终给出X射线二极管在不同能量段最大可能的测量误差范围。

激光-惯性约束聚变综合诊断系统

概述了为在强激光装置"神光 II"、"星光 II"上开展惯性约束聚变实验而建立的综合诊断系统的构成与指标。重点介绍了近期在X光、光学波段、聚变产物、诊断精密化等方面的进步,以及该诊断系统在黑腔靶物理、内爆动力学、不透明度研究中的应用。

高时间分辨辐射温度测量技术

通过对影响测量辐射温度时间分辨因素的研究,得出影响测量时间分辨的主要因素是系统的偏压、电缆的长度与带宽、衰减头的带宽和示波器的带宽与采样率。通过提高系统的偏压(3 kV)、缩短电缆的长度(2 m)、使用高带宽的衰减头(18 GHz)和高带宽(6 GHz)和2×1010/s采样率的示波器,在Silex-Ⅰ激光装置上进行系统的时间分辨测量,系统的上升时间为130 ps,时间分辨为215 ps。利用该系统,在上海神光Ⅱ装置开展的实验中,时间分辨好于215 ps,观测到了激光脉冲调整后辐射温度随时间的变化。

北京同步辐射 3B1 束线软 X 射线光源及探测器灵敏度标定

本文简单介绍了北京同步辐射装置３Ｂ１束线软Ｘ测量装置的结构与概况，从单色器能量分辨、绝对光子通量及出射光强线性三个方面对该装置光源特性进行了系统的研究，初步建立了标定用辐射场，并为用于惯性约束聚变（ＩＣＦ）的软Ｘ射线探测器进行了灵敏度标定，得到比较理想的结果。

小型X光二极管的研制

研制了小型X光二极管(XRD),可用于小型软X光能谱仪。小XRD与大XRD相比,体积为1/30。在"神光Ⅱ"上对小XRD进行了实验考核,结果表明:小XRD与传统的大XRD的时间响应和灵敏度基本一致,达到了预定的目标。对XRD的电路进行了分析,计算出XRD的时间响应和线性饱和电流。

高性能X光二极管的研制

作为X光测量的重要器件,X光二极管的研究和改进工作一直颇受重视。通过对储能系统和输出系统的重点研究与优化设计,研制出了新型超快响应X光二极管(XRD-Ⅱ),并在8 ps短脉冲激光装置上对探测器的性能进行了研究。实验结果表明:XRD-Ⅱ的阻抗匹配特性得到提高,耐压能力达6 kV,上升时间达40 ps,半高全宽达80 ps。标定实验给出的灵敏度结果也说明其灵敏度得到了保证。超快响应X光二极管的成功研制可大大提高X光诊断的时间分辨力,为实现精密定量诊断提供有利条件。

5FW软X光胶片响应在同步辐射源上的实验标定

介绍了５ＦＷ软Ｘ光胶片在同步辐射源上进行响应标定的一种实验方法，得到了５ＦＷ软Ｘ光胶片对波长为１．４７ｎｍ和４．５９ｎｍ软Ｘ光的相对响应实验曲线。

软X光能谱仪的一种新的解谱方法

提出软X光能谱仪的一种新的解谱方法即最大熵法 ,运用新的平滑方法即样条拟合方法处理滤片的边带结构 ,并对最大熵法的收敛性和稳定性进行了分析 .结果表明 ,该方法的谱回推精度高 ,收敛速度快且对噪声不很敏感 .该方法适用于根据软X光能谱仪的测量结果回推靶等离子体的软X光谱 .

0.35μm激光辐照金盘靶产生的M壳层X光辐射研究

在星光Ⅱ装置上，利用两种方法绝对测量了０．３５μｍ激光辐照金盘靶产生的Ｍ壳层辐射，在功率密度为１０１５Ｗ／ｃｍ２的条件下，Ｍ带的转换约为入射激光能量的７％。两种方法的测量结果基本一致，并且利用晶体谱仪给出了Ｍ壳层的Ｘ光发射谱分布。

软X光辐射烧蚀实验方法研究

用强激光辐照金箔靶，以金箔背侧软Ｘ光辐射为基础，提出了软Ｘ光辐射烧蚀研究的新靶型、新方法。

金阴极微通道板探测器X射线段的能谱响应

利用表面镀金阴极膜的微通道板（MCP）构成一种金阴极MCP光电探测器,根据MCP的电阻电容特性提出了一种特殊的能谱响应测量方法。在北京同步辐射3B3中能束线上对该探测器在2.1~6.0keV能段的谱响应进行了实验标定。以美国NIST绝对定标的美国IRD公司生产的AXUV-100硅光二极管为次级标准探测器,标定金膜厚度分别为25和100 nm的金阴极MCP探测器的能谱响应。经分析发现,阴极材料和MCP材料的元素吸收边是造成量子效率曲线出现突变点的原因。对比两种MCP的能谱响应标定结果,金膜厚度为100 nm探测器的能谱响应高于金膜厚度为25 nm的探测器。

“神光Ⅱ”基频激光首次穿孔实验

本文介绍首次对 8束“神光Ⅱ”装置基频穿孔“磨合”实验结果 :在 40 0～ 5 0 0J/束的能量采用南 1、2、4和北 5～ 8束同时穿380 μm孔时 ,透过率一般为 5 0～ 6 0 %。各束激光能量很不平衡 ,光束质量不好 ,波面畸变严重。激光波形差 ,严重时出现双脉冲。在 5 0J/束左右的能量采用南四路同时穿2 5 0 μm孔时 ,透过率仅为 2 0 %左右。这些结果表明 :98年的“神光Ⅱ”装置尚不具备开展腔物理实验所需的技术条件。这些结果也为“神光Ⅱ”