滤光片及X射线二极管响应面均匀性研究

介绍了用于软 X光能谱测量的滤光片及 X射线二极管能量响应均匀性研究。实验利用北京同步辐射装置 3W1B束线 ,流强 4 0～ 80 m A的运行条件 ,在 10 0～ 160 0 e V能区对滤光片及 X射线二极管 ( XRD)作能响曲线标定。重点对 C滤片及 Al阴极 XRD的灵敏面作能响面均匀性研究 ,最后给出响应面均匀性测量结果及计算分析。

遵循和贯彻ISO9000质量管理原则 加强档案利用系统质量管控

一直以来,在档案管理中,如何切合质量管理体系目标,通过质量管理提升档案服务水平,增强顾客满意度,是一个重要的课题。遵循改进和循证决策的ISO9000质量管理原则能保证档案管理过程中的协调与发展,促进整个档案管理体系持续提升。本文将以笔者所在单位的年度档案利用系统顾客满意度分析报告为例,综合几方面要素对档案利用系统进行顾客满意度调查,开展调查表的数据分析工作。

高时间分辨辐射温度测量技术

通过对影响测量辐射温度时间分辨因素的研究,得出影响测量时间分辨的主要因素是系统的偏压、电缆的长度与带宽、衰减头的带宽和示波器的带宽与采样率。通过提高系统的偏压(3 kV)、缩短电缆的长度(2 m)、使用高带宽的衰减头(18 GHz)和高带宽(6 GHz)和2×1010/s采样率的示波器,在Silex-Ⅰ激光装置上进行系统的时间分辨测量,系统的上升时间为130 ps,时间分辨为215 ps。利用该系统,在上海神光Ⅱ装置开展的实验中,时间分辨好于215 ps,观测到了激光脉冲调整后辐射温度随时间的变化。

小型X光二极管的研制

研制了小型X光二极管(XRD),可用于小型软X光能谱仪。小XRD与大XRD相比,体积为1/30。在"神光Ⅱ"上对小XRD进行了实验考核,结果表明:小XRD与传统的大XRD的时间响应和灵敏度基本一致,达到了预定的目标。对XRD的电路进行了分析,计算出XRD的时间响应和线性饱和电流。

平面镜反射率的标定及修正

研究了用同步辐射源标定软X光掠入射平面镜的反射率。实验采用北京同步辐射装置（BSRF）-3W1B柬线及反射率计靶室，在50～1500eV能区，做了C，Si，Ni和Au材料平面镜在1^o～7^o掠射角下的反射率标定曲线。由于3W1B束线的单色器采用变间距光栅作色散元件，光栅分光必然存在高次谐波，高次谐波严重影响光源的单色性，从而给平面镜的反射率标定值带来误差。前置滤片虽然能有效抵制高次谐波，但不能完全消除高次谐波。为此，利用透射光栅对光源做了单色性研究，给出高次谐波在不同能区所占光源强度的比例，从而对平面镜反射率标定值做出修正。

滤片-XRD探测系统响应时间测量

研究了软X射线能谱仪探测道系统(系统包括X射线二极管(XRD)、SUJ 50 10电缆和不同频带示波器)的响应时间。实验利用上海激光联合实验室的20TW激光器激光(激光能量约20J,脉冲宽度约1ps)打金箔靶产生的X光,用XRD探测系统测量,记录示波器有TK684C,TK694C和WM8500等。将实验数据进行了线性拟合和比对分析。滤片 XRD探测系统的响应时间随偏压升高而加快,随传输电缆长度的增加而变慢,因此测量快信号过程时,应提高探测器偏压,缩短传输电缆,选择宽频带高采样率示波器,以便减少系统的响应时间,减小信号失真程度。

多种材料软X光平面镜反射率标定

利用北京同步辐射装置(BSRF) 3W1B束线及反射率计靶室,在束流强度40～120mA、贮存环电子能量2GeV专用光运行模式下,做了不同材料掠入射平面镜反射率标定实验。标定过程用高灵敏度无死层的硅光二极管代替X射线二极管(XRD)作探测器,使输出信号提高2～3个量级,可标定能区从150～270eV拓展为50～1500eV能区,对C,Si和Ni材料平面镜给出完整的反射率标定曲线,最终把实验数据与理论计算比对并分析。

0.35μm激光辐照金盘靶产生的M壳层X光辐射研究

在星光Ⅱ装置上，利用两种方法绝对测量了０．３５μｍ激光辐照金盘靶产生的Ｍ壳层辐射，在功率密度为１０１５Ｗ／ｃｍ２的条件下，Ｍ带的转换约为入射激光能量的７％。两种方法的测量结果基本一致，并且利用晶体谱仪给出了Ｍ壳层的Ｘ光发射谱分布。

软X光辐射烧蚀实验方法研究

用强激光辐照金箔靶，以金箔背侧软Ｘ光辐射为基础，提出了软Ｘ光辐射烧蚀研究的新靶型、新方法。

神光Ⅱ升级装置软X光能谱仪研制

软X光能谱仪（SXS）是惯性约束聚变黑腔辐射流、辐射温度测量的主要诊断设备。根据神光Ⅱ升级装置实验需求，完成软X光谱仪系统研制，并开展了性能研究。谱仪采用环形透镜成像准直方法保证瞄准精度，通过固定角度平面镜安装机构来减少角度偏差。利用滤片、平面镜以及X光二极管（XRD）探测器的标定实验结果，得到谱仪测量能区为0．05～4．97keV。在短脉冲激光装置上开展通道时间响应性能研究，确定系统时间分辨力为99．22ps。

五通道多层镜软X光能谱仪研制

五通道多层镜软X光能谱仪以光电导探测器(GaAs)作软X光探测器,为了消除杂散光影响,在多层镜通道后面加适当材料滤光片,构成谱仪探测系统,使用能量范围260～1200eV,谱仪在神光 三倍频腔靶实验中,进行了实时考核,五通道全部测到软X光信号,基本达到预定的目标。

不同黑腔的X光辐射和散射光特性实验研究

在神光Ⅱ三倍频实验中,设计了多种半腔靶构型,研究不同黑腔构型的X光辐射和散射光特性。采用多种探测设备对多角度辐射温度、软X光谱、M带角分布、X光总量、超热电子、散射光、漏激光和受激拉曼散射(SRS)等物理量进行了综合测量,并比较了不同靶型的相关物理量。

软X光谱的滤波差分测量系统

采用复合滤片法建立的软X光谱滤波差分测量系统 ,设计了五对匹配差分对 ,将滤波差分法用于激光等离子体实验测量。测量结果表明 ,此系统具有单色性好、反演方法简单和精度高的特点 。

X光二极管阴极灵敏度标定

在北京正负电子对撞机同步辐射装置 ３Ｗ１Ｂ光束线上标定了一批Ｘ光二极管的灵敏度。应用一个简单的模型描述真空Ｘ光二极管光阴极发射光电子的机制。同时，阴极表面粗糙度、氧和碳沾污可以解释金属光阴极的实际灵敏度曲线与模型预测的偏离。

ROSS滤片法测量软X光谱强度

介绍了 ROSS滤片差分法基本原理 ,给出了 ROSS滤片差分对的理论设计及实际应用差分对的响应函数计算结果。并用此方法获得了激光等离子体发射软 X光谱的绝对强度测量值。

小灵敏面X光二极管性能研究

X光二极管（XRD）小型化有助于优化软X光能谱仪,也可实现与其他X光诊断设备的集成应用。完成了小灵敏面X光二极管机构设计,储能电容更合理,体积更小。开展了微波仿真与模拟计算,在0-20 GHz的带宽范围内其反射很小,微波传输特性满足实验要求。另外,在短脉冲激光装置上开展了探测器性能研究实验。结果表明探测器时间分辨能力提升20%左右。小灵敏面X光二极管研究有助于探测器在辐射流监测的方面获得更广泛的应用。

复合样品厚度参数同步辐射测量方法

薄膜样品在实验研究领域要求样品的厚度测量精度非常高,但由于样品质量小,采用称重的方法,测量精度较差。在北京同步辐射装置的中能（4B7A）和低能（4B7B）束线上（光源能区为0.1~6.0 keV,能量分辨大于1 000）,采用材料对单能光子的透过率来确定样品的质量厚度,通过不同能点的测量值进行不确定度分析,提高测量精度,降低不确定度。利用该方法开展了复合样品厚度的测量方法研究,给出了有CH衬底的薄膜样品的厚度,通过不确定度分析得出,薄膜样品厚度的测量不确定度小于1%。

X射线二极管阴极灵敏度测量及其不确定度分析

在北京同步辐射装置上,利用经过标定的硅光二极管作为标准探测器,对金、铝两种阴极的X射线二极管灵敏度进行了绝对测量。由于光源中二次谐波的影响,会造成计算所得的灵敏度降低。为了消除二次谐波的影响,实验中采用透射光栅对光源的二次谐波份额进行测量,并以此为依据对计算所得的灵敏度进行修正。通过光阴极次级电子发射模型对二次电子转换效率进行了分析,并且利用分析结果对缺省能点的阴极灵敏度进行了计算。同时对影响灵敏度计算的各种因素进行分析,最终得到的X射线二极管光阴极灵敏度的相对不确定度小于3%。

X光二极管脉冲偏压施加技术

为了满足充气腔实验对探测器安全性能的要求,开展了X光二极管的脉冲偏压施加技术的初步研究。在8ps激光装置上,设计了一种新的基于信号发生器的同步方法,完成了X光二极管脉冲偏压加载工作方式的技术验证。脉冲偏压与直流偏压条件下,探测器上升时间与半高宽变化值不超过10%。脉冲偏压源主要指标确定为脉宽110μs,激光打靶零后2.11ms完成偏压卸载。

双盘靶等离子体运动和X光辐射

通过双盘靶实验我们观察到了等离子体的运动，运动速度小于３．５×１０７ｃｍ／ｓ；同时观测到了等离子体的会聚发射，Ｘ光的波段约在４００～７００ｅＶ之间，峰值能量在５００～６００ｅＶ之间。