基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计

由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板卡,结合MSCAN和Checkerboard算法实现了对被测芯片激励信号的施加;然后,设计一个12工位的驱动板卡,实现了在三温条件下的多芯片同步测试;接着,设计一个基于Qt的上位机软件,实现了对测试结果的实时显示与存储;最后,对2 GB大容量FLASH存储器进行测试验证。测试结果表明,与传统的ATE测试相比,基于驱动板和工位板的测试系统可实现对大容量FLASH的全地址功能的高低温测试,且工位板具有的高可扩展性可实现多芯片的同步测试,大幅提高了测试效率。

基于ATE的NAND FLASH测试方法研究

随着信息化时代的发展,全球对数据存储的需求越来越多,NAND FLASH作为一款大容量存储器也被广泛应用到各种储存设备中,其测试评价需求也日益递增。该文针对这类存储器介绍了一种基于ATE(Automatic Test Equipment)的NAND FLASH测试方法。首先以镁光的MT29Fxx Gxx芯片为例,介绍了NAND FLASH存储器的基本工作原理,并从功能测试、直流参数、交流参数三个方面对常用的测试方法进行了阐述。

基于V93000的异步双端口静态存储器测试研究

随着计算机应用领域的不断发展,处理的信息量越来越多,对存储器的工作速度和容量要求也越来越高,异步双端口静态存储器在高速多处理系统中广泛应用。因此,研究异步双端口静态存储器测试具有十分重要意义。该文以IDT公司的IDT70V631S高速256K*18异步双端口静态存储器器件为例,介绍了异步双端口静态存储器的基本工作原理,阐述了基于V93000测试系统的MTP软件生成测试向量的方法,从而更高效、简便地对异步双端口静态存储器进行评价。

基于锁相环与分频器实现ATE频率扩展的研究

在当今高度竞争的市场环境中,对成本的敏感性不断提高,在电子制造业,高速板卡资源的紧张状况与产能的增长需求形成了尖锐矛盾,迫切需要一种能替代高速板卡的经济高效的测试方案。本文采用LMXxxx锁相环电路和HMCxxx分频器电路的新方法,能够扩展ATE板卡频率的能力,以实现在低速ATE机台上测试高速芯片。这一新颖方法成功突破了低速ATE机台最大测试800 MHz的瓶颈,为高速电路的测试带来了新的可能。