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X波段微波吸收材料电磁参数扫频测量方法及系统 被引量:2
1
作者 张其劭 孙稼 曹江 《宇航材料工艺》 CAS CSCD 北大核心 1989年第4期97-103,共7页
本文提出利用扫频双六端口自动网络分析仪来测量材料的复介电常数和复磁导率的测试方法和系统。利用扫频双六端口自动网络分析仪,组建了X波段微波吸收材料电磁参数自动测试系统。对聚四氟乙烯和几种吸收材料进行了测试,作为比对,对同一... 本文提出利用扫频双六端口自动网络分析仪来测量材料的复介电常数和复磁导率的测试方法和系统。利用扫频双六端口自动网络分析仪,组建了X波段微波吸收材料电磁参数自动测试系统。对聚四氟乙烯和几种吸收材料进行了测试,作为比对,对同一样品在矢量网络分析仪上进行了测试,对测试结果进行了误差分析和综和。聚四氟乙烯的测试结果同公认值非常接近,几种吸收材料的测试结果同矢量网络分析仪测试结果也很吻合。 展开更多
关键词 吸波材料 电磁参数 扫频测量 测量
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高温超导薄膜带状线谐振器的研究
2
作者 张其劭 罗正祥 +2 位作者 卢剑 任向阳 熊光成 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第2期173-176,共4页
采用准分子激光淀积外延YBCO超导薄膜,成功地研制出高T_c超导薄膜带状线谐振器,在77K时测试,谐振频率为8.56 GHz,无载品质因数为8400,超导薄膜微波表面电阻为600μΩ。
关键词 高温 超导薄膜 谐振器 微波器件
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介质材料复介电常数变温测量技术综述 被引量:14
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作者 何小瓦 李恩 +1 位作者 张其劭 郭高凤 《宇航材料工艺》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期20-23,共4页
介绍了在微波及毫米波段介质材料复介电常数在-253~1400℃的变温测试方法,即网络参 数法和谐振腔法,并对这些方法进行了优缺点分析,总结出变温测试方法的概况、趋势及技术特点。
关键词 航空介质材料 复介电常数 变温测试 微波测量 网络参数法 谐振腔法
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3mm准光腔内场和能量分布的模拟计算 被引量:5
4
作者 郭高凤 李恩 +2 位作者 张其劭 唐宗熙 羊恺 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第7期1000-1002,共3页
本文应用数学工具Matlab模拟了 3mm准光腔内存在的高斯波束的场和能量的分布情况 ,其结果可供设计腔体和进行测量参考 ,并发现不论准光腔处于何种工作模式 ,其电场切向分量在z =0处均为零 .
关键词 准光腔 能量分布 模拟计算 光学
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用于微波器件的大面积YBCO超导薄膜 被引量:5
5
作者 王小平 杨秉川 +8 位作者 石东奇 彭正顺 王瑞坤 孙丽虹 张其劭 卢剑 罗正祥 任向阳 郝凤珠 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第6期401-405,432,共6页
高质量大面积YBCO簿膜是用原位中空柱状阴极直流磁控溅射装置制备的。化学计量比的超导靶的内在为100mm,加热器有效面积50×40mm ̄2。在30×30mm ̄2的Zr(Y)O_2LaAlO_3基片上沉积的YB... 高质量大面积YBCO簿膜是用原位中空柱状阴极直流磁控溅射装置制备的。化学计量比的超导靶的内在为100mm,加热器有效面积50×40mm ̄2。在30×30mm ̄2的Zr(Y)O_2LaAlO_3基片上沉积的YBCO薄膜的厚度均匀度为±6%,临界温度T_c>89K,T_c不均匀性在1%以内,△Tc在0.8~0.9之间,临界电流密度J_c为20~3.5×10 ̄6A/cm ̄2;△J_c为1.0~1.5A/cm ̄2。微波表面电阻在77.5K、9894MHz下,测得Rs在0.25~0.76mΩ。以上参数表明该YBCO超导薄膜可在无源微波器件领域应用。YBCO超导薄膜沿C轴生长时的临界电梳密度J_c比沿a轴和b轴生长时的临界电流密度J_c大两个数量级,微波表面电阻可差一个数量级。所制备的YBCO薄膜样品经X射线衍射分析表明,是纯C轴垂直于基体表面的外延薄膜。SEM电子沟道和TEM截面电子衍射结果表明,在Zr(Y)O_2和LaAIO_3基体上沉积的薄膜为单晶结构。用该薄膜做出了性能良好YBCO超导带状线谐振器,其Q_0(无载品质因素)值达到13100。做出的环形微带谐振器,直线式微带谐振器,超导天线均性能良好,已可作为单独? 展开更多
关键词 超导体 薄膜 YBCO 微波器
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低损耗介质材料复介电常数的变温测试 被引量:4
6
作者 郭高凤 李恩 +1 位作者 张其劭 李宏福 《航空材料学报》 EI CAS CSCD 2003年第z1期194-197,共4页
采用TE_(015)模高Q圆柱腔对X波段低损耗介质材料的复介电常数进行了变温测试,电场的极化方向平行于样品表面。可测温度范围为常温到200℃。在所有温度点上,空腔的无载品质因数均大于40000。复介电常数的测试范围ε_r:1.05~10,tanδ:3&#... 采用TE_(015)模高Q圆柱腔对X波段低损耗介质材料的复介电常数进行了变温测试,电场的极化方向平行于样品表面。可测温度范围为常温到200℃。在所有温度点上,空腔的无载品质因数均大于40000。复介电常数的测试范围ε_r:1.05~10,tanδ:3×10^(-2)~5×10^(-5),测试系统的最可几误差为|△ε_r|/ε_r|=1.5%,|△tanδ|=10%tanδ+3.0×10^(-5)。 展开更多
关键词 低损耗介质 复介电常数 变温 圆柱腔 微波测量
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高温超导X波段带通滤波器研制 被引量:2
7
作者 羊恺 王占平 +4 位作者 补世荣 张其劭 罗正祥 杨晓波 李宏福 《宇航学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第6期91-93,102,共4页
本文选用 10× 15× 0 .4 4 m m3双抛 L a Al O3衬底上外延生长的优质双面钇系高温超导 (HTSC)薄膜的Yba2 Cu3O7(YBCO) ,设计并制作了结构紧凑的高温超导发夹线微波窄带滤波器。该滤波器工作温度在 90 K以下 ,77K时指标为 :中... 本文选用 10× 15× 0 .4 4 m m3双抛 L a Al O3衬底上外延生长的优质双面钇系高温超导 (HTSC)薄膜的Yba2 Cu3O7(YBCO) ,设计并制作了结构紧凑的高温超导发夹线微波窄带滤波器。该滤波器工作温度在 90 K以下 ,77K时指标为 :中心频率 9.4 8GHz,3d B相对带宽 1.1% ,带内最小插损 0 .36 d B,带外抑制大于 4 5 d B。另外 ,本文还介绍了高温超导滤波器的精确设计方法 ,并对高温超导滤波器的功率容载、制作等问题进行了讨论 ,同时还研制了具有实用意义的全密封高温超导滤波器外壳 ,仅需液氮制冷即可进入工作状态 ,输入、输出采用 SMA密封接头。 展开更多
关键词 带通滤波器 高温超导器件 设计 制作
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脊波导TRL校准技术的研究 被引量:2
8
作者 李恩 向志军 +1 位作者 郭高凤 张其劭 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第9期1041-1043,共3页
本文首先讨论了矢量网路分析仪TRL校准技术对校准件的要求,并根据校准原理设计出了脊波导TRL校准件的尺寸。由于脊波导脊的重合性对校准件与测试端面连接处的反射具有较大影响,对校准件采用精确定位和表面抗氧化处理。最后利用网络分析... 本文首先讨论了矢量网路分析仪TRL校准技术对校准件的要求,并根据校准原理设计出了脊波导TRL校准件的尺寸。由于脊波导脊的重合性对校准件与测试端面连接处的反射具有较大影响,对校准件采用精确定位和表面抗氧化处理。最后利用网络分析仪的10项误差修正原理完成了脊波导的TRL校准,实现了脊波导器件微波参数的准确测试。 展开更多
关键词 TRL校准 脊波导 校准件 微波测量
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改进矩形腔微扰法测试微波电介质复介电常数 被引量:5
9
作者 唐宗熙 张其劭 《通信学报》 EI CSCD 北大核心 1996年第5期56-61,共6页
本文讨论了测试电介质微波复介电常数的矩形腔微扰法。对介质样品加载后的TE10n模矩形腔腔内场进行了理论分析。通过对腔内场的数值求解,得出了与微扰公式相似的、已修正的准确计算公式。
关键词 复介电常数 测试 谐振腔 微扰法 微波电介质材料
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YBaCuO块材制备高Tc超导微波谐振腔的研究 被引量:2
10
作者 罗正祥 张其劭 +2 位作者 汪京荣 李建平 徐佩斐 《低温与超导》 CAS CSCD 北大核心 1989年第3期35-38,共4页
本文介绍利用YBaCuO材料,烧结的高Tc超导微波谐振腔,在液氮温度(77K)测得腔体的无载品质因素为5.5×10^4,谐振中心频率14.025GHz,显示了高Tc超导材料YBoCuO块材的微波特性。
关键词 YBaCuO材料 高TC超导 微波谐振腔 低温技术
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极高Q值高温超导微波谐振器的研制 被引量:1
11
作者 王占平 羊恺 +2 位作者 罗正祥 张其劭 唐小宏 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第3期304-305,319,共3页
该X波段高温超导谐振器采用高Q蓝宝石圆柱谐振器双端加载高温超导薄膜构成,工作模式为TE011模,工作频率为 8.34GHz,采用真空全密封结构,工作温度为77K。经测试,该谐振器的Q0值达7.1×105。
关键词 谐振器 Q值 X波段 TE 工作频率 蓝宝石 工作温度 高温超导薄膜 全密封结构 真空
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两种测试高温超导薄膜微波表面电阻方法的讨论 被引量:2
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作者 何建 罗正祥 张其劭 《低温与超导》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期53-56,共4页
介绍两种工作在 12 GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻 RS测试系统 ,并分析各自的特点。同时简介电子科技大学在提高 RS测试精度上所作的一些改进。
关键词 高温超导薄膜 表面电阻 介电 测试系统 测试精度 电子科技大学
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行波管夹持杆微波参数的快速自动测量 被引量:2
13
作者 李恩 郭高凤 张其劭 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第z1期46-47,共2页
提出了一种新的行波管夹持杆微波参数的快速测试方法。此测试方法大大缩短了测试时间 ,节约了测试成本 ,并保证了测试精度。
关键词 行波管夹持杆 微波参数 快速测量
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脊波导宽频带电磁参数测试技术 被引量:1
14
作者 李恩 向志军 +1 位作者 郭高凤 张其劭 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第1期36-39,共4页
针对高损耗介质材料电磁参数的宽频带测试问题,提出了利用脊波导进行测试的新方法,建立了电磁参数测试系统,并采用TRL技术进行了系统校准。该方法仅用3个波段的脊波导即可覆盖2.0~18.0GHz宽频带范围内的电磁参数测试,具有频带宽、体积... 针对高损耗介质材料电磁参数的宽频带测试问题,提出了利用脊波导进行测试的新方法,建立了电磁参数测试系统,并采用TRL技术进行了系统校准。该方法仅用3个波段的脊波导即可覆盖2.0~18.0GHz宽频带范围内的电磁参数测试,具有频带宽、体积小、测试精确度高等优点。 展开更多
关键词 脊波导 高损耗介质材料 宽频带 电磁参数 微波测量
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扫频X波段波导双六端口ANA研究 被引量:2
15
作者 孙稼 曹江 张其劭 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第1期126-128,F003,共4页
本文提出一种新的扫频双六端口网络分析仪校准方法,具有校准时间短、对硬件要求低等优点。该实用系统可在X波段测试任一双口网络的散射参数;通过比对,给出了本系统的测试误差。
关键词 分析仪 六端口网络 ANA
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行波管“冷参数”测试技术的研究 被引量:1
16
作者 郭高凤 李恩 +1 位作者 张其劭 李宏福 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第1期22-25,共4页
针对因螺旋线行波管慢波线的结构特殊,导致其管内输能机构和切断衰减器的反射系数不易测量的问题,提出了利用多点法对输能机构和切断衰减器的反射系数进行测量的方法,并讨论了测试中所用探针反射系数的测试技术。该方法具有无损伤、测... 针对因螺旋线行波管慢波线的结构特殊,导致其管内输能机构和切断衰减器的反射系数不易测量的问题,提出了利用多点法对输能机构和切断衰减器的反射系数进行测量的方法,并讨论了测试中所用探针反射系数的测试技术。该方法具有无损伤、测试方便等优点,也可用于其他类似特殊结构反射系数的测量。 展开更多
关键词 行波管 冷参数 反射系数 微波测量
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镜像法高温超导薄膜表面电阻测试装置的改进 被引量:1
17
作者 曾成 罗正祥 +1 位作者 张其劭 羊恺 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第2期214-217,共4页
介绍了一种新的镜像法高温超导薄膜微波表面电阻测试装置,采用小孔对谐振腔内的电磁能量进行耦合,并通过一段6mm×3mm×8mm的填充氧化铍陶瓷介质的波导对电磁能量进行传输,通过在陶瓷块剖面焙银的方法实现磁耦合。与以往的镜像... 介绍了一种新的镜像法高温超导薄膜微波表面电阻测试装置,采用小孔对谐振腔内的电磁能量进行耦合,并通过一段6mm×3mm×8mm的填充氧化铍陶瓷介质的波导对电磁能量进行传输,通过在陶瓷块剖面焙银的方法实现磁耦合。与以往的镜像法测试装置相比,该装置易于仿真和制作。使用该装置对两片高温超导薄膜的微波表面电阻进行了测试,并对其中一片高温超导薄膜进行了6次微波表面电阻重复性测量,其表面电阻值RS(10GHz,77K)的平均值为0.38mΩ,标准偏差为0.009mΩ,相对偏差(COV)为2.4%。测试结果表明,该装置具有良好的稳定性。 展开更多
关键词 高稳定性 高温超导薄膜 陶瓷焙银 微波表面电阻值测试
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行波管夹持杆微波性能的自动测量 被引量:3
18
作者 唐宗熙 张其劭 《计量学报》 CSCD 北大核心 1997年第4期308-313,共6页
本文讨论了行波管夹持杆微波性能的测试技术。采用模式识别技术,实现了在不同频段用同一测试腔对夹持杆介电参数的测量。研制的自动机械传动装置,解决了行波管夹持杆复介电常数沿轴向分布的测试问题。除行波管夹持杆外,研制的测试仪... 本文讨论了行波管夹持杆微波性能的测试技术。采用模式识别技术,实现了在不同频段用同一测试腔对夹持杆介电参数的测量。研制的自动机械传动装置,解决了行波管夹持杆复介电常数沿轴向分布的测试问题。除行波管夹持杆外,研制的测试仪同样可用于其它类似杆状介质材料的测量。 展开更多
关键词 介质材料 微波特性 测量 微波行波管
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微波集成电路基片复介电常数快速宽频带测试技术 被引量:2
19
作者 唐宗熙 张其劭 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第5期81-86,共6页
本文提出了一种微波集成电路基片复介电常敛测试技术,其测试频率范围为1~20CHz,εJ的测试范围为2~25,tanδ的测试范围为3×10^(-4)~1×10^(-2),可以测试各种柔性和刚性的介质基片材料,则试ε′_r的不确定度优于±1%,ta... 本文提出了一种微波集成电路基片复介电常敛测试技术,其测试频率范围为1~20CHz,εJ的测试范围为2~25,tanδ的测试范围为3×10^(-4)~1×10^(-2),可以测试各种柔性和刚性的介质基片材料,则试ε′_r的不确定度优于±1%,tanδ的不确定度约为±10%。该测试技术实现了无损和自动化测量,测试电路简单,测试速度快,尤其适用于介质基片的批量和在线检测。 展开更多
关键词 微波集成电路 介电常数 频带 测试
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微波介质谐振器介电参数的测量 被引量:5
20
作者 唐宗熙 张其劭 《计量学报》 CSCD 1996年第4期305-309,共5页
本文讨论了微波介质谐振器介电参数测试技术。用研制的测试装置对多个介质样品进行了实测,结果表明,本文的分析与实际值是吻合的。该测试技术可对微波介质谐振器的复介电常数进行迅速、准确、可靠、宽频带、无损伤、自动化和批量检测。
关键词 微波介质谐振器 复介电常数测量
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