基于新型BIST的LUT测试方法研究

针对FPGA内部的LUT资源覆盖测试,提出一种新型BIST的测试方法。通过改进的LFSR实现了全地址的伪随机向量输入,利用构造的黄金模块电路与被测模块进行输出比较,实现对被测模块功能的快速测试,并在Vivado 2018.3中完成了仿真测试。通过ATE测试平台,加载设计的BIST测试向量,验证结果与仿真完全一致,仅2次配置即可实现LUT的100%覆盖率测试。此外,还构建了LUT故障注入模拟电路,人为控制被测模块的输入故障,通过新型BIST的测试方法有效诊断出被测模块功能异常,实现了准确识别。以上结果表明,该方法不仅降低了测试配置次数,而且能够准确识别LUT功能故障,适用于大规模量产测试。

PCBA板上元器件失效分析方法研究

针对印刷电路板组件上(PCBA)上元器件失效分析难度大、流程复杂和效率不高等问题,通过理论与案例相结合的方式,提出了一种PCBA板上元器件失效分析方法。按照“先非破坏性后破坏性、先外部后内部”的思路,通过元器件在板测试、拆机测试和开封分析等方法,提出了一种板上元器件失效分析流程,进一步提升了板上元器件失效分析的效率,为PCBA板上元器件产品更新迭代和高效率分析使用提供了参考。

基于V93000的千万门级SRAM型FPGA测试技术研究

随着集成电路技术和工艺的突飞猛进,FPGA器件正朝向高速、高密度、高带宽、低功耗的趋势发展。在设计和制造大规模SRAM型FPGA器件的同时,如何高效率、高覆盖率和低成本测试FPGA器件显得尤为重要。该文以Xilinx厂家的Kintex-7系列FPGA电路为研究对象,通过研究SRAM型FPGA测试方法,利用V93000自动测试系统实现对千万门级FPGA进行在线压缩配置,建立完备的测试开发流程,完成各项参数、功能测试,实现量产测试程序开发。为后续亿门级FPGA和其他大规模数字集成电路测试开发提供了新思路。

应用奥扎格雷钠与低分子肝素钙治疗急性脑梗死的临床研究

目的探讨奥扎格雷钠与低分子肝素钙治疗急性脑梗死的可行性。方法回顾分析笔者所在医院2006—2011年间经临床确诊急性脑梗死170例患者的临床资料。结果治疗组90例,基本治愈28例,显著进步46例,进步9例,无效7例,总有效率为92.2%;对照组80例,基本治愈24例,显著进步32例,进步7例,无效17例,总有效率为78.7%。治疗组疗效优于对照组,两组总有效率比较差异有统计学意义(P<0.05)。结论奥扎格雷钠与低分子肝素钙合用在作用机制上有叠加效应,临床治疗急性脑梗死有效、安全可靠、临床效果显著,值得临床推广使用。

急性脑梗死应用高渗复合盐降颅压的临床体会

目的探讨高渗复合盐治疗急性重症脑梗死降低颅内压的可行性。方法回顾分析笔者所在医院2006年6月至2012年6月收治60例脑梗死患者的临床资料。结果两组病例降颅压起效时间、作用时间、颅内压降低幅度比较P>0.05表示无显著性差异;而疗效比较,治疗组疗效优于对照组,两组总有效率比较P<0.05,有显著性差异。结论高渗复合盐治疗急性重症脑梗死降低颅内压显著,作用和缓,能改善平均动脉压及脑灌注压,降低脑神经细胞凋亡,可作为降低颅内压的一种方法,值得临床推广。