硅酸盐矿物中硅的Auger参数及其构型

本文以MgK_o的韧致辐射激发SiKLL,测定了20个分别代表岛状、链状、层状.架状4种构型的硅酸盐矿物中Si的Auger参数值;引用了环状硅酸盐矿物绿宝石的文献值,从22组数据中总结出硅酸盐矿物中Si的Auger参数值依岛状、环状、链状、层状、架状构型顺序递减的规律,并分析了原因,解释了例外情况。

俄歇参数法及其在硅酸盐材料研究中的应用

本文对Auger参数法及其在硅酸盐材料研究中的应用作了综合介绍。在VG ESCALAB MKII电子能谱仪上作了韧致辐射激发Si KLL的尝试。实验结果表明,普通配有Al/Mg双阳极的X射线光电子能谱仪可以获得SiKLL线;用Auger参数法可弥补XPS法在硅酸盐材料分析方面的不足,并为AP法在该材料领域中的应用指出了乐观的前景。

InGaAsP/InP异质结构材料组分、结构的准确测定与综合分析

采用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）对ＩｎＧａＡｓＰ／ＩｎＰ异质结构金属有机化学蒸发沉积（ＭＯＣＶＤ）外延晶片作了表面元素组分定性、定量和深度分布分析。将其组分定量数据代入带隙经验公式，发现带隙的计算与用光压谱（ＰＶＳ）实验值十分吻合；但是代入晶体常数经验计算公式计算得到的失配率与由Ｘ射线双晶衍射（ＤＣＤ）测定的失配率却有明显差别。抽检的两个外延晶片的ＸＰＳ元素分析和元素的深度分布分析，以对比的方式展示两者元素的组成、化学状态在其表面和沿着深度方向的变化及其差异，由此得到的有关片子质量的正确判断，有力地证明了ＸＰＳ是研究ＭＯＣＶＤ外延膜材料的得力工具。

扫描定点法在Si/Mo多层膜材料深度剖面分析中的应用

:用对比方式对分割成二等分的同一Si/Mo多层非晶薄膜样品分别作了RAS POINTMODE和POINTMODE的二次离子质谱深度剖面分析 ,前者是把RASMODE(扫描法 )与POINTMODE(定点法 )有效结合起来的一种方法 ,即所谓扫描 -定点法。实验证明 ,扫描 -定点法有效地克服了弹坑效应 (Cratereffects)。

XPS谱最大熵退卷积

阐述了ＸＰＳ谱线退卷积的必要性；传统傅里叶变换退卷积的弊病．，ＭＥＭ最大熵退卷积的原理、方法和优越性，重点说明了ＭＥＭ退卷积中如何选择最佳抽样点数的原理和方法；介绍了所研制的ＭＥＭ最大熵退卷积计算机软件系统在ＸＰＳ谱线退卷积中的应用情况，显示了这一方法在ＸＰＳ谱退卷积中所带来的突破性进展。

射频磁控溅射钛镀层与陶瓷界面的X射线光电子能谱研究

本文采用ＸＰＳ配合Ａｒ＋离子原位刻蚀研究了用射频磁控溅射法制备Ｔｉ／Ａｌ２Ｏ３（０００１），Ｔｉ／Ａｌ２Ｏ３（多晶）和Ｔｉ／ＭｇＯ（００１）体系的界面结构。结果表明，在Ｔｉ／Ａｌ２Ｏ３体系的界面处存在Ａｌ３＋的还原态和Ｔｉ的氧化态，且在刻蚀过程中，Ａｌ３＋的还原态出现在Ｔｉ的氧化态之前。用相同方法制备的Ｔｉ／ＭｇＯ界面没有产生类似的界面反应。

废料当作燃料

在过去的十多年里,把废料当作燃料用于水泥窑中在美国已经愈来愈多地作为一种废料处理的可行技术。满足设计一种进料系统以便处理各种各样废料,如液体、干燥固体、油性固体、泥浆和罐头盒等的工程任务,和新的技术已经得到发展和改进。 同使用一种新的燃料来生产水泥的技术操作问题一样,在现代环境意识社会里,废料处理已经愈来愈广为人知。当前,面临窑炉操作人员的争论焦点包括管理水平、市场竞争。

高硅低温熔融体中形成水泥熟料

波特兰水泥熟料烧制期间所发生的化学和物理过程是由CaO-SiO_2-Al_2O_3-Fe_2O_3(C-S—A—F)系统,以及三元和二元体系的相图所确定的,但是,这种组成图所描绘的都是体系的平衡状态,而大家都知道,熟料的烧成过程是一个非平衡过程,鉴于这一事实,熟料的相组成可能与组成图所表征的较完全地冷却过程中的平衡状态极不相同。随冷却速率的大小不同,熟料的相组成很可能表现为玻璃态,或结晶态,或玻璃与晶态的混合态。

InGaAsP／InP异质结构材料组分及结构的XPS测定

采用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）对ＩｎＧａＡｓＰ／ＩｎＰ异质结构ＭＯＣＶＤ外延晶片作了表面薄层元素、组分定性、定量和深度分布分析。利用ＸＰＳ组分定量数据与带隙和组分量数据与晶体常数的经验公式计算带隙、晶格常数和失配率，并与光压谱（ＰＶＳ）测定的带隙值和Ｘ射线双晶衍射（ＤＣＤ）测定的失配率作了比较，比较结果是满意的。实验和分析表明，在研究ＭＯＣＶＤ外延膜材料表面组分和表面点阵结构方面。

Schiff碱类芳香性金属配合物的合成及XPS研究

用乙二胺（或丙二胺）缩乙酰丙酮Ｓｃｈｉｆｆ碱三齿配体与咪唑（或苯并咪唑）及金属离子Ｍ（Ⅱ）配位，合成了１２种Ｓｃｈｉｆｆ碱类类芳香金属配合物．对这类配合物的Ｘ射线光电子能谱研究结果表明，配位后，金属离子的２ｐ电子结合能降低，配位Ｎ原子的１ｓ电子结合能增大；这类配合物分子中的电荷转移行径是以Ｌ→Ｍ为主，其配位键以σ键为主．

回收玻璃自动抽样检验法

回收的废旧玻璃含有不少外来物质的污染,例如石头、塑料、废纸和金属。为了保证回收玻璃的质量,所含的这些污染物质在玻璃熔化前就要清除。回收来的材料先在一个特定的车间清洗,并在那里被碾压成大小合适的碎片,绝大部分的污染物质都在这里清除干净。 Dalmijn和van Houwelingen曾论述了各种回收玻璃的处理操作方法。一批经清洗过的回收玻璃在送熔化之前,要取样分析以确定一些至关重要的污染物质即陶瓷和金属的残留浓度是多少。

镀膜金刚石与基体的界面反应及其界面结合特征

运用化学镀方法在金刚石表面镀覆了三种含强碳化物生成元素（Ｗ、Ｍｏ或Ｚｒ）的Ｂ－Ｎｉ合金镀层。将镀膜金刚石、未镀膜金刚石与基体合金粉末混合热压烧结后，用ＳＥＭ、ＸＰＳ、ＸＲＤ分析了金刚石与基体之间的界面反应及其结合特征。结果表明，实现镀膜金刚石与基体合金的强力结合是合金镀层阻止金刚石表层Ｃ石墨化及形成中间碳化物层的共同结果。

环氧树脂/玻璃纤维复合界面的电子能谱化学分析

采用化学分析用电子能谱技术(ESCA)分别对机械剥离后的玻璃纤维布和短切玻璃纤维增强环氧树脂试样的玻璃纤维(布)面作了对比分析,发现树脂残留物表面上有富裕的环氧基,证明剥离不是发生在树脂/玻璃纤维(布)粘结界面上,而是发生在粘结界面附近的树脂层里;环氧树脂/玻璃纤维布界面比环氧树脂/短切玻璃纤维界面有更强的界面增强效应.

Cr,Fe,Cu/Al_2O_3界面化学结构的光电子能谱

应用X－射线光电子能谱，通过离子刻蚀，原位研究第四周期过渡金属与氧化铝所形成界而的化学状态．结果表明，Cr、Fe在界面处有不同程度的氧化，氧化程度Cr＞Fe，而Cu则无明显氧化．化学成份的定量分析表明，界面过渡层的厚度与界而化学反应强弱直接相关．

铁电（Pb_（0．925）La_（0．075））（Zr_（0．65）Ti_（0

本文对射频磁控溅射制备的（Ｐｂ＿（０．９２５）Ｌａ＿（０．０７５）－（Ｚｒ＿（０．６５）Ｔｉ＿（０．３５））＿（０．９８１）Ｏ＿３薄膜作了ＸＰＳ全扫描和窄扫描能谱分析。结果表明，薄膜的表面缺Ｐｂ是形成ＴＺＯ相的主要原因；随着退火温度的升高，薄膜中钙钛矿相的形成导致各元素的结合能发生位移。

复合捕收剂协同作用机理研究

采用苯乙烯膦酸与脂肪醇组成的复合捕收剂浮选金红石矿取得了较好效果，通过改进的Ｈａｌｌｉｍｏｎｄ管浮选试验、吸附量测定试验、捕收剂溶液表面张力和金红石表面接触角的测量以及ｘ射线光电子能谱测试（ＸＰＳ），详细研究了复合捕收剂的协同作用机理。试验结果表明：苯乙烯膦酸在金红石表面发生了化学吸附，脂肪醉与苯乙烯膦酸相互联结，其疏水基指向水相，从而增强了金红石表面的疏水性，提高了浮选效果。

金属(Ti,Ni)/(0001)Al_2O_3界面电子结构的光电子能谱研究

采用离子减薄结合X射线光电子能谱方法原位对金属—陶瓷界面的电子结构进行研究,其结果表明在界面处,对Ti/Al_2O_3体系,有氧化态的Ti,同时发现部分的Al^3+被还原;对Ni/Al_2O_3体系,在经退火处理后,界面处Ni有多种结合态存在.本文结果与理论分析相一致,对其它的实验结果给予了较好的解析.

用WPS制木材粘合剂的研究

废聚苯乙烯（ＷＰＳ）泡沫经熔融消泡、切粒、磺化、中和制得的聚苯乙烯（ＰＳ）磺酸盐，再配制成木材粘合剂，剪切强度高达１０．７５ＭＰａ。

Sol－gel生长KTa_（1－x）Nb_xO_3电光薄膜的成分和结构

采用ＸＰＳ方法研究了ｓｏｌ－ｇｅｌ工艺制备的ＫＴＮ（ｘ＝０．３５）薄膜的成分和结构．结果表明，除了表面被碳污染外，薄膜中无残余的碳和其他杂质．其成分与原料的化学计量比相近，且沿深度均匀分布．各元素的化学状态证实薄膜系钙钛矿型ＫＴＮ结构．Ａｒ＋溅射后的ＸＰＳ谱反映Ｋ严重偏低，Ｔａ和Ｎｂ的化学状态改变，是Ａｒ＋轰击引起Ｋ择优溅射及化合物分解所致．