XRF基本参数法测量和计算电子材料的组成

本文主要探讨用ＸＲＦ基本参数法测定电子陶瓷材料的成分含量，计算所需的基本参数都通过数学计算处理，用Ｃ语言设计编成测试软件。该法也适用于定量分析合金材料成分，稳定性和重现性好，高含量时的测试误差小于３％。

质量衰减系数的计算与应用

质量衰砬系数μｍ是Ｘ射线理论强度计算中一项必需而重要的基本参数。它包括元素本身、元素间和元素对某波长的质量吸收。本文选用四种拟合式，用Ｃ语言编制成程序；任选波长计算与实验值进行比较，确定其精确度，提供给ＦＰ法计算初级和次级激发理论强度。

用XRF基本参数法定量计算多层薄膜的厚度

针对多层薄膜材料，用ＸＲＦ基本参数（ＦＰ）法定量分析计算多层薄膜试样的厚度。除了考虑直接受人射束激发产生初级荧光外，还考虑试样中其它元素初级荧光辐射而引起的层间和层内二次荧光。以计算三层膜荧光强度为例，提出各种不同情况下计算初级和次级荧光强度的表达式。讨论二次荧光相对于，总强度的贡献。计算方法也能很好地用在大于三层膜及块样的Ｘ荧光强度计算。

XRF法定量分析合金薄膜材料的厚度及组成

本文采用ＸＲＦ分析技术，用Ｃ语言设计运算软件，能无损、快速和精确地同时检测合金薄膜材料的质量厚度及组成含量，并可计算合金膜的体积密度和线性厚度，检测结果的相对误差在３％左右。

Al／Si_3N_4／TbFeCo／Si_3N_4磁光盘厚度定量计算方法

研究用ＸＲＦ基本参数法计算磁光盘的厚度和组成，铝层厚度用ＡＩＫα线计算，两层氨化硅厚度都采用ＳｔＫα线计算确定，磁光记录层采用ＦｅＫα，ＣｏＫα和ＴｂＬα线来确定其厚度及组成。列出了膜厚方程，可由计算机很快解出，其结果与标准符合很好。