微机监控光学膜厚方法的实验研究

作者设计和制作了膜厚自动监控系统。利用该系统能准确控制λ/4膜层的极值厚度,其误差<3％。该方法快速、有效、成本低廉,易于推广应用。实验结果表明,研究方法是成功的。

棱镜偏振分光镜

本文简单介绍了用于光纤传感技术中的棱镜偏振分光膜的设计与制作,并给出了测试结果。

模式系数传感器研究

本文对Zernike模式系数传感器的非线性、实验验证进行了研究，并对此种传感器进行了计算机辅助设计，求出了不同探测器象元数及几何构形组成的波前传感器对应于Zernike项的响应矩阵的条件数，由条件数出现阶跃变化的Zernike项的序数，得出传感器可稳定地探测和重构波前的Zernike多项式最高项序数与探测器象元数及几何构形间的关系。

波带片的聚焦特性

我们在研究中发现,文献[1]中所发表的关于菲涅尔波带片聚焦特性的结果,实际上是利用了夫朗和费近似而推导出的。本文指出,用这种方法推导出的结果,除了以瑞利准则定义的分解力外,都是不精确的,甚至是错误的。此外,本文还探讨了双相非光学波带片的聚焦特性。分析结果表明,在环数较少的情况下,对高分解力和低旁瓣的要求,双相波带片能提供正波带片或负波带片更好的折衷。

一种多用途结构光传感器

介绍了一种多用途结构光传感器，它具有结构简单、使用方便、抗干扰、非接触、对被测表面没严格要求等特点，特别适合于对移动物体和腐蚀性表面的快速、在线、非接触测量。

用平面全息衍射理论计算体全息光栅的衍射效率

将体全息光栅视为许多平面全息光栅的集合,利用平面全息衍射理论导出体全息光栅衍射的耦合波方程。

光学薄膜的研究

本文概述了当前薄膜光学领域里的一些研究工作,并就具体的研究方向,如:光学薄膜的离子束辅助淀积和离子束溅射、低能离子镀技术,光学薄膜的成核、生长和微结构的模型,薄膜特性的检测和微结构分析等作了论述。

国外光学薄膜的应用和真空镀膜工艺

本文概述了国外光学薄膜的典型应用和光学薄膜制造工艺的发展，着重阐述了国外的现代真空镀膜工艺。

诱导透射滤光片的研制

本文介绍了诱导透射滤光片的设计原理,给出了膜系设计和实验结果,并对有关工艺进行了讨论。

抗激光薄膜中空间电场分布的分析方法

本文提出一种新的计算抗激光膜中电场分布的综合性方法。该方法的一个突出特点是不要求计算膜系的反射率及膜层各界面的反射系数和透射系数,并且,应用该方法进行薄膜中电场分布的计算不但可以获得电场的平面分布状态,也可以获得薄膜中电场的三维空间分布状态。此方法在进行膜系中电场分布计算时具有简单性和通用性。

工程光学膜的偏振效应

本文对工程光学膜的偏振效应做了详细的讨论,并给出了减小工程光学膜偏振效应的简便方法。

双曲率面光线追迹公式及应用

本文提出了用牛顿迭代法计算光线与双曲率面的交点,并给出了具体的计算公式。文中还认为可以利用双曲率面来描述存在着局部变形的球面光学零件,为制定光学零件的公差提供了依据。

离化团束淀积光学薄膜实验装置的研制和性能实验

研制了离化团束淀积装置。目前的实验结果,使用离化团束淀积技术在玻璃冷基底上镀制的ZnS膜MgF_2膜的机械牢固性较电子束在同样条件下制备的ZnS膜和MgF_2膜较强。用反应性离化团束技术制备的ZnO膜具有优良的取向结构。通过控制参数可以控制ZnO膜的结晶结构。

反应性离化团束制备光学薄膜新技术

本文叙述了离化团束淀积光学薄膜的基本概念及特性,研制了离化团束淀积光学薄膜装置,开展了光学薄膜晶体结构与性能关系的研究。所研制的光学薄膜的牢固性相当好。基底不加温就可以得到ZnS、MgF_2的硬膜。反应性离化团束淀积的ZnO光学薄膜具有优良的织构,SiO_2光学薄膜呈现多晶结构。

制备软X光多层膜的转速控厚法

本文提出了一种新的监控软X光多层膜膜厚的方法——转速控厚法,利用这种方法镀制的设计周期厚度分别为8.4和10nm,周期数达50对和30对的W/C多层膜,经小角X光衍射测试,结果表明周期厚度随机误差在0.1nm左右。

不同能量的离子束辅助淀积的光学薄膜

本文以TiO_2薄膜为例,研究并分析了不同能量的离子束辅助淀积的薄膜的光学性能、激光破坏阈值及微结构。