一种智能数字集成电路测试仪

本文介绍一种采用单片微型计算机的智能数字集成电路测试仪的测试原理,系统硬件结构及软件设计.

数字集成电路测试系统

介绍了采用计算机来测试数字集成电路，提出了对已知和未知数字集成电路的测试方法，并给出了硬件和软件的实现框图。

集成电路最小全测试集矩阵算法的特点及程序实现

最小全测试集技术是对数字集成电路进行逻辑功能检测的方法之一。采用计算机编程实现的最小全测试集技术，涉及到特殊的矩阵算法，本文利用数据库语言的特殊构造形式以及强大的数据处理能力，较好地解决了矩阵变换、矩阵运算等程序算法问题；并用ＦＯＸＢＡＳＥ加以实现，使得最小全测试集可以由计算机自动建立，测试参数可以自动产生，达到了使用其它高级语言不易达到的效果。

具有逻辑仿真功能的数字电路测试语言

本文论述了数字电路测试系统中的测试语言的设计以及逻辑功能仿真的实现。

在线测试技术的原理及软硬件结构

讨论了数字集成电路的在线测试原理及硬件结构。

面向同步时序电路的电路并行测试生成算法

面对VLSI设计规模日益增大的挑战 ,除了电路并行以外 ,其它已有的基本并行策略都无法从根本上解决测试生成的复杂性问题 .然而 ,已有的电路并行测试生成算法并未取得理想的结果 ,尤其对时序电路 .因此 ,如何划分电路 ,成为电路并行算法的设计基础和成功的关键 .面向逻辑级描述的同步时序电路 ,以触发器为核的电路划分算法BWFSF将电路划分为大功能块 .对Benchmark - 89电路的实验结果表明 ,基于G -F二值算法和BWFSF算法的电路并行测试生成算法在有效减少存储空间消耗的同时 ,还能够获得稳定的加速比 .

时滞测试能量函数的局限性分析和改进模型

针对时滞测试能量函数 ,分析了它在无冒险强健测试矢量生成时存在局限性和表达式较复杂的不足 .在此基础上建立了无冒险条件下的时滞测试能量函数 。

单片机实现的数字集成电路功能测试系统

在对大量ＴＴＬ、ＣＭＯＳ集成电路统计、分析和编码的基础上，利用功能验证测试算法建立ＩＣ测试数据库。用单片机完成测试的软、硬件设计。

通信数字ASIC的测试

本文追述了通信数字电路测试的一些主要技术，介绍了通信数字ＡＳＩＣ测试方法在国际上的最新进展，展望了它的发展方向。

CMOS数字电路的开路故障可测性设计技术

随着器件尺寸的减小和集成度的提高，CMOS技术将成为数字VLSI电路的主要技术。但是，由于CMOS电路本身结构的一些特点，使电路中管子的开路故障不能用现有的测试程序产生可靠的测试码。因此，出现了许多CMOS电路的开路故障可测性设计方案。本文首先说明了CMOS电路的特．或以及通过例子测试CMOS电路开路故障所存在的问题，然后列举了其它几种设计方案，指出了它们存在的缺点，最后提出了比它们更优越、应用范围更广的设计方案。

基于优化权集的数字集成电路随机测试

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过将完备测试集分成若干子集 ,由每一子集计算产生子集中测试矢量的被测电路各主输入端取“1”值的概率组合即所谓的权集。通过减小测试子集生成概率的方差可以减少低生成概率的测试矢量数 ,进而减小在高故障覆盖率下的测试长度 。

以单片机8031为核心的TTL集成电路逻辑测试器

1测试原理 测试器的硬件连接如图1所示,本文以14脚芯片为例,若被测芯片为16脚或者18脚,只须适当改变接线即可.

常用数字集成电路的在系统自动检测

介绍了电子设备工作中常用数字集成电路的故障自检。根据各类器件的逻辑特点及其在应用电路中的作用，利用数字电路的冗余功能，分别研究了其在系统中工作的同时进行故障自检的方法。该方法故障覆盖率不高，但简单实用，易于实现。文中还研究了同类器件在电子系统中的联动检测方法，进一步简化自检电路。

基于泛序测试法的逻辑门故障诊断树的自动生成

在逻辑门电路测试技术中，可以在泛序测试法基础上建立故障诊断树，用于完成单电路故障的检测与定位诊断。文章采用最小完全检测测试集和故障表Ｆ＊矩阵将故障诊断树为矩阵集合，进而利用关系数据库加以描述，并采用相应的算法自动生成。该研究旨在探索一种用数据库技术自动生成故障诊断树的方法，以达到测试参数自动获取这一目的。

几种常用数字集成电路的快速检测法

介绍了常用数字集成电路检验器的制作原理和方法。

基于HPVEE的数字电路器件仿真及其在测试上的应用

介绍了使用HPVEE (图形编程语言 )进行通用数字集成电路 (包括组合电路和时序电路 )器件仿真的方法 ,给出了利用该仿真电路实现通用数字集成电路的在线测试与故障诊断的具体实例。

集成电路交流参数测试方法研究

介绍了交流参数的测试原理及在 DIC-80 3 2测试系统上交流参数的测试技术和实现方法。它以具体电路为例 ,对采用不同的测试方法得出的测试结果进行对照比较。

智能型数字集成电路测试仪

随着微电子技术的飞速发展和中、大规模集成芯片的应用,数字电子技术实验教学内容迅速更新与扩大,数字集成电路芯片的检测也日益需要,为配合实验教学工作,我们研制了智能型集成电路测试仪。

用于复杂数字系统测试的整体功能模型

运用《系统论》的思想，提出数字系统功能和复杂数字系统整体功能的概念，由此引伸出功能测试的新方法．这种方法可归结为通过复杂数字系统的分析，包括拓扑分析和逻辑分析，建立整体功能模型，据此找出验证测试所需的系统输入向量序列．这些工作可采用计算机辅助手段，特别是运用《算法图论》和逻辑综合工具而完成的．用所提出的方法可以在复杂数字系统各种不同抽象级的逻辑图中提取整体功能模型，因此具有广泛的适用性．