开口波导法无损测量微波集成电路基片复介电常数

提出一种测量微波集成电路基片复介电常数的新方法。通过测量贴于开口矩形波导外的介质基片的反射系数，可计算得基片的介电常数和损耗角。经过理论分析，给出求解复介电常数的计算公式和优化算法。对一些基片的复介电常数进行了实际测量，结果表明该测量方法运算量小，精度高，且具有设备简单，不需对样品进行特殊加工或破坏样品等优点。

微波集成电路基片复介电常数快速宽频带测试技术

本文提出了一种微波集成电路基片复介电常敛测试技术,其测试频率范围为1～20CHz,εJ的测试范围为2～25,tanδ的测试范围为3×10^(-4)～1×10^(-2),可以测试各种柔性和刚性的介质基片材料,则试ε′_r的不确定度优于±1％,tanδ的不确定度约为±10％。该测试技术实现了无损和自动化测量,测试电路简单,测试速度快,尤其适用于介质基片的批量和在线检测。

用ps光电导采样技术测量微波单片集成电路的S参数

本文报道用光电导采样技术测量微波单片集成电路的Ｓ参数的基本原理．首次用光电导采样技术测量了宽带（１８～３６ＧＨｚ）低噪声三级放大器的Ｓ参数，与用网络分析仪测量的结果进行了比较，一致性很好．而光电导采样技术的测量带宽已达到１００ＧＨｚ．

微带介质板介质损耗特性的测量

本文着重介绍了如何使用微波矢量网络分析仪测量微带介质基片的介质氕 原理，方法和测量线路。最后还给出了实测的损耗参数。本文所给的测量方法正确，精度高，能够满足工程设计的需要，也可以用于介质板生产厂家的产品特性参数测量和检验。

气象因素对大容量数字微波电路传播性能的影响

本文对三段大容量数字微波接力段传播测试数据的测试结果和气象因素进行了比较和分析，认为气象因素对电路传输的影响是一个很重要的因素。文中给出了在一般现场测试和实验室中难以得到的多凹口曲线。可供科研工作者和电路设计工作者参考。

MMIC微波S参数测试

阐述了单片微波集成电路测试系统的工作原理、测试方法和自动测试程序。

微波电路的计算机辅助调试

本文依据作者微波电路调试方面的研究结果和实际经验,介绍计算机辅助调试微波电路的一些方法.

一种无损测量毛边眼镜片折射率的简单方法

多年来,本栏目在国家眼镜玻搪质检中心的鼎力支持下,为业界朋友掌握最新眼镜质量标准法规打开了一扇窗口。同时,随着各地方职能部门对质检工作的不断重视和加强,北京、天津、广州、温州、南京等地方质量技术监督所也主动向本栏目投稿,为推动我国眼镜产品质量更上一层楼而不遗余力。本期栏目中,编者为大家选取了一篇具有较强实用参考价值的文章。北京市产品质量监督检验所工作人员刘良合提出一种用矢高表无损测量眼镜片折射率的新方法,并对测量原理作出详细的阐述。同时,他对此种方法的准确度也进行了比较验证试验,通过试验结果显示,这种方法简易可行,有很好的应用价值,也希望能为更多的业界人士提供参考。

宽带微波检波器的研制

宽频带晶体检波器采用混合集成工艺，用热压键合的方法把低势垒肖特基检波二极管的管芯焊接在微带电路上。整个电路制作在一个４ｍｍ×１２ｍｍ×０．３ｍｍ的三氧化二铝陶瓷基片上，并安装在一个圆柱型８．５ｍｍ×３５ｍｍ金属盒体内。射频联接应用ＳＭＡ接头，配有ＳＭＡ—Ｎ型转换接头。为了获得平坦的频率响应和低的输入驻波比，采用了一个Ｒ—Ｌ并联支路和“Ｔ”型匹配网络，从而使检波器在０．０１～１８ＧＨＺ频带内驻波比＜１．５，频率响应起伏＜±０．５ｄＢ，采用的Ｒ—Ｌ并联支路和“Ｔ”型网络亦可用于其它微波电路，以改善微波部件的性能。

微波集成电路基片复介电常数的无损测量

提出了一种测量微波集成电路基片复介电常数的新方法．通过测量贴于开口矩形波导外的介质基片的等效导纳值，可计算得到基片的介电常数和损耗角．经过理论分析，给出了修正的导纳计算公式和求解复介电常数的优化算法．对一些材料的复介电常数进行了实际测量，结果表明该测量方法运算量小，精度高，且具有设备简单，不需对样品进行特殊加工或破坏样品等优点．