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显像管残余气体分析及离子轰击研究
1
作者
张晓兵
蒋峻
+1 位作者
毛福明
雷威
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第z1期115-117,共3页
显像管中的残余气体是影响显像管质量和寿命的重要因素,通过四极质谱残余气体分析系统,可以对显像管中的残余气体进行有效的分析,对带消气剂的真空器件,本底要考虑扣除消气剂作用的影响.在此基础上可以进行残余气体离子轰击的计算机模...
显像管中的残余气体是影响显像管质量和寿命的重要因素,通过四极质谱残余气体分析系统,可以对显像管中的残余气体进行有效的分析,对带消气剂的真空器件,本底要考虑扣除消气剂作用的影响.在此基础上可以进行残余气体离子轰击的计算机模拟研究,并对显像管电子枪进行优化设计.
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关键词
残余气体
质谱分析
离子轰击
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职称材料
题名
显像管残余气体分析及离子轰击研究
1
作者
张晓兵
蒋峻
毛福明
雷威
机构
东南大学电子工程系
出处
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第z1期115-117,共3页
基金
国家973计划(No.2003CB314706和No.2003CB314702)
新世纪人才计划(NCET-04-0473)
文摘
显像管中的残余气体是影响显像管质量和寿命的重要因素,通过四极质谱残余气体分析系统,可以对显像管中的残余气体进行有效的分析,对带消气剂的真空器件,本底要考虑扣除消气剂作用的影响.在此基础上可以进行残余气体离子轰击的计算机模拟研究,并对显像管电子枪进行优化设计.
关键词
残余气体
质谱分析
离子轰击
分类号
TQ141.3 [化学工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
显像管残余气体分析及离子轰击研究
张晓兵
蒋峻
毛福明
雷威
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
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