基于注意力机制和LSTM-LightGBM的特高压直流输电线路可听噪声无效数据清洗方法

特高压直流输电线路可听噪声试验过程中,外界环境的突发性干扰会使实验数据中掺杂较多的无效数据,严重影响后续的数据分析。提出了一种基于注意力机制(attention mechanism,AM)和长短时记忆网络-轻量级梯度提升机(long short-term memory network-light gradient boosting machine,LSTM-LightGBM)的输电线路可听噪声无效数据清洗方法。首先,针对可听噪声数据的非线性、高维时序冗余特征等特点,以LSTM神经网络为基础进行特征提取;同时,引入特征维度注意力机制,自适应地分配权重来刻画关键特征信息的表达能力;进而,利用LightGBM对提取到的特征进行分类,检测出无效数据;然后,以某特高压直流输电线路实测可听噪声数据试验分析,结果表明该方法的检测精准率为95.55%,召回率为97.73%,F1分数为0.9663,均优于对比实验模型;最后,将无效数据删除并使用均值插补法填补,无效数据清洗后数据的50%值和95%值基本不变,仅降低无效数据的最大值和5%值。该算法对提高输电线路可听噪声数据的可靠性具有一定参考意义。

基于Tracepro的微棱镜反光膜正入射无效光分析

为了提高反光膜的逆反射率,对正入射时微棱镜反光膜的无效光特性进行了研究.利用几何光学原理对单个角锥的无效光出射方式进行了分析,得到了单个角锥无效光的出射特性.在单个角锥的基础上,进一步分析了角锥阵列中无效光的传播特性,发现部分无效光能完成逆反射.分析了无效光在角锥阵列中的反射机理及无效光反射率随角锥阵列底厚变化的规律,利用Tracepro软件进行了仿真验证,得到单一无效区逆反射率变化曲线及小阵列逆反射率变化曲线.仿真结果证明了分析的正确性及底厚对无效光的重要影响,并给出了合理设计角锥棱镜阵列形状及底厚的建议,为提高微棱镜逆反射率、合理设计角锥棱镜底厚提供了理论依据.

GaN基白光LED可靠性研究与失效分析

针对LED样品检测中的样品短路失效、LED光源黑化、光通量下降和芯片表面通孔异常现象,采用金相切片、机械微操、静电测试等方式结合扫描电镜和能谱仪(EDS)等表征手段对失效机制进行了分析,揭示了LED失效原因。包括镀层银离子与杂质硫离子导致光源黑化;芯片抗静电电压低,部分样品发生静电击穿;失效芯片通孔下面的Ni-Sn共晶层存在大量空洞,使得复杂结构的芯片通孔应力不均,样品工作时芯片表面开裂破碎,从而导致PN结短路失效;封装胶中残存的杂质离子腐蚀芯片负电极导致电极脱落而出现漏电、光衰和死灯等现象。

基于面结构光的无效相位区域补偿算法

针对面结构光三维测量中投影盲区导致出现无效相位区域的问题,提出了一种无效相位区域补偿方法.根据光栅投影法重建原理可知,无效区域的主值相位为参考平面对应的主值相位值.首先,由投影仪投射一幅具有均匀光强的白光图到被测钢板表面,使用CCD相机采集钢板表面背景图;其次,对其进行二值化,得到无效相位区域位置;然后,通过背景相位图替换,得到无效相位的真实相位,完成无效相位区域的补偿;最后,对一块带孔洞的钢板进行三维重建,对比分析无效相位区域补偿前后的孔洞直径测量结果.实验证明,无效相位区域补偿后孔洞测量精度为0.1 mm,补偿前孔洞测量精度结果为0.3 mm,因此该方法改善了阴影盲区导致的孔洞直径测量误差较大的缺点,在一定程度上提高了孔洞直径的测量精度.

户外全彩LED显示屏光污染防治及技术解决方案探讨

本论文对LED户外显示屏的光污染问题进行了探讨，对LED显示屏的主要光污染，包括光入侵、眩光、显示屏亮度、夜空辉光等光污染，参照国际照明委员会（CIE）与上海市的限制标准，提出了LED显示屏的光污染的参考限制参数。针对显示屏的光污染，提出了器件级的解决方案。在有效可视范围内，光能量集中分布，有利于降低显示屏功耗，在无效可视范围内，尽量降低光能量分布，减少光污染。经过实测数据的对比，这个器件级的降低光污染解决方案，能有效降低无效可视亮度范围内10%～50%的光污染。

有机发光器件的一种失效机制

制备了结构为铟锡氧化物(ITO)/NPB/插入层/Alq/LiF/Al的有机电致发光(EL)器件,测量了器件发光随电压变化的光谱和电压-电流-亮度特性,观察到这种结构器件在电压升高的过程中总是在某电压附近有一个光谱、亮度和效率等性能突变的不可逆过程,这是由于在发光区域附近的纳米薄层材料将导致电荷在该区域的局部聚集,并引起该薄层材料局部破坏。这一失效的机制表明,尽管在器件制备过程中可能需要在器件中使用几纳米厚的有机层,但是应当考虑尽量避免,以使器件内载流子分布合理,避免此类失效过程发生。