一种改进一维投影模型运动参数估计算法

一维投影模型运动参数估计是图像序列运动分析的关键技术,本文针对经典最小平方估计算法计算量大的缺点,提出了一种改进的一维投影模型运动参数估计算法。该方法通过对非线性最小平方误差函数的线性化,重新定义了目标函数,采用Newton最优化算法求解参数矢量,得到只与已知特征点对应关系有关的海森矩阵后,利用线性算法求解图像序列相邻两帧间一维投影模型的运动参数。实验结果表明,该算法在保证精确度的条件下,提高了计算效率。

基于一维投影的快速包容性检测算法

提出了一维投影判别法和基于右手定则的空间多边形的包容性检测算法 ,有效减少了传统光线跟踪包容性检测算法的计算量。本算法将空间多边形和线面交点投影至一维坐标轴 ,以少量逻辑比较即可排除大多数无关面片 ,然后利用基于右手定则的包容性检测算法进行包容性判定。理论计算和模型中的应用表明 ,本算法与已有算法相比效率显著提高。

一维投影α模型的子波关联

对二维相空间的两种典型的自仿射分形作了一维投影，对所得到的一维投影ａ模型，从特征函数着手，研究了模型的关联密度和子波关联矩，找出了分割数Λ＝２，３，４的子波基函数和关联矩，得到了二阶子波关联矩解除子波幅之间的关联耦合的结论，并对这一结论给出了模型无关的普遍证明。

低维逐次投影寻踪模型及其应用

文章建立了一维逐次投影寻踪(SPPC)模型的目标函数和约束条件,提出采用矢量合成法构建低维逐次PPC(LDSPPC)模型,确定各SPPC模型的权重分配原则,推导出LDSPPC模型最佳投影向量、样本投影值等计算公式。针对六个供应商9个评价指标的样本数据,建立了LDSPPC模型,求得各个评价指标的客观权重和六个供应商的得分。结果表明:市场占有率对供应商优劣影响最大,其次是产品合格率和净资产收益率;六个供应商中,供应商S4最优,S1最劣。LDSPPC模型与人类进行综合评价的思维方式基本一致,能从样本数据中挖掘出更多的信息,具有较好的客观性和合理性,是一种供应商选择与评估的新方法。

一种新的圆迹SAR快速后向投影算法

后向投影算法能够解决圆迹合成孔径雷达成像中的距离向和方位向耦合问题,是一种精确的时域成像算法,但较大的计算量阻碍了其在工程实际中的应用。基于后向投影算法的成像原理,提出了一种快速后向投影成像算法。快速后向投影算法将目标区域的成像网格点投影在目标区域中心与雷达位置的连线所表示的一维距离上,其后将一维距离对应到各方位向经距离压缩后的数据上,并在各个方位向相干叠加,得到目标区域成像。通过定量分析和对比快速后向投影算法和传统后向投影算法的计算量,快速后向投影算法的运算速度得到大幅度提高。通过仿真分析,验证了该算法的有效性。

基于α分布的单矢量传感器多目标方位估计

研究α稳定分布条件下单矢量传感器的多目标方位估计问题。介绍多维α稳定分布特征函数的谱测度表示及谱测度估计方法,在此基础上推导出单矢量传感器输出速度正交分量满足特征函数谱测度表示方程,建立谱测度与目标方位间的对应关系,用特征函数法或一维投影法估计谱测度和目标源方位及数量。仿真结果表明,在α稳定分布假设下,基于谱测度的多目标方位估计法是合理有效的。

基于高斯密度图的自然场景中文文字检测

自然场景下中文文字检测任务字符面积较小且文字背景复杂,为此,该文提出了一种基于高斯密度图作为分割区域标签的文字检测改进方法。将文本区域标注从矩形框改变为高斯分布区域标签,在特征融合部分引入了交叉通道融合注意力机制,以提高网络的收敛性能,提出像素值一维投影法解决了文字密集区域输出的高斯密度图在不同标签区域出现重叠的问题。经过实验验证,该文方法对中文文字检测有较好的结果,证明了该方法的有效性。

Uniformity Pattern of Asymmetric Fractional Factorials

The objective of this paper is to discuss the issue of the projection uniformity of asymmetric fractional factorials.On the basis of Lee discrepancy,the authors define the projection Lee discrepancy to measure the uniformity for low-dimensional projection designs.Moreover,the concepts of uniformity pattern and minimum projection uniformity criterion are proposed,which can be used to assess and compare two and three mixed levels factorials.Statistical justification of uniformity pattern is also investigated.