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高空间分辨率元素分布成像在调制结构中的应用
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作者 段晓峰 彭练矛 《电子显微学报》 CAS CSCD 1998年第5期521-522,共2页
近年来兴起的能量过滤电子显微学是电子显微学中的一个非常突出和活跃的领域。元素分布成像则是能量过滤电子显微学的一个重要应用,它利用对应于某一特定元素内壳层电离能的非弹性散射电子成像,可以在较短的时间内和较大的面积内给出... 近年来兴起的能量过滤电子显微学是电子显微学中的一个非常突出和活跃的领域。元素分布成像则是能量过滤电子显微学的一个重要应用,它利用对应于某一特定元素内壳层电离能的非弹性散射电子成像,可以在较短的时间内和较大的面积内给出具有高空间分辨率的二维元素分布图。... 展开更多
关键词 合金结构 HREM 元素分布成像 无公度调制结构
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基于可移动中子源的瞬发γ活化成像研究进展
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作者 程璨 赵冬 +4 位作者 梁旭文 杨晓艳 贾文宝 夏勋荣 顾加雨 《中国无机分析化学》 CAS 北大核心 2024年第6期749-757,共9页
瞬发γ活化成像技术基于瞬发γ射线中子活化分析,结合准直测量或者伴随粒子测量手段,以实现对样品内部中元素位置分布的测量。当前大多数相关研究都是基于大型中子源开展的,这限制了该技术的应用场景,可移动小型化中子源是该技术现场应... 瞬发γ活化成像技术基于瞬发γ射线中子活化分析,结合准直测量或者伴随粒子测量手段,以实现对样品内部中元素位置分布的测量。当前大多数相关研究都是基于大型中子源开展的,这限制了该技术的应用场景,可移动小型化中子源是该技术现场应用的必然要求。基于可移动中子源的瞬发伽马活化成像技术按照准直方式可分为基于单孔准直、编码孔准直及伴随粒子测量三类,对其技术原理、研究进展及仍存在的问题进行介绍与讨论。目前的技术在空间分辨率上还需要进一步提升,未来将进一步结合图像处理算法提高成像质量并降低测量时间。 展开更多
关键词 可移动中子源 瞬发伽马射线 元素分布成像 位置分辨率
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基于广域X射线荧光扫描成像技术(MA-XRF)的文物科学分析 被引量:2
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作者 段佩权 李广华 +1 位作者 陈垚 曲亮 《文物保护与考古科学》 北大核心 2021年第1期81-87,共7页
本工作主要介绍了基于一种新型的X射线荧光分析技术——广域X射线荧光扫描成像技术(MA-XRF)的文物科学分析案例。对MA-XRF技术的发展历史做了简要的概述,结合不同类型文物的特点阐述了该方法的优势,并介绍了故宫博物院利用该方法对其文... 本工作主要介绍了基于一种新型的X射线荧光分析技术——广域X射线荧光扫描成像技术(MA-XRF)的文物科学分析案例。对MA-XRF技术的发展历史做了简要的概述,结合不同类型文物的特点阐述了该方法的优势,并介绍了故宫博物院利用该方法对其文物藏品完成的多个研究案例。该研究的目的及意义在于为该新型技术在国内文物保护领域内的研究提供适用的案例介绍,指明该技术的优势所在,为今后的进一步发展和应用提供参考。 展开更多
关键词 广域X射线荧光扫描成像技术 元素分布成像 文物保护
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X射线荧光光谱仪及其分析技术的发展 被引量:21
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作者 周国兴 赵恩好 +1 位作者 岳明新 曹丹红 《当代化工》 CAS 2013年第8期1169-1172,共4页
按照获得和分辨特征X射线荧光光谱的方式,X射线荧光光谱仪可以分为波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)两大类。依照这一分类,论述了X射线荧光光谱仪在设备装置和配套方法方面的新状况。X射线荧光光谱仪整... 按照获得和分辨特征X射线荧光光谱的方式,X射线荧光光谱仪可以分为波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)两大类。依照这一分类,论述了X射线荧光光谱仪在设备装置和配套方法方面的新状况。X射线荧光光谱仪整机现在向着小型化、智能化、多功能方面发展,仪器各部件也随着研究的深入而得到了更进一步地改进,在这一基础上,仪器可分析元素的含量范围得到了拓展,方法也得到了丰富。目前,X荧光光谱仪开发了微区面分布的元素成像分析方法、高级次谱线分析方法、薄膜分析方法等新的方法,对这些新方法作以介绍,同时也对基本参数法(FP法)的新近发展作了说明。 展开更多
关键词 波长色散X射线荧光光谱仪 能量色散X射线荧光光谱 微区面分布元素成像分析 高级次谱线分析方法 薄膜分析方法
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波长色散X射线荧光分析的新发展 被引量:3
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作者 安国玉 《现代科学仪器》 2006年第5期28-30,共3页
论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,在进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析范围;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难... 论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,在进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析范围;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展。本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况。同时本文引入对无标样分析的基本参数法(F P法)目前发展状况的介绍。 展开更多
关键词 波长色散X射线荧光分析 微区面分布元素成像分析 高级次谱线分析方法 薄膜分析 无标样分析的基本参数法
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