数字孪生在半导体测试设备中的实践

数字孪生作为智能制造关键技术在工厂极具实用价值。通过在半导体测试服务公司建立数字孪生系统,收集了探针台二十多万条报警数据。结果显示,超过90%的报警已通过数字孪生系统实现了远程控制解决。为探索报警处理的最佳方式,进一步优化数字孪生模型,并在模型中重现报警,通过模拟不同工况,与传统方式相比,人工操作数字孪生系统处理报警可使设备等待时间减少64%以上。若采用AI后台自行操作数字孪生系统,设备等待时间可继续降低78%。这表明人工对设备报警的反应时间是影响设备等待时间的关键因素,因此,深化使用数字孪生模型自动化处理报警可显著降低设备等待时间,提升设备综合利用率。

半导体测试调度研究

半导体测试是资金高度密集、涉及产品种类与设备种类繁多的半导体生产环节。半导体测试需要同时使用测试机、送料机台和使能器等资源。资源组合及其可加工的产品类型的对应关系错综复杂,大多数半导体测试调度问题是考虑多资源约束和作业换型时间的平行机调度问题。分别从问题和方法两个角度对半导体测试调度研究进行分析,归纳了附加资源充足的测试调度和附加资源受限的测试调度两大类问题,并对目前半导体测试调度的各类方法进行总结对比,分析了各类方法的特点。

半导体测试仪器故障诊断技术研究

对半导体测试仪器故障诊断方法学和故障定位实用方法进行了初步研究。故障诊断是模式分类和识别结合维修经验的一种重复过程。在简述常用的诊断方法和故障定位技术基础上,用实例探讨了在半导体测试仪器维护实践中运用诊断理论的技巧。

半导体测试GPIB接口的联合调试系统

复杂的半导体自动测试系统如果出现GPIB接口问题将影响测试生产的效率,本文开发的半导体自动测试GPIB接口的联合调试系统,可以分别与测试系统和测试机进行接口调试,以帮助工程师解决在实际测试生产中半导体自动测试系统的GPIB接口问题。

微机化DLTS-CV组合半导体测试系统

DLTS和CV测试相结合可以对半导体的表面、界面性能及深能级杂质进行定量研究.本文主要介绍DLTS测试方法及微机化DLTS-CV组合测试系统的软、硬件设计.

半导体测试系统优化

为了进一步提高半导体测试生产中设备利用率、按期交货率和较低的在制品水平,改进改进半导体测试系统性能,本文提出了不同工件混合生产与设备专用生产相结合的生产模式.并在现有的MODD调度方法基础上,加入了设备切换准备时间的影响.用双向选择的方法,进一步改善了调度方法,减少了设备切换次数和切换时间.通过在仿真模型中的试验,验证了优化方法的有效性和可行性.

虚拟仪器技术在半导体测试中的应用研究

随着半导体产业的飞速发展和半导体产品性能的不断提升,对相应的半导体测试方法提出了更高的要求,为了应对半导体产业飞速发展对半导体测试带来的挑战,本文介绍了半导体测试的特点以及国内半导体测试服务的不足,比较了虚拟仪器与传统仪器的差别,探究了虚拟仪器技术应用于半导体测试领域的关键技术,提出了一种将虚拟仪器技术的优势应用在半导体测试系统当中的测试方法 ,使得对半导体产品的测试速度更快、准确度更高。

泰瑞达:为客户提供高质量、低成本的测试解决方案——访泰瑞达半导体测试大中华区总经理 曾浩耕

泰瑞达作为全球最大的自动测试设备供应商,是汽车行业中互连系统和测试设备的领先供应商,其客户群覆盖了全球领先的半导体、电子产品、汽车和网络系统公司,是半导体测试中唯一能覆盖模拟、混合信号、存储器及VLSI器件测试所有领域的测试设备提供商，其测试产品包括半导体芯片如处理器、微控制器、客户特殊记忆、混合信号IC、及SOC。

节省半导体测试时间成本的新方法——并发测试

半导体测试时间直接影响到整个半导体测试的成本,文章提出了一种缩短半导体测试时间的新方法——并发测试。并发测试技术可以在保证测试覆盖率的前提下显著地缩减测试时间,提高半导体测试设备硬件资源的利用率。文章分析了实现并发测试需要的先决条件,阐述了应用并发测试方法的实现流程,并给出了应用并发测试方法节省测试时间的实例。

面向半导体测试行业的MES系统的设计与实现

当前,中国装备制造类企业已经进入微利时代,要想保持较好的利润,企业必须进行信息化改造,努力提高生产计划环节和生产执行环节的沟通力度,提高企业的整体生产效率。制造执行系统MES作为上层企业资源计划ERP和底层过程控制系统PCS的沟通纽带,是面向车间层的管理系统,对于提高企业的质量控制能力和生产效率具有很大的作用。本文以半导体测试行业为背景,开展了MES系统的设计和开发工作,对于提高半导体测试企业的控制能力和管理效率具有重大的意义。通过实践证明,本文设计的MES系统稳定可靠,达到了预期的设计目标。

基于数据挖掘技术的半导体测试管理系统的研究与设计

以笔者与无锡某电子企业共同参与测试项目的半导体良率测试管理系统为平台,研究数据挖掘技术中关联规则的Apriori算法。结合半导体领域知识,追踪制造过程中已发生问题的解决方式,将数据挖掘的方法与步骤进行大量资料筛选、推演与模式建构等过程,并协助工程人员处理问题,尽可能减少在庞大的资料中挖掘的难度,快速挖掘隐含的信息,找到与问题相关的关联信息,确保问题能在较短的时间内解决,防止产品损失扩大。

ADVANTEST领跑半导体测试设备市场

2011年7月4日ADVANTEST收购VERI-GY,半导体高端测试设备供应商有三足鼎立变两强,ADVANTEST成为全球首屈一指的半导体测试设备厂商。

基于最优化理论的半导体测试系统软件校准方法

通过对半导体测试系统构成及测量过程的分析,指出对其校准应采取软件的方法。基于最优化理论提出了校准方法并验证了方法的有效性。

安捷伦阐释"科技以人为本 市场以科技为先"——访安捷伦科技半导体测试事业部中国区总经理 李香伟

2004年是中国半导体产业最有成就的一年,中国半导体市场的迅猛发展已引起全球的关注。然而中国的半导体产业"热闹"之余,如何解决快速发展所带来的人才紧缺以及科技创新,保证产业在"热"而"有律"的环境中得到发展等问题,已成为半导体从业人员着重思考的问题。

半导体测试机本土供应商华峰测控科创板挂牌——访北京华峰测控技术股份有限公司总经理蔡琳女士

北京华峰测控技术股份有限公司是目前国内最大的模拟和混合信号半导体测试机供应商,2019年2月18日成功登陆科创板。今天,我有幸采访了贵司总经理蔡琳女士。思睿:蔡总,您好。首先恭喜华峰测控成功登陆科创板,能简单介绍一下公司及目前上市情况吗?蔡总:谢谢!我公司2019年的3月份开始科创板上市之路,2019年8月7日提交了上市申请材料,11月22日通过科创板上市委审议成为第99家科创板过会的公司,2020年1月14日证监会注册成功,2020年2月18日登陆科创板进行交易。

面向半导体测试的并行多机可视化动态调度框架

针对半导体测试车间生产调度的人工排程效率低下、突发事件响应慢和准时性要求满足难等问题,提出了并行多机可视化动态调度框架。首先,根据半导体测试车间的生产特点,提出并行多机调度模型并给出了加权拖期指数的性能目标;其次,结合实际生产环境的动态特点,提出了预反应式重调度策略,并结合滚动窗口方法,总结出四种突发事件的响应策略;再次,运用约束规划算法对调度问题进行求解,给出实际的求解步骤;最后,使用甘特图等工具提供人机协作接口,使得排程人员可以参与调度方案人工调整,并给出了可视化运行效果。运行效果表明,所提框架在提高人工排程效率,快速响应突发事件和容易满足准时性要求等方面有着良好的效果。

通过ECID技术实现半导体测试流程优化

本文介绍了如何通过程序有效地解读ECID文件,提取有用信息,并通过ECID数据解决半导体测试中无效复测问题的方法。

设备综合效率在半导体测试设备管理中的应用研究

集成电路制造的生产工艺对设备和环境要求极高。文章将设备综合效率(OEE)理论运用到集成电路测试设备管理中,通过对OEE各项指标的分析与改善,实现设备产能的提升。

精细化管理在半导体测试中的应用

半导体的测试是一项资金的密度非常高,而且涉及到的产品或者设备比较多的重要生产环节之一,半导体测试的时候需要用到很多的器材和资源,例如:测试机、使能器以及送料机台等。

吉时利推出针对高功率半导体测试优化设计的数字源表

2011年4月15日，吉时利仪器公司，日前推出2600A系列源表中的最新产品2651A型高功率源表（system source meter）仪器。2651A型专门为高功率电子的特性分析而优化设计，提供业内可用的最宽电流量程。该量程对于各种各样的研发、可靠性及生产测试应用至关重要，