能X射线辐射装置的设计与单色性研究

通过晶体布拉格衍射产生单能X射线,具备能量连续可调的优点,是X射线探测器标定的首选方案。为了建立0.5~30keV单能X射线辐射装置,开展了晶体单色器和光栅单色器的衍射研究,调节不同的布拉格角度时要求出射的单能X射线光束的位置保持不变,以准确地进行探测效率标定。建立的单能X射线标定装置由X射线机、衍射晶体、同步旋转装置构成,覆盖能量范围5~30keV。根据放射源对硅漂移探测器标定实验的结果得到其能量分辨与能量关系式,结合对单能X射线源测量结果计算出其单色性,根据实验条件推算了单能X射线源的能量展宽。计算结果显示,单能X射线源本身的单色性非常好,其能量展宽主要是由入射角度造成的。

T（d,n）^4He中子源出射中子能量的单色性与最佳出射角

从核反应的Ｑ方程出发，讨论了Ｔ（ｄ，ｎ）４Ｈｅ反应出射中子能量的单色性问题，给出了在Ｔ（ｄ。

光的非单色性对干涉仪测量相干长度的影响

本文指出,在定义光的相干长度时应对光场的谱线结构作明确的说明.用迈克尔逊干涉仪测量钠双线的波长差△λ和相干长度 L 时,采用公式 L =（λ02）/（△λ）是不对的,正确公式应为 L =（λ02）/（2△λ）。

光源的非单色性对干涉条纹可见度的影响

1 双光束干涉及干涉条纹可见度 双光束干涉是指两束光在空间相遇时，在相遇区域内形成稳定的强度强、弱分布的现象．设两列振动方向相同，频率相同的单色线偏振光：

光源的非单色性对干涉条纹可见度的影响

在光源非单色性模型——三角形模型下,求出了光强分布与光程差之间的关系,应用MATLAB软件模拟出了光强分布曲线,并对该模型下干涉条纹的可见度进行了分析。

关于“光源非单色性对干涉条纹的影响”的几个问题的探讨

光波波长连续分布与不连续分布对干涉条纹的影响不同,应区别分析;在杨氏双缝干涉实验中,由于光源的非单色性而引起的干涉条纹位移极小,肉眼不可分辨,因此以杨氏双缝干涉实验为例去谈光源的非单色性对干涉条纹的影响是不恰当的.

光源的非单色性对光电效应的影响

光电效应实验揭示了光的量子性，用光电效应法测普朗克常量是理工科大学普遍开设的实验内容，实验主要通过测定遏止电压及其相应的频率关系求得普朗克常量。

光源的非单色性对等倾干涉条纹可见度的影响

通过数值模拟的方法,分析了光源的非单色性对等倾干涉条纹可见度的影响,并将等倾干涉条纹可见度问题的研究范围由一个周期扩展到多个周期,进而对等倾干涉实验做更深入的研究与讨论,得到一套利用MATHCAD软件完成数值实验的方法。

光源单色性对液晶器件电光特性的影响

利用迷你光谱仪,获得0-11 V电压下液晶盒的透射光谱,从透射光谱分别得到宽带（半波全宽100 nm）和窄带（半波全宽10 nm）入射光下扭曲90°、扭曲120°向列相液晶盒以及平行向列相液晶盒的电光特性曲线.实验结果表明,入射光中心波长在530-730 nm范围内时,光源的单色性对扭曲向列相液晶盒的电光特性基本没有影响,但是会影响平行排列向列相液晶盒的透射率,而且影响随着入射光中心波长的增加逐渐减弱.

光源非单色性对干涉条纹可见度影响的微机模拟

在光学教学中如何应用微机辅助教学，是教学改革中的一个新课题．本文在这方面做了初步尝试．针对光源的时间相干性问题的理解，用微机模拟演示了光源非单色性对干涉条纹可见度影响的物理过程．

非单色性光源对杨氏干涉条纹可见度的影响

光源的单色性影响其相干性.任何实际的波列都有一定的谱线宽度,谱线宽度表示了光源单色性的好坏,直接影响了干涉条纹的可见度.对非单色性光源通过典型杨氏双缝干涉装置产生干涉条纹的理论进行分析和仿真,得出谱线宽度与干涉条纹的可见度的关系.结论与实验相吻合.其结果对于干涉法工程测量具有现实意义.

出射粒子的能量单色性与最佳出射角

本文从核反应Q方程出发,仔细讨论了出射粒子在不同出射角下的能量单色性问题,给出了最佳角存在的条件、范围和计算公式。以出射中子反应为例,给出了具体的计算,并对计算结果进行了分析和讨论。

薄膜干涉滤光片单色性的研究与应用

研究了薄膜干涉滤光片的单色性对生化仪和光谱分析仪实现高信噪比的重要性。通过对薄膜干涉滤光片单色性的数学分析,结合实际应用,设计和制作出的高信噪比薄膜干涉滤光片能完全符合生化检测的要求,能正确地反映出不同被检样品的特性。

有限长简谐波列的单色性与相干性

本文应用富里哀(Fourier)变换对有限长简谐波列进行了频谱分析,指出波列频宽与持续时间之间服从量子力学的测不准关系.同时,探讨了当光源与观察者有相对运动时,由于产生多普勒效应,相干长度将不等于波列长度,并导出了其修正公式.

基于MATLAB图像处理的单色性比较实验研究

滤波片单色性测量实验是大学物理实验的内容,单色仪测定光谱透射率是此实验单色性测量的基本方法.利用迈克尔逊干涉仪测定滤波片单色性、全自动图像测量采集等方法逐渐被科研工作者采纳.尽管实验仪器逐步优化,测量方法不断创新,但是测量误差仍然存在,光谱图像伴随着杂波干扰,极大程度影响学生实验效率.本研究旨在利用一种MATLAB程序和App Designer界面设计,结合光学仪器进行定标检验,对采集的多组图像进行预处理、频谱图设计提取与滤波除杂等优化操作,提高实验图谱精度,实现更精准地完成单色性的分析.

入射光单色性与界面粗糙度对多层膜反射性能的不同影响

多层膜界面粗糙度、入射光单色性对软X射线多层膜实际反射率均有影响。利用数学卷积积分,理论上推导出一个在入射光不同单色性下精确计算多层膜反射率的公式。利用给出的理论计算公式,简要分析了入射光不同单色性、不同界面粗糙度对Mo/Si多层膜反射率的影响。理论分析发现这两种因素对Mo/Si多层膜反射率影响完全不同:入射光低的单色性不但极大降低Mo/Si多层膜峰值反射率,而且使反射曲线的半峰全宽增加;而界面粗糙度是降低Mo/Si多层膜反射曲线上各点对应值,基本不改变Mo/Si反射曲线的半峰全宽,不改变反射曲线的形状。说明这两个因素在软X射线的长波段对多层膜反射性能的影响不同。

模压彩虹全息片的单色性及其测试方法

本文讨论了提高彩虹全息图单色性的措施及其限制，并提出了测试模压彩虹全息片单色性的方法。

迈克尔逊干涉估测滤光片单色性

研究迈克尔逊干涉仪测量滤光片单色性的方法．分析入射光波的单色性对迈克尔逊干涉条纹可见度的影响，给出入射光谱线宽度与实现干涉最大光程差的关系式；在迈克尔逊干涉仪的基础上，设计滤光片单色性的实验测量方案，并分别对有色玻璃滤光片和干涉滤光片的透光谱线宽度进行测量．实验结果表明：迈克尔逊干涉实验能正确估测出滤光片的透光谱线宽度，对单色性好的滤光片有较高的测量精度．

准单色近平行光束的X射线源

针对准单色近平行光束X射线背光成像诊断需求,提出了一种用球面弯晶进行X射线衍射选单从而获取准直光束的新方案.在神光Ⅱ装置上,设计了基于球面弯晶X射线衍射选单准直光束系统,完成了该系统的安装、调试和实验应用,获得了准单色(10^(-3)<△λ/λ<10^(-2))、小发散角(<2 mrad)和大辐照匀斑(直径φ500 m)的X射线光源.同时基于衍射光学和球面镜成像理论,研究了不同布拉格角对球面弯晶X射线衍射光束发散角及其像散差的影响.结果表明,布拉格角会影响球面弯晶X射线衍射光束的发散角.用控制布拉格角范围的方法有望获得发散角优于1 mrad的近平行光束X射线光源.这种准单色、极小发散度和均匀角分布的X射线光源可应用于高分辨X射线成像诊断.

基于双晶单色器的单能X射线辐射标定装置

基于双晶单色器建立了能量为15~100 keV硬X射线地面标定装置(hard X-ray calibration facility,HXCF)。对单能X射线的单色性进行了定量分析,并评估了HXCF的稳定性。结果表明:双晶单色器具有良好的单色性,对于HXCF产生的能量为20.5~196.5 keV的单能X射线,整体单色性优于3.5%;单色光通量10 h内的稳定性优于0.8%;对单能X射线能谱中的连续部分,采用双晶失谐和无孔光阑方法比偏移探测器法对扣除连续谱更有效,可更好地实现对探测器效率的标定。因此,HXCF可满足分辨率高于3.5%的星载探测器的能量响应和探测效率等地面标定实验。