回流式水冷超薄多层镜的研究

从理论和实验上讨论了水冷铜镜变形的规律，从而设计出多种多层镜，其中回流式多层镜在０．１３ＭＰａ通水压力下净吸收８６．９Ｗ激光功率时，总变形仅０．１０μｍ，约为同等条件下普通水冷铜镜变形量的１／４０。

五通道多层镜软X光能谱仪研制

五通道多层镜软X光能谱仪以光电导探测器(GaAs)作软X光探测器,为了消除杂散光影响,在多层镜通道后面加适当材料滤光片,构成谱仪探测系统,使用能量范围260～1200eV,谱仪在神光 三倍频腔靶实验中,进行了实时考核,五通道全部测到软X光信号,基本达到预定的目标。

软X光多层镜反射率在同步辐射源上的标定

软X光多层镜反射率标定实验在北京同步辐射装置上进行，利用BSRF-3W1B束线及其反射率计靶室（主靶室）标定不同材料的多层镜样品的反射率。多层镜的标定采用波长扫描法，以得到样品反射率随波长变化的曲线。给出了21°B4C／Si，21°-B4C／Mo，10°-Cr／Ti，15°-B4C／w，10°-B4C／W以及6．86°-B4C／W等6块多层镜在50～1500 eV能段上的反射率标定曲线，并将其与理论计算结果进行比较。结果表明：标定曲线与理论曲线很好地符合。影响标定结果的总不确定度的主要因素是光子能量不确定度，其次是角度不确定度，测量不确定度的影响很小。

软X光多层镜反射率的标定与修正

在北京同步辐射装置上,利用3W1B束线得到了21°-B4C/Si,21°-B4C/Mo,10°-Cr/Ti,15°-B4C/W,10°-B4C/W以及6.86°-B4C/W等多层镜在50～1500eV能段上的反射率标定曲线.分析了标定结果的不确定度,计算得到多层镜的积分衍射效率,并修正了标定结果.

多层镜软X光能谱仪的结构设计与有限元分析

8通道多层镜软X光能谱仪结构采用整体式,结合中心准直机构,保证了多层镜的角度,实现系统整体瞄准,大大简化了瞄准程序。建立了谱仪的3维模型,利用ANSYS软件完成了有限元分析。静力学分析结果表明,在重力作用下准直件的变形较大,y方向上的变形量为0.016 mm,通过增加准直筒厚度可消除影响。模态分析得到了影响谱仪使用性能必须避免的噪声。分析结果为保证谱仪测量精度提供了理论依据。

软X射线多层膜反射镜的反射率测量

采用线状激光等离子体作为软 X光源 ,用具有空间分辨的掠入射光栅谱仪对正入射多层膜反射镜进行了反射率测量。谱仪测谱范围 2 0 nm～ 4 0 nm,谱分辨 0 .0 5nm,测得 50层 C/Al反射镜在中心波长 2 8.6nm处反射率为 2 2 %± 4 % ,带宽约为 2 .5nm。

多层螺旋CT仿真肠镜与结肠镜检查技术在发现结肠肿瘤中的应用价值对比

目的探究多层螺旋CT仿真肠镜(CTVC)与结肠镜检查技术在发现结肠肿瘤中的应用价值。方法研究对象为我院2017年3月—2018年3月收治的80例疑似结肠肿瘤患者,对其采用CTVC及结肠镜检查,探讨CTVC与结肠镜检查在发现结肠肿瘤中的应用价值。结果 CTVC诊断结肠肿瘤时其灵敏度(90.91%)、准确度(96.25%)、特异度(98.28%)均比结肠镜(68.18%、83.75%、88.66%)高(P <0.05)。结论将CTVC应用于诊断结肠肿瘤时,能起到较好的诊断效果,其灵敏度、准确度、特异度均较为显著,且对患者影响小,更易被接受。

利用由折射率表示的权重因子研究多层介质镜

利用反射系数的递推表达式研究了弱吸收 1 /4波长 (QW )多层介质镜的反射特性 ,引入了一个具有普适性的权重因子来定量描述镜子中各层对反射时延、反射率下降的贡献。为了方便使用 ,用介质折射率表示出了权重因子 。

MSCT仿真肠镜检查中盲肠插管成功率的影响因素

本研究主要分析了影响多层螺旋CT(MSCT)仿真肠镜检查中盲肠插管成功率的相关因素。选取95例接受多层螺旋CT仿真肠镜检查的患者为研究对象,对95例患者采用自制的调查问卷进行调查,共发出问卷95份,收回88份。统计多层螺旋CT仿真肠镜检查中盲肠插管成功率,将盲镜插管失败者纳入对照组(14例),盲镜插管成功者纳入研究组(74例)。比较两组患者的焦虑自评量表(SAS)评分和视觉模拟评分(VAS)。以影响多层螺旋CT仿真肠镜检查中盲肠插管率为因变量,选择单因素分析中P<0.05的变量进行多因素Logistic回归分析。结果显示,研究组SAS评分、VAS评分低于对照组(P<0.05)。结肠镜检查中盲肠插管成功率与年龄、BMI、肠道准备质量、排便习惯有关,高龄、便秘、肠道准备质量较差、低BMI结肠镜检查中盲肠插管成功率较低(P<0.05)。高龄、便秘、肠道准备质量较差、高SAS评分、低BMI、高VAS评分是影响多层螺旋CT仿真肠镜中盲肠插管成功率的危险因素。

一种X光多层膜的设计方法

为了解决X光多层膜理论设计与实际镀膜反射率不一致的问题,基于物理学关于X光在多层膜界面散射的最新理论,提出一种数学模型,编制了软X光多层膜的设计程序。在考虑界面粗糙度、膜层配比、膜层周期多个实际参数条件影响下,多层膜反射率与入射X光波长的关系曲线。其设计结果与传统的设计方法相比,不但理论先进,能够给出最佳结构参数的设计结果,而且能够给出膜厚误差、配比误差对反射率的影响,同时考虑了多层膜的所有参数,使反射率设计结果更接近于实际镀膜结果。

激光等离子体脉冲软X光标定源

利用神光Ⅱ上激光与等离子体相互作用得到的软X光,建立了基于多层镜的四通道软X光单色器系统。研究了光源的性能,测量了光源强度、单色器系统稳定性、相应通道的一致性。研究表明,采用多层镜作为脉冲光源的分光元件,可以得到具有较好单色性的强脉冲软X光标定源。光源的光子能量为253 eV和820 eV,两能道的光源强度分别为1.8×1019photon/(s.cm2)和3.2×1019photon/(s.cm2)。在该标定源上可以实现XRD、平面镜、多层镜、透射光栅和滤片的标定。

“聚龙一号”装置不同光子能段X射线积分成像系统研制

成功研制了用于"聚龙一号"装置上Z箍缩实验中等离子体图像诊断的三通道不同光子能段的X射线积分成像系统。该系统主要由针孔阵列调节组件、X射线真空飞行管道、X射线分光器件及成像板组成,各通道的光谱响应分别为277eV,小于700eV和大于800eV,其对应的成像针孔直径为100,100和50μm,成像放大倍率2倍,成像空间分辨率均优于0.2mm。在"聚龙一号"装置上完成了该成像系统的性能考核,获取了不同光子能段的等离子体时间积分图像。结果表明,该成像系统满足"聚龙一号"装置上Z箍缩实验的诊断需求,在提升了单台相机光谱响应范围的同时提高了低能段图像的空间分辨率。

强脉冲单色软X光标定源的研制

在激光打靶中，利用两块性能基本一致的多层膜镜作为色散元件，构成了一台简单实用的强脉冲单色软Ｘ光标定源。在９４年度的“星光”实验中，对该光源的性能作了初步研究。

辐射源、光源

O432.1 97063519XRD灵敏度在同步辐射源上的绝对刻度=Absolutecalibration of sensitivity of XRD on the synchrotronradiation source[刊,中]/易荣清,孙可煦,王红斌,杨家敏,马洪良,陈正林(中物院核物理与化学研究所.四川,成都(610003)),崔明启,黎刚。

基于布拉格反射镜的X射线多色单能成像谱仪

报道了一种基于布拉格反射镜的多色单能成像谱仪研制工作,谱仪由针孔阵列、布拉格反射镜和CCD相机组成.大约有300个微孔的针孔阵列板置于布拉格镜前用于空间成像,通过布拉格反射镜的单色化,投射到CCD上的数百个小孔成像沿色散方向获得了能量分辨.经过图像处理,可以还原得到目标的多色单能二维成像.根据采用的布拉格分光元件和图像还原方法,谱仪的能量分辨达到了50—200(λ/Δλ);针孔成像的空间分辨优于10μm.同时还为该谱仪开发了专门的单能图像重建软件及图像数据后处理软件,可以在任意选择的窄能带内还原准单能图像.并重点介绍了该谱仪的优化设计、获得的技术指标以及专门研制的超短周期(2.5 nm)X射线W/B4C多层镜.

等效腔法研究低损介质镜的反射特性

利用多光束干涉原理的等效腔模型对四分之一波长多层介质镜进行了研究。证明在反射镜中心频率ω0附近 ,形为 ρ(ω)exp[iψ(ω) ]的反射系数中的 ρ(ω)等于 ρ(ω0 ) ,ψ(ω)与频率成正比。求得了在介质具有微弱吸收情况下 ,吸收引起的四分之一波长镜反射下降和反射时延的表达式 ,研究了反射率下降以及反射时延与膜层数目的奇偶性的关系。在此基础上还引入了一个具有一定普适性的权重因子 ,通过这个权重因子可以定量描述镜子中各层对多层介质镜反射率下降、反射时延等重要特性的影响。

以钕激光激发脉冲氙气流为基础的无碎片软X射线源

由纳秒脉冲激光激发脉冲氙气流（气云），获得“清洁”（无碎片）脉冲软X射线源。用X射线多层聚焦镜得到18nm的射线像。用宽带非周期多层镜和大孔径透射光栅的消像散光谱仪，记录了射线源12.5-25mm区的光谱。借助绝对校准的高速X射线电二极管AXUV－5确定了软X射线产额。

高光提取效率的倒装GaN基LED的研究

为了获得更高的光输出功率,采用倒装的结构.研究了p-GaN面生长金属高反镜前后GaN面的出光量.在p-GaN的表面上生长金属高反镜后,设计使用PECVD法在整个芯片上生长SiO_2/SiN_x多层介质膜高反镜,然后再腐蚀去除电极上的多层介质膜高反镜,使得倒装的GaN基LED台阶侧壁及p-GaN上没有覆盖金属高反镜的位置都保留有SiO_2/SiN_x多层介质膜高反镜.研究结果表明,生长两对SiO_2/SiN_x介质膜高反镜后,器件的光输出功率平均增加了10.2%.这说明SiO_2/SiN_x多层介质膜形成的高反镜有效的提高了倒装GaN基LED的光输出功率,把从LED台阶侧壁以及p-GaN上没有覆盖金属高反镜的位置出射光子反射回LED内部,经过一次或者多次反射后,从其他的出光面出射.