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用符合弹性前冲法测量硅中的氧含量及其分布
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作者 韩建伟 韦伦存 +1 位作者 梁斌 钟运成 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 1995年第9期535-537,共3页
采用27MeV的12C5+作为入射粒子,采用符合弹性前冲方法测量了5.6μm的硅样品中氧的含量及其深度分布.实验结果表明,采用12C与16O符合弹性前冲方法分析硅样品中的氧,其最小探测限可达20×10-6(原子比... 采用27MeV的12C5+作为入射粒子,采用符合弹性前冲方法测量了5.6μm的硅样品中氧的含量及其深度分布.实验结果表明,采用12C与16O符合弹性前冲方法分析硅样品中的氧,其最小探测限可达20×10-6(原子比),深度分辨率为~450nm.该方法对于厚样品,尤其比常规弹性前冲优越。 展开更多
关键词 弹性前冲法 硅膜 含量 深度分布
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