基于谱估计的微振动测试与评估方法及其应用

随着第四代同步辐射光源对束流亮度和发射度的要求日益严苛,微振动对束流品质的影响逐渐凸显。然而,国际上尚无统一的标准来全面测试和评估地基微振动的影响,对微振动的有效管理和控制变得尤为困难。本文建立基于谱估计的振动数据处理模型,并提出基于概率统计的方法来评估地基微振动位移,全面客观地评价振动位移有效值。利用该模型对武汉先进光源预研基地的实验大厅进行振动对比测试、振源分析及振动位移评估,得出垂直方向的振动位移有效值的平均值(Average Root Mean Square,Ave RMS)为8.08 nm,标准偏差σ为4.55 nm,即垂直振动位移(Ave RMS+3σ)为21.73 nm,满足40 nm的设计要求。该振动数据处理方法不仅适用于初始地块与基础隔振处理后地基的振动评估,还适用于元部件级别的振源排查分析。