KDP晶体光学均匀性检测实验研究

本文阐述了正交偏振干涉测量技术的基本原理和实验方法。Fizeau干涉仪的输出激光束经过线偏振镜后变为线偏振光,调整偏振方向让光束的偏振态分别平行于KDP晶体的o轴和e轴,得到两幅干涉图。通过这两幅干涉图的差值得到晶体的折射率分布不均匀性。该检测技术借助可改变输出激光偏振态的大口径干涉仪精确地测量晶体在切割方向上o光折射率和e光折射率的偏差。本文所采取的方法是在大口径干涉仪的小端口放入可改变偏振方向的线偏光镜。本文通过对一批330mm×330mm的大口径KDP晶体的折射率均匀性测量验证了该方法。

KDP晶体折射率非均匀性检测系统

基于正交偏振干涉法,建立了KDP晶体折射率非均匀性的检测系统,并可实现晶体相位失谐角的间接检测.波前检测系统实现了测试光偏振态的精密控制与切换,采用波长调谐相移的方法去除了测试过程中参考面倾斜引入的误差,优化了抗振动相移算法,提高了波前测试的测量准确度及重复性.通过折射率非均匀性分析算法的设计,解决了晶体厚度变化引入的误差等.小口径晶体元件的测试结果表明系统的折射率非均匀性检测准确度(均方根值)优于10-6.