光栅衍射实验中正入射与斜入射的讨论

从实验上验证了自准法在光栅衍射实验中调节光栅垂直于入射光(正入射)方法的可行性,分别从实验和理论(数值)上分析了斜入射角度的变化对衍射角测量的影响.结果表明,在斜入射角度不大的情况下由角度偏离所带来的误差并不明显,偏离角度在5°以内所引起的误差在实验允许的范围内,实验结果与理论分析完全一致.

空间软X射线/极紫外波段正入射望远镜研究

介绍国际上空间软X射线/极紫外波段正入射望远镜研究进展情况。着重介绍了长春光机所设计的四波段同时成像空间极紫外太阳望远镜。该望远镜由四个不同波长的多层膜正入射望远镜组成,工作波长分别为12.9nm、17.1nm、19.5nm和30.4nm,视场角为8.5′×8.5′,设计角分辨率为0.5″。为了验证设计方案可行性及关键技术水平,集成出一套17.1nm极紫外望远镜演示样机。

正入射爆炸应力波与运动裂纹作用的动态光弹性实验研究

采用动态光弹性实验方法,研究了正入射爆炸应力波对运动裂纹的作用效果。实验得到了运动裂纹与正入射爆炸应力波作用过程的光弹等差条纹变化图,分析了正入射爆炸应力波对运动裂纹尖端动态应力强度因子和裂纹扩展速度的影响效果,以及正入射爆炸应力波对运动裂纹扩展轨迹的影响。研究表明:正入射爆炸应力波对运动裂纹扩展方向没有明显影响,但对运动裂纹尖端动态应力强度因子和裂纹扩展速度有显著时间相关性的抑制和增强作用;当正入射爆炸应力波P波前端压缩脉冲相与运动裂纹相互作用时,裂纹扩展速度和裂纹尖端应力强度因子会受到抑制;当正入射爆炸应力波P波尾部拉伸脉冲相和S波与运动裂纹相互作用时,裂纹扩展速度和裂纹尖端应力强度因子则得到显著增强。

X 射线正入射显微镜及其在 ICF 中的应用

全面叙述了Ｘ射线正入射显微镜的发展，探讨了影响正入射显微镜性能的关键技术问题，指出了其在等离子体诊断中的应用。

n型AlAs/GaAlAs量子阱子带间正入射吸收跃迁振子强度

对ｎ型电子有效质量各向异性半导体量子阱，给出了子带间正入射吸收的振子强度解析表达式．这种子带间的跃迁有束缚基态到束缚的激发态的，有束缚基态到扩展的激发态的．以ＡｌＡｓ／ＧａＡｌＡｓ为例研究了量子阱生长方向。

n型半导体量子阱红外探测器的正入射吸收机制

基于有效质量理论，从导带子带间光跃迁矩阵元的表达式出发，推出ｎ型半导体量子阱红外探测器的正入射吸收条件．用一些简单的数学手段，把正入射的吸收系数表达力量子阱生长方向的解析函数，进而讨论正入射吸收的优化、极限及与平行吸收的比较．在考虑了椭球等能面的简并度和占有度后，在掺杂浓度为１０（１８）ｃｍ（－３）和探测波长１０μｍ时，对４种具体的量子阶材料进行了计算．推荐了为获取最大正入射吸收的优化量子阱生长方向，为正入射量子阱探测器的设计提供依据．

非正入射条件下的光栅衍射实验

分析了现行光栅实验中将平行光斜入射作为正入射条件处理引起的误差。验证了当入射角α<2·5°时,在实验精度范围用正入射公式处理是可行的,但当入射角较大时则须用斜入射公式处理。

各向异性表面近正入射反射米勒矩阵

以米勒矩阵理论为基础，推导出了各向异性表面近正入射反射米勒矩阵，该矩阵对于反射差别谱系统的设计、分析与优化等方面将会起到积极作用．

衍射光栅实验中平行光正入射条件的讨论

针对光栅衍射实验中如何保证平行光正入射光栅表面这一难点,总结出一种在实验教学简单可行、易于学生理解的操作方法。这种实验方法,既包含了分光计调节的基本要求,又能让学生比较容易掌握和理解光栅的衍射理论,提高了实验效率。

正入射光栅衍射现象实验研究

光栅是常用的光学衍射元件,在涉谱和分光等诸多领域有广泛应用。文章通过分析正入射时光栅衍射的原理,对其衍射特性与参数进行分析,建立光栅方程和谱线的对应关系,并通过大量的实验数据,分析了波长、衍射角和色散等参数的内在联系。同时,阐述了光栅衍射应用场合及条件,以及对物理实验的促进作用。

正入射时双轴晶体中偏振光线的方位

本文就光正入射到双轴晶体上的情况,求得了晶体中两条折射偏振光线方位的计算公式,为研究测量晶体光学参量的新方法提供了一个依据.

“均匀平面波在多层平面分层介质中的正入射”问题在教学上的处理

一、引言“电磁场理论”课作为通信专业的一门重要的基础理论课程,已基本上确定了其较为经典的教学大纲。虽然如此,考虑到电磁场理论及其应用的不断发展,在实际教学中还应尽可能地对此有所反映。事实上,随着电磁场应用领域的日趋广泛,有必要在教学中增加一些构成实际工程问题应用基础的内容。如此,可以使学生在掌握理论知识的同时。

正入射Mo/B_4C软X射线多层膜

采用Ｍｏ／Ｂ４Ｃ材料在短波长波段（λ＜１０．０ｎｍ）进行软Ｘ射线多层膜实验研究。在指定波长（８．０ｎｍ附近）处对多层膜进行结构设计，并制备出了周期结构准确的Ｍｏ／Ｂ４Ｃ多层膜样品。

正入射时双轴晶体中偏振光出射点随晶体取向而变化的轨迹

单色光波正入射到任意取向的双轴晶体上的情况,求得了双轴晶体中偏振光的传播方向及相应入射分量的折反系数的计算公式,并得出了偏振光的振动方向恒在折射面内、两折射面恒正交的重要结论。最后就NaNO_2晶体的相应计算数据,画出晶体中偏振光出射点随晶体取向而变化的轨迹图及反射系数变化图予以讨论。这些结果为应用新的方法测量双轴晶体光学参量提供了可能性。

正入射软X射线显微成像研究

正入射软Ｘ射线显微成像研究陈星旦曹健林王占山缪同群翁志成（中国科学院长春光学精密机械研究所，长春１３００２２）项目批准号：６９０８８００８在国内率先研究了正入射Ｘ射线显微成像技术，并获得了优于１μｍ分辨率的正入射Ｘ射线显微成像系统，达到国际同等水平。...

正入射宽光谱宽入射角高效率偏振无关多层倾斜光栅

基于严格耦合波分析方法和模拟退火优化算法,设计了一种在正入射条件下具有宽入射波长和角度范围的偏振无关高效率多层倾斜光栅。为了提高衍射效率和带宽范围,提出了一种折射率渐变的四层三明治光栅结构。基于这种结构,设计了一种可见光波长范围内偏振无关异常反射光栅器件。数值结果表明,正入射下,该光栅具有130 nm(550~680 nm)的波长带宽,在此范围内-1级衍射效率均高于93%,同时偏振相关损耗均小于0.2 dB。此外,这种光栅结构还具有47°(-2°~45°)的入射角度带宽,以及较大的制造容差范围。因此,本文提出的这种多层斜光栅在虚拟现实和增强现实显示系统、基于超表面的器件,特别是可见光波段的超透镜等方面具有潜在的应用价值。

考虑表面粗糙度时多层膜正入射光谱特性近似计算模型

基于表面粗糙度的空间周期与光波波长的相对关系,引入大、小尺度粗糙度概念,建立考虑粗糙度时多层膜正入射光谱特性系数的近似计算模型。以紫外波段的单层膜和多层膜为例进行光谱特性仿真计算,对仿真结果进行横向对比,结果表明,无论是对单层膜还是多层膜,该近似计算模型结果正确,计算精度高,具有较好的适用性。