OrCAD电路性能分析方法在电路仿真实验中的应用

使用OrCAD/PSpice电路仿真软件的电路性能分析方法,能够定量分析元件参数与电路特性的关系,从而为电路仿真实验提供了有效途径。此文旨在通过具体的实验事例,阐述电路性能分析方法在电路仿真中的应用过程。

基于OrCAD/PSpice9电路性能分析与电器优化设计——对低频滤波器的研究

应用 Or CAD/PSpice9交流分析功能 ,研究巴特沃思与切比雪夫滤波器的幅频特性 ,通过电路性能分析功能分析滤波器的电路参数与截止频率的关系 。

基于PSpice的电路性能分析与优化设计

用电路通用分析程序Pspice可根据电路的结构和元器件参数进行电路性能仿真分析 ,从而可以快速、方便、精确地评价电路设计的正确性。同时还可以根据性能指标要求对电路进行优化设计。本文通过一个简单的实例 ,较详细地说明了用PSpice对电路进行性能分析和优化设计的具体方法和步骤。

基于OrCAD/Pspice的电路性能分析方法

使用OrCAD/PSpice电路仿真软件的电路性能分析方法,定量分析电路特性随某一元器件参数的变化关系,在优化电路设计方面有很大的作用。本文通过一个简单的实例,较详细地说明了用PSpice对电路进行性能分析的具体方法和步骤。

电池内阻对晶体管放大电路性能的影响

电池内阻将随着使用时间的增长而不断增大,它会引起供电电压不稳定,以致影响使用电池供电的电子系统和电子仪器仪表装置正常工作.介绍了铅酸蓄电池在充放电状态下的电化原理,研究了原电池内阻及电压的变化机理,论述了干电池放电过程中内阻变化的原因,分析了干电池内阻对晶体管放大器静态工作点、电压放大倍数的影响,提出了在实际电子电路中减小电池内阻变化对晶体管放大器影响的有效措施,指出了对蓄电池进行在线检测的必要性.

红外测温系统中电路性能对工作波长选择的影响

红外测温中需要选择合适的工作波长。在一定的测温范围和准确度的要求下 ,根据测温系统中电路性能可以确定工作波长的选择范围 ,这对于测温时红外滤波片的选择具有一定的指导意义。

基于PSpice的电路性能分析方法的研究与应用

本文介绍OrCAD/Pspice 9软件定量的分析电路特性随某一元器件参数的变化关系。本文通过一个简单的实例,较详细地说明了用PSpice对电路进行性能分析的具体方法和步骤。

提高L80C86系列10种电路性能的研究

简介了提高 L80 C86系列 1

先进半导体硅材料:优化纳米集成电路性能的重要基础

本文阐述了用于纳米集成电路的大直径硅材料中传热、传质过程,硅中金属杂质元素行为以及点缺陷及其衍生缺陷的产生和运动规律,表面形态与表面质量控制等研究热点;介绍了绝缘体上硅(SOI)、锗硅和应变硅等硅基材料的特性及技术发展趋势;展望了硅及硅基材料未来在纳米电子学和光子学领域的发展前景。

桥式推挽结构超声激励电路性能分析

基于桥式推挽结构,设计了由两路正向单脉冲电压产生双极性电压效果的电路,提高了激励信号的能量,为超声无损检测激励电路的负向耐压低、供电电源复杂等问题提供了解决方案。该方案包括硬件实现和相关实验验证。脉冲回波检测实验结果证明:桥式推挽结构的超声激励可以提高回波的幅度,在相同实验条件下,回波幅度为单极性方波脉冲激励的两倍,等效于双极性方波脉冲激励的效果。该文方法可以提高超声激励电路的性能,为高性能便捷式超声激励系统的设计提供了理论和实验依据。

基于Multisim的负反馈电路性能分析

负反馈是模拟电子课程中的重要概念,内容抽象繁杂,与基本放大电路关系密切,经常造成学生理解混乱。本文以电压串联负反馈电路为例,利用Multisim软件仿真功能,直观的计算负反馈电路的各性能指标和输入输出波形,将较为抽象的理论知识具体化,结果表明,加强了学生对负反馈作用的理解,教学效果明显提高。

CMOS两级运算放大器调零电路性能分析

引言 运算放大器的高速性能主要靠两个重要的参数来衡量，即大信号响应时间和小信号响应时间。大信号响应时间由摆率决定，小信号响应则由建立时间或单位增益带宽来决定。提高运放速度的方法有多种多样，折叠式运算放大器有功耗较大，折叠点处寄生电容高等缺点：采用套筒式运放结构，如果采用二阶结构．则会造成较大的功耗，

对“CHD-6”核旋仪部分电路性能的改进

通过对“CHD—6”核旋仪部分电路的修改,改善了该仪器的一些性能,从而提高了地磁观测资料的连续性和可靠性。

Diodes微功率霍尔开关有效提升检测电路性能

Diodes公司（Diodes Incorporated）推出两款高敏感度的微功率器件AH1902及AH1903，以扩充旗下霍尔效应开关产品系列。这两款器件能节省功耗和空间，并使设计更灵活，有助于提高消费性、家用、办公室及工业产品内多种非接触式开关应用的性能。

Sirenza低噪声放大电路性能及应用（2）

上期介绍过了视频放大领域常用的RFMMIC，本期将着重介绍其他射频领域常用的RFMMIC。列出各频段的RFMMIC性能表和应用情况。

NIMuhisim12．0为专业人士提供完整电路性能优化方案

近日，美国国家仪器有限公司（简称NI公司）最新推出了用于电路设计和电子教学的Multisim12．0专用版本。Mul—tisim12．0专业版基于工业标准SPICE仿真，以获得最优化的利用。使用Multisire仿真工具（包括在NILabVIEW图形化系统设计软件下开发的自定义分析和标准SPICE分析）工程师们可以将发生错误和原型返工的机率最小化，从而提高设计性能以适合他们的应用。

日本开发出提高集成电路性能新技术

日前，日本研究人员开发出的一项新技术，使低成本生产高性能集成电路成为可能。这一技术预计5年后可投入使用，有望推动超级计算机等电子设备的性能升级。

Multisim 12.0为专业人士提供完整电路性能优化方案并提高电路教学水平

美国国家仪器（National Instruments，简称NI）最新推出了用于电路设计和电子教学的Multisim 12．O专用版本。Multisim12．0专业版基于工业标准sPIcE仿真，以获得最优化的利用。

影响轨道电路性能的主要因素为道床漏泄电阻

随着高速铁路列车设计时速的不断提高,铁路区间线路曲线半径越来越大,线路中特大桥、特长隧道所占比例越来越大。隧道内信号系统轨道电路方案选型已经成为一个较有争议的问题。 根据《关于规范ZPW-2000自动闭塞上道管理工作的通知》文件要求,目前国内铁路自动闭塞区间采用的轨道占用检查和机车信号传输方案一般为ZPW-2000型一体化轨道电路方案,一个闭塞分区采用按一段轨道电路考虑。

基于OrCAD/Pspice 9的电路性能分析方法

用电路分析软件OrCAD/PSpice 9中的电路性能分析方法 ,能够方便、快捷地定量分析电路特性随某一元器件参数的变化关系 ,从而为设计电路、选择元器件参数、优化电路设计等提供可靠的理论根据。文章通过两个简单的实例 ,较详细地说明了电路性能分析的具体方法和步骤。