基于C8051F500微控制器的逻辑门电路验证系统设计

为进一步优化逻辑门电路产品的验证与测试流程,基于C8051F500微控制器,提出一种逻辑门电路验证系统。系统综合运用微控制器技术、通信技术、计算机技术,可输出多路不同频率、相位的信号用作逻辑门电路激励,通过微控制器实时采集逻辑门电路的输出信号,也可在示波器上直接监测输出信号,准确验证与测试电路功能与性能。系统可用于测量与、或、非逻辑门电路及由其构成的其他逻辑门电路,适应性强,操作灵活方便,有助于简化实验人员操作流程。

基于UVM的可重用SoC功能验证环境

现在系统级芯片(So C)系统集成度和复杂度不断提高,验证环节消耗时间占用了芯片研发时间的70%,芯片验证已经成为芯片研发中最关键的环节。目前业界验证方法大多有覆盖率低和通用性差等缺点,基于上述原因提出了一种新的验证方法。与传统验证方法和单纯的通用验证方法学(UVM)不同,该方法结合系统级芯片验证和模块级验证的特点,并且融合UVM和知识产权验证核(VIP)模块验证的验证技术,且使用了So C系统功能仿真模型以提高验证覆盖率和准确性。验证结果表明,同一架构系列So C芯片可以移植于该验证平台中,并且可大幅缩短平台维护与开发时间,采用该验证方法的代码覆盖率为98.9%,功能覆盖率为100%。