测试用例排序技术通过对测试用例进行排序以提高回归测试的效率.针对现有方法未能充分利用软件结构信息的不足,提出了基于错误传播网络的测试用例排序方法.该方法在类粒度将软件抽象成加权类依赖网络(weighted class dependency network...测试用例排序技术通过对测试用例进行排序以提高回归测试的效率.针对现有方法未能充分利用软件结构信息的不足,提出了基于错误传播网络的测试用例排序方法.该方法在类粒度将软件抽象成加权类依赖网络(weighted class dependency network,WCDN)模型,并基于WCDN分析错误在网络上的传播行为,构造错误传播网络(bug propagation network,BPN).测试用例排序时,首先在BPN中定位变更类和可能受变更类波及的类,从而计算类的测试重要性,最后以测试用例覆盖类的测试重要性总和作为最终的排序依据.实例研究表明,基于错误传播网络的测试用例排序方法在错误检出率上相比于其他经典方法有一定的提高,并且具有较好的稳定性.展开更多
单粒子软错误是高辐照空间环境下影响计算可靠性的主要因素.随着芯片晶体管数的快速增长,单粒子软错误的威胁日益严重.结果错误(silent data corruption,SDC)是单粒子软错误造成的一种故障类型.由于SDC是隐蔽传播的,SDC的检测是单粒子...单粒子软错误是高辐照空间环境下影响计算可靠性的主要因素.随着芯片晶体管数的快速增长,单粒子软错误的威胁日益严重.结果错误(silent data corruption,SDC)是单粒子软错误造成的一种故障类型.由于SDC是隐蔽传播的,SDC的检测是单粒子软错误防护的难点.寻找SDC脆弱指令是目前检测SDC的重要途径.现有方法需要进行巨量的错误注入,时间代价巨大.首先根据数据关联图建立了指令的数据依赖关系,研究了函数间和函数内部错误传播过程;进而推导出判定SDC脆弱指令的充分条件,提出了SDC脆弱指令识别方法,该方法在错误注入中依据充分条件推测潜在的SDC脆弱指令.实验表明,在保证较高准确率和覆盖率的前提下,时间代价显著减少.展开更多
文摘单粒子软错误是高辐照空间环境下影响计算可靠性的主要因素.随着芯片晶体管数的快速增长,单粒子软错误的威胁日益严重.结果错误(silent data corruption,SDC)是单粒子软错误造成的一种故障类型.由于SDC是隐蔽传播的,SDC的检测是单粒子软错误防护的难点.寻找SDC脆弱指令是目前检测SDC的重要途径.现有方法需要进行巨量的错误注入,时间代价巨大.首先根据数据关联图建立了指令的数据依赖关系,研究了函数间和函数内部错误传播过程;进而推导出判定SDC脆弱指令的充分条件,提出了SDC脆弱指令识别方法,该方法在错误注入中依据充分条件推测潜在的SDC脆弱指令.实验表明,在保证较高准确率和覆盖率的前提下,时间代价显著减少.