空间混合辐射环境器件单粒子在轨错误率预估及不确定度分析方法

针对空间混合辐射对器件单粒子在轨错误率的影响,基于典型静态随机存储器利用中国原子能科学研究院HI-13串列加速器以及钴源总剂量模拟辐照试验装置开展协合效应研究,发展了一种器件在混合辐射环境下的单粒子在轨错误率计算方法。并利用该方法计算了协合效应影响下的航天器典型任务周期器件的在轨错误率,同时分析了器件在轨错误率计算中的不确定度来源并计算了在轨错误率不确定度。结果表明,对于该类型器件,空间混合辐射场导致的协合效应将降低器件单粒子在轨错误率。

无线传感器网络中比特错误率估计方法

由于无线传感器网络中干扰检测的性能依赖于比特错误率(Bit Error Rate,BER)估计的准确性,而现有的比特错误率估计方法或者难以实现,或者准确性差。针对这个问题,本文提出了采用差异化思想来提高比特错误率估计准确度的方法DEE(Differentiated Error Estimation)。其主要是发送方在数据包中插入具有不同估错能力的多级估错位,并随机均匀地分布所有估错位。接收方借助BER与奇偶校验失败概率的理论关系来估计BER。同时,DEE利用BER非均匀分布特征来优化各级估错位的能力,提高出现概率高的BER的估计准确度,以降低平均估计误差。实验结果表明,与现有方法EEC相比,DEE可将估计误差平均减少约44%。当估错冗余较低时,DEE可将估计误差减少约68%。

65nm工艺SRAM低能质子单粒子翻转错误率预估

质子单粒子效应是纳米工艺集成电路空间应用面临的主要辐射问题之一。本文开展了一款商业级65 nm工艺4 M×18 bit随机静态存储器(SRAM)质子单粒子翻转实验研究。针对地球同步轨道、低地球轨道,使用Space Radiation 7.0程序,预估了低能质子、高能质子和重离子引起的错误率。错误率预估分析结果表明,不同轨道及环境模型下低能质子错误率占总错误率的比例范围为1%～86%,其中太阳质子事件、地球俘获带等环境模型中低能质子单粒子翻转引起的错误率占主导,建议空间应用的元器件对低能质子不敏感。

一种基于混合模拟的计算组合电路中软错误率的方法与工具

随着工艺尺寸的不断缩小,组合电路引起的SER(Soft Error Rates)越来越严重。针对使用HSPICE计算组合电路软错误率速度较慢以及使用传统的组合电路软错误率分析工具在对待重汇聚时计算精度不高的问题,本文提出了一种混合模拟的方法,并基于该方法实现了组合电路软错误率分析工具。该混合模拟方法使用HSPICE模拟发生重汇聚的逻辑门;使用快速的脉冲传播算法模拟其他逻辑门。模拟结果表明,该方法可以在速度和精度上达到很好的折中。通过与国际上常用的组合电路软错误率分析工具进行比较发现,在重汇聚发生较多的电路中,该混合模拟方法更能真实地反应组合逻辑中的软错误率。

训练集容量对决策树分类错误率的影响研究

数据挖掘算法必须在实际数据集上进行验证,而数据集容量是有限的,训练集比例过低会导致训练不足,训练集比例过高会导致算法评价过于乐观。针对训练集容量对评价效果的影响问题,对25个UCI数据集的不同比例训练集运用决策树算法C4.5,得出不同训练集容量对决策树分类错误率的影响关系。实验结果表明,训练集比例至少为50%时才能使分类错误率达到相对平稳。

牛SNP芯片分型检出率和分型错误率对基因型填充准确率的影响

SNP芯片已被广泛应用于动植物的遗传研究和生产实践,其基因分型的准确性至关重要。但在实际应用中,常有一定数量的基因型因缺失而需要去估计(填充)。此外,由于各种原因,又常常需要在不同芯片的基因型之间相互填充彼此没有的SNP基因型,或从低密度SNP填充到高密度SNP基因型。因此,基因型填充准确率直接影响后续数据分析的准确性和可靠性。为深入了解基因型填充准确率的影响因素,本研究利用20 116头美国荷斯坦牛的50K SNP芯片基因分型数据,在SNP分型检出率与错误率存在相关和没有相关两种情形下,分别评估了上述两个因素对下游基因型填充准确率的影响。当两者不相关时,模拟的SNP分型检出率从100%降低到50%,SNP分型错误率由0%提升到50%。当两者存在相关时,基因分型的检出率和错误率之间的关系是基于一个实际数据中这两个变量之间的线性回归方程来确定,即模拟的SNP分型检出率从100%降低到50%,SNP分型错误率从0%升高到13.35%。最后,采用5折交叉验证的方法评估基因型填充的准确率。结果表明,当原始数据的SNP分型检出率与错误率彼此独立发生时,基因型填充的错误率受原始SNP分型检出率影响不大(P>0.05),却随着原始SNP分型错误率的升高而显著提高(P<0.01)。当原始数据的SNP分型检出率与错误率存在负相关时,基因型填充的错误率随着原始SNP分型检出率的降低而显著提高(P<0.01)。在这两种情形下,建议SNP分型检出率应在90%以上,基因型填充准确率才能不低于98%。该结果可为提升实际的SNP分型和下游数据分析的质控提供参考依据。

典型卫星轨道辐射环境及在轨软错误率预计模型分析

使用最新版本的Space Radiation 7.0软件对典型卫星轨道(包括地球同步轨道、中地轨道和低地轨道)的空间辐射环境进行提取和计算,分析不同空间天气和屏蔽条件下的轨道离子通量-能量谱和通量-线性能量沉积(LET)谱特点。以一款SOI SRAM为例,结合地面加速器重离子试验获得的单粒子翻转截面-LET值关系曲线,预计该器件的在轨软错误率(SER),并分析关键参数对预计结果的影响规律和内在机理。结果表明,使用Space Radiation软件的四种输入模式获得的预计结果可相差5倍左右;灵敏区厚度的增大导致在轨SER降低数个数量级,原因为灵敏区厚度的设置与灵敏区平均投影面积和符合条件的空间离子通量的大小直接相关;漏斗长度的大小对预计结果有一定的影响。最后,对SER预计模型的适用性和发展趋势进行了讨论。

温度对TFT SRAM单粒子翻转及其空间错误率预估的影响

本文研究了215~353K温度范围内商用4M0.15μm薄膜晶体管结构SRAM单粒子翻转(SEU)截面随温度的变化。实验结果显示,在截面曲线饱和区,SEU截面基本不随温度变化;在截面曲线上升区,SEU截面随温度的升高而增加。使用Space Radiation 7.0软件研究了温度对其空间错误率预估的影响,模拟结果显示,SEU截面随温度的变化改变了SRAM SEU截面-LET值曲线形状,导致其LET阈值漂移,从而影响空间错误率预估结果。

无线网络的差异化比特错误率估计方法

在无线网络中,比特错误率(bit error rate,BER)的估计是许多上层协议的基础,对数据传输的性能具有重要的影响,目前已成为一个重要的研究课题.但是现有BER估计编码未考虑实际网络的BER分布特征,估计误差较大.在实测分析802.11无线网络的BER分布特征的基础上,提出了一种采用差异化思想来提高BER估计准确度的方法差异化估错码(differentiated error estimation,DEE),其主要思想是在数据包中插入具有不同估错能力的多级估错位,并随机均匀地分布各估错位.然后,借助BER与奇偶校验错误概率的理论关系来估计BER.此外,DEE利用BER非均匀分布特征来优化各级估错位的能力,提高出现概率较高的BER的估计准确度,以降低平均估计误差.在7个节点组成的测试床上评价了DEE的性能.实验结果表明,与最近的研究成果估错码(error estimation code,EEC)相比,DEE可将估计误差平均减少约44%.当估错冗余较低时DEE可将估计误差减少约68%.此外,DEE具有比EEC更小的估计偏差.

改进的Turbo类编码的近似码字错误率公式

针对Turbo类编码,该文提出了一种改进的近似码字错误率公式。该近似公式可以简单地表示成高斯Q函数的形式,它包含信噪比、判决域平方半径的数学期望和方差等参数。仿真观察表明,对于AWGN信道,当码字错误率高于平台时,所提近似公式与蒙特卡罗仿真的误差小于0.05 dB。鉴于近似公式中的两个有关判决域半径的参数需要通过仿真测量获得,该文还分析了统计误差的影响。结论认为,用几百个半径样本估计近似公式中的参数,即可使得相同码字错误率下信噪比的相对误差小于0.05 dB。

基于阳性结果错误率控制的药品不良反应信号检测方法

常用的药品不良反应信号检测方法均是基于不相称测定理论,这些方法在信号检测过程中发挥了重要的作用。然而目前的信号检测过程存在一些缺陷,如多重性问题等,导致信号检测的准确性降低。通过介绍多重性问题对信号检测准确性的影响,和目前解决该问题的常用方法,如阳性结果错误率(false discovery rate,FDR)方法等。

基于四值脉冲参数模型的单粒子瞬态传播机理与软错误率分析方法

随着工艺尺寸的不断缩小,由单粒子瞬态(Single Event Transient,SET)效应引起的软错误已经成为影响宇航用深亚微米VLSI电路可靠性的主要威胁,而SET脉冲的产生和传播也成为电路软错误研究的热点问题。通过研究SET脉冲在逻辑链路中的传播发现:脉冲上升时间和下降时间的差异能够引起输出脉冲宽度的展宽或衰减;脉冲的宽度和幅度可决定其是否会被门的电气效应所屏蔽。该文提出一种四值脉冲参数模型可准确模拟SET脉冲形状,并采用结合查找表和经验公式的方法来模拟SET脉冲在电路中的传播过程。该文提出的四值脉冲参数模型可模拟SET脉冲在传播过程中的展宽和衰减效应,与单参数脉冲模型相比计算精度提高了2.4%。该文应用基于图的故障传播概率算法模拟SET脉冲传播过程中的逻辑屏蔽,可快速计算电路的软错误率。对ISCAS’89及ISCAS’85电路进行分析的实验结果表明:该方法与HSPICE仿真方法的平均偏差为4.12%,计算速度提升10000倍。该文方法可对大规模集成电路的软错误率进行快速分析。

组合逻辑电路的软错误率自动分析平台

为在设计阶段快速评估集成电路的软错误率,以指导高可靠集成电路的设计,提出一种适用于组合逻辑电路和时序逻辑电路组合逻辑部分的快速软错误率自动分析平台HSECT-ANLY.采用精确的屏蔽概率计算模型来分析软错误脉冲在电路中的传播;用向量传播和状态概率传播的方法来克服重汇聚路径的影响,以提高分析速度;使用LL(k)语法分析技术自动解析Verilog网表,使分析过程自动化,且使得本平台可分析时序电路的组合逻辑部分.开发工作针对综合后Verilog网表和通用的标准单元库完成,使得HSECT-ANLY的实用性更强.对ISCAS85和ISCAS89 Benchmark电路进行分析实验的结果表明:文中方法取得了与同类文献相似的结果,且速度更快,适用电路类型更多,可自动分析电路的软错误率并指导高可靠集成电路的设计.

开展品管圈降低护士对患者身份识别错误率的效果

目的探讨普外二开展品管圈活动在降低护士对患者身份识别错误率中的效果。方法成立品管圈小组，确定以“降低普外二护士对患者身份识别错误率”为主题，对2012年2月～2013年2月广东省中山市小榄人民医院普外二科（以下简称“我科”）护士对患者身份识别错误率进行观察，并与2011年1月～2012年1月品管圈活动实施前我科护士对患者身份识别错误率进行比较，并对品管圈活动前后护士的自我评价得分进行比较。结果开展品管圈活动后，护士对患者身份错误率由实施前的71％显著降低至23％，差异有高度统计学意义（P＜0．01）；开展品管圈活动后，护士的责任心、积极性、沟通协调能力、解决问题能力得分分别为（4．5±0．3）、（4．6±0．3）、（4．5±0．3）、（4．4±0．5）分，均显著性高于活动前[（2．9±0．7）、（1．9±1．1）、（3．2±0．5）、（3．4±0．6）分]，差异均有统计学意义（P＜0．05或P＜0．01）。结论品管圈活动能有效降低普外二护士对患者身份识别错误率，同时提升护士的责任心、积极性、沟通协调能力及解决问题的能力。

成立专项质量管理小组降低住院患者每日费用错误率

目的降低儿科住院患者每日明细费用的错误率。方法成立专项质量管理(Quality Control,QC)小组,对每日明细费用清单的准确性进行调查,对错误收费的原因进行分析,对其相关因素进行干预。结果QC小组活动实施6个月后,每日费用明细清单的错误率由实施前的18.77%降低至3.08%,差异有显著性意义(P<0.01)。结论QC小组的运行可降低住院患者每日明细费用错误率,提升服务水平。

基于最小错误率的SAR图象分割方法研究

文章提出了一种基于最小错误率的SAR图象自动分割算法。对直方图呈现出多模分布特征的SAR图象,首先运用有限高斯混合分布对SAR图象特征空间的数据统计模型进行估计;其次基于最小错误率原理选取SAR图象自动分割阈值,在先验概率未知和估计条件下,获得目标及其阴影区域的检测结果;最后对两种图象分割结果进行了分析并与SAR图象目标检测的经典方法-恒虚警(CFAR)目标检测方法作了比较。仿真结果表明在先验概率估计下的图象自动分割具有明显的优势和较大的应用潜力。

把烟快速定级等级错误率及错误去向分析

[目的]突破烟叶评级高技能人才在把烟快速定级中的技术瓶颈。[方法]以智能化烟叶分级实训考核系统为数据来源,采用统计学分析法,首次将烤烟42等级在把烟快速定级考试中的出现频率、等级错误率及错误去向进行了量化分析。[结果]等级B2F与B3F、B2R与B3R、C3F和C4F、C3L和C4L这4组等级互为易错,属于易混淆等级;等级X1F、X1L和X2F的错误去向分别为C3F(20.1%)、C3L(35.7%)和C4F(16.5%),属于部位易错等级;X2L和X4L的错误去向分别为X2F(15.8%)和X4F(13.8%),属于颜色易错等级;等级B1L、B2L、C2F、C4F、C2L、X1F、C3V和CX1K的易错等级均为C3F,即C3F是热点等级。[结论]研究结果为有针对性地提升把烟快速定级技能水平提供理论依据。

开展品管圈活动降低肿瘤科护士对患者身份识别错误率

目的探索通过开展品管圈活动降低肿瘤科护士对患者身份识别错误率。方法成立品管圈质量控制小组,以"降低肿瘤科护士对患者身份识别错误率"为主题,进行现状调查,分析护士对患者身份识别错误率高的原因,针对原因设定目标,制定相应的对策并组织实施。结果护士对患者身份识别错误率高的原因主要包括患者未佩戴手腕带、护士发药时被询问打断、护士未执行双人查对制度、对新进人员培训不到位。对策实施后,错误率由改善前的71%下降至20%。结论通过运用科学管理方法,降低了肿瘤科护士对患者身份识别错误率。

品管圈在降低24h尿标本留取错误率中的应用

目的探讨品管圈在降低住院糖尿病患者24h尿标本留取错误率中的应用效果。方法通过调查本科糖尿病患者留取24h尿标本错误情况,然后分析原因、设定目标、制定和实施对策等品管圈活动,比较运用品管圈前后患者24h尿标本留取错误率。结果患者24h尿标本留取错误率从22.0%下降到7.3%,差异有统计学意义(P<0.01)。结论正确运用品管圈手段能降低住院糖尿病患者24h尿标本留取错误率。

增强组合电路脉冲窄化效应的软错误率优化布局方法

为了提高芯片抗辐照性能,提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法.首先减少已有quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应;然后通过插入和交换操作增加电路中quenching单元对数量,以提高电路发生脉冲窄化效应的概率;最后实现了一个组合电路软错误率优化布局及评估平台,可自动地完成布局及软错误率评估.模拟结果表明,该方法可以减小最终被捕获的脉冲宽度,减少14%~26%的软错误率.