集成电路测试新工科人才产教融合培养模式探索与实践

集成电路测试是集成电路设计制造产业中的重要环节。针对目前国内集成电路测试行业专门技术人才紧缺的现实需求,合肥工业大学联合国内外集成电路产业知名企业,从课程教学内容与教学方法、实验平台建设与实验设计、创新能力培养与学科竞赛等环节入手,在仪器类专业探索现阶段适合于集成电路测试新工科人才培养的校企合作办学模式。近年来,在集成电路测试课程体系完善、实验平台建设、实践环节培养等方面均取得较好的成果,为新工科人才产教融合培养提供实践经验和参考案例。

集成电路测试数据分析系统的设计与实现

阐述集成电路芯片测试数据治理的关键因素,探讨测试数据大规模化、测试数据多样性、测试数据一致性所面临的技术挑战,从而全面了解集成电路测试数据的数据质量重要性。通过案例分析,提出有效的实施策略。同时,围绕集成电路测试数据所面临的数据质量问题,挖掘数据质量特征,通过数据质量的主要评价标准及技术效果,提出和实施可行的数据治理方案。

集成电路测试行业现状分析及建议

集成电路测试是集成电路产业链中不可或缺的环节,集成电路测试能够有效保障产品的质量和性能,目前国内集成电路测试行业发展迅猛,但是和国外相比仍有一定差距。本文分析当前集成电路测试行业现状及发展趋势,剖析集成电路测试行业存在的问题。当前集成电路测试行业市场集中度、资源利用率、行业透明度均不高,缺少高端人才,行业内企业的融资能力较弱。针对存在的问题提出相应建议,加强测试能力的规划布局、加快关键测试能力的建设、培育和增强核心竞争力、创新行业人才培养模式和加大财税金融支持力度。

基于ATE的集成电路测试方案研究

随着半导体和集成电路产业的发展与进步,利用自动测试设备开展集成电路自动化测试的研究,对于降低集成电路成本费用、促进集成电路发展,有着极为重要的实际价值。文章在总结集成电路测试分类的基础上,研究基于ATE的集成电路测试方案,分析了集成电路自动测试设备的发展和挑战,集成电路测试设备的软硬件架构,进而重点梳理集成电路测试的研究内容,总结出基于ATE的集成电路的测试方案。文章总结测试的各种因素,为设计更好的测试方案提供参考。

集成电路测试插座产品残留检测

集成电路自动测试过程中,如果产品残留在测试插座中,就会导致误分类。鉴于传统的残留检测方法存在各种各样的问题,本文介绍了一种简单易行的检测方法,在测试插座中植入微型发光二极管,使用微型摄像头拍照检测,提高了集成电路测试插座产品残留的检测能力。且成本低,检出能力强,适用各类薄型集成电路产品。

基于XGBoost的模拟集成电路测试参数优化方法

随着集成电路的规模不断扩大,其测试成本随测试时间的增长而不断提高,如何优化测试参数是一个重要课题。模拟集成电路测试中,测试参数间存在非线性隐式依赖,使得直接揭示其相互关系并进行测试方法优化非常困难。本文基于XGBoost决策树模型提出了一种优化模拟集成电路测试参数数目的方法,该方法探索不同测试参数间的相互表征能力,在测试序列中依次删减可被良好表达的测试参数,在保证一定逃逸率的条件下达到缩短测试时间的目的。本文讨论了故障数目、特征重要性和SHAP值3种评估测试参数间表征能力的指标,并对两类模拟集成电路测试数据集进行了实验,结果表明故障数目是一种优秀的评估指标,可在测试逃逸率不超过20 PPM的条件下实现25%的测试参数优化。

集成电路测试与标准化领域研究综述

集成电路产业是支撑国家经济社会发展的战略性、基础性、先导性产业,也是引领新一轮科技革命和产业变革非常重要的产业。围绕“检测—标准—科研”三大业务板块,对集成电路产业链各环节开展研究。介绍了中国电子技术标准化研究院在多时钟域测试向量转化方法、车规级芯片可靠性测试技术、人工智能芯片、绿色计算、计算机固件、EDA工具等多个领域对研究工作,并对下一步工作的开展进行了展望。

集成电路测试课程的企业教培模式分析

阐述集成电路测试课程的特点,集成电路测试教学中的问题,探讨课程教学与产业发展相融合,包括树立职业目标、采用企业教培模式、以实际工作需求为导向,以项目实践驱动课程教学。通过整合、调试器件工艺参数使学生直观地掌握工艺对参数的影响,参数反馈对工艺的控制。

基于LabVIEW的集成电路测试数据上传和保存

以MCU和FPGA等嵌入式系统为核心的测试方案在集成电路产业获得日益广泛的应用,但是这类定制的嵌入式的测试系统的数据上传和保存较为复杂和困难。本文基于LabVIEW开发了集成电路测试数据的上传和保存程序,在集成电路测试中,由MCU、FPGA等嵌入式的定制开发的测试系统,将测试数据通过虚拟串口,将测试数据以一定格式发送给PC,PC端运行LabVIEW程序,将串口发送过来的测试数据分类解析后显示到UI界面,同时,LabVIEW将测试数据保存到文件中,供进一步数据分析。

第三届集成电路测试大会(ICTC 2024)征文通知

集成电路测试大会(ICTC)是一年一度的学术盛会,旨在推动集成电路测试核心技术的研究和产业化应用,同时搭建一个产、学、研、用的交流电子与封装平台。会议吸引了来自世界各地的数百位专家和工程技术人员,大家齐聚一堂,共同致力于促进国内集成电路测试技术行业的发展。ICTC2024将于2024年8月16-18日在广东省深圳市举办。

基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计

阐述基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计,可以根据集成电路的实际需求,满足集成电路在扫描链功能测试、通用接口通信功能测试的双重需求,可以实现对多种通用芯片的关键参数进行测试。在测试阶段,降低了测试成本,系统有比较好的复用性。

大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用

伴随科学技术的快速发展,大规模集成电路测试程序开发技术也应获得优化。优良开发技术有助于测试工程师了解集成电路的功能与性能。为此,工程师应该优化原有思想,了解集成电路测试程序开发的主要流程。通过测试方案的论证、测试接口板的设计等方式,让集成电路测试程序开发技术具有科学性的特征。因此,大规模集成电路测试程序开发技术在得到广泛应用的基础上,工程师则能对设计加工制造出的产品质量具有全面化了解。

VXI数模混合信号集成电路测试系统

数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统 ,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目 (VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化 )为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATEIC测试系统 ,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。

射频集成电路测试技术研究

射频集成电路(RFIC)是无线通信、雷达等电子系统中非常关键的器件,由于其高频特点,准确评估RFIC的性能具有相当的难度。文章以射频低噪声放大器(LNA)为例,运用微波理论,分析了RFIC典型参数,如S参数、带宽、P1dB、OIP3以及噪声系数等的测试原理和测试方法,并对影响RFIC性能测试的主要因素进行了分析。最后,给出了一种LNA电路的测试结果。

集成电路测试技术的新进展

近年来,半导体工业正在经历一些重要的变化。这些变化的源头就是基础材料的进步,其标志是跨入了毫微技术领域,其结果是我们进入了一个具有更好发展前景的现场系统集成新时代。从器件体系结构的观点,这种转变表现为从我们熟习的CPU、ASICs和存储器到新一代的SOC和SIP。测试这些器件需要具有组合能力的高端测试仪,它必须兼有高端逻辑电路测试仪、RF和混合信号测试仪、存储器测试仪,还要附加一些这些传统测试仪上不可能具有的测试能力,包括提供重要的并行测试能力。本文希望能针对SOC和SIP中的一部分测试技术和测试方法学上的问题进行一定的讨论。这些主题分别是:IC测试系统、SIP测试、RF测试、DFT测试、并发测试和开放式体系结构ATE。

集成电路测试数据的处理

简述了集成电路测试数据的一些处理方法,包括临界数据的处理、异常数据的判定和剔除、测试结果有效位数的确定等;介绍了在进行集成电路性能参数测试时需要考虑的几个关键因素;对测量误差和减小测量误差的方法进行分析,使测试人员可对原始数据进行比较合理的处理;使测试值与被测集成电路的性能真值更加接近,避免对电路合格与否做出误判,从而使检验工作更加准确无误。

集成电路测试实验课程建设与人才培养

集成电路测试专业人才匮乏的现状已经极大地制约了国内集成电路产业发展。对集成电路测试工程师的能力要求涵盖电子电路设计、集成电路设计与可测性设计、集成电路生产工艺、测试计量技术以及软件设计等诸多方面。集成电路测试实验课程有针对性地提高了实验者专业能力,经过3年的建设运行,从学习该课程的学生进入专业领域研究和就业前景等方面来看,实验教学均取得了较好的效果,具有推广前景和意义。

减少数字集成电路测试时间的扫描链配置

研究了通过扫描链配置缩短数字集成电路测试时间问题。利用图论中的极大独立集来描述被测电路主输入的结构无关性。通过结构无关主输入共用扫描寄存器,以缩短扫描链长度进而减少扫描测试时间。提出了利用被测电路主输出可控性来分配一主输入至某一共用扫描寄存器的主输入组,直至形成一个极大组,这改进了利用被测电路测试集信息处理同样问题的方法[1]。还分析了在多输出有扇出电路中插入内置扫描单元,以增大结构无关输入的实现方法。对国际标准电路的实验证明了该方法是减少数字集成电路扫描测试时间的一条有效途径。

国产超大规模集成电路测试系统综合试验验证方法

为全面验证国产超大规模集成电路测试系统的工作指标和性能,提出测试系统的一种综合试验验证方法,根据测试系统不同的验证阶段,分别从系统仪器技术指标测试试验验证、系统软硬件功能测试试验验证和系统集成电路测试能力试验验证3个阶段开展综合试验,并针对各阶段的验证方法开展测试系统的试验验证实例分析,验证实例结果表明该综合试验验证方法能够全方位验证国产超大规模集成电路测试系统的工作指标、功能性能以及测试能力,进一步验证所述方法的可行性;该验证方法能够有效解决集成电路测试系统投入测试应用前的试验验证问题,也为新研集成电路测试系统的指标与功能性能验证提供一种有效的综合验证思路。

混合集成电路测试系统校准装置架构设计

为了实现针对混合集成电路测试系统的校准,论文详细分析了混合集成电路测试系统参量及各参量的校准原理,并提出了混合集成电路测试系统校准装置架构设计的方案。该设计方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准过程的自动化。