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C8051F系列混合信号MCU测试方法与实现
1
作者
杨超
金荣康
+1 位作者
张金凤
吴迪
《集成电路应用》
2023年第7期22-25,共4页
阐述C8051F系列MCU测试程序的设计方法,包括测试程序和软硬件方案、通信协议制定规则、配置程序编写方法,基于EVA-100实现C8051F330测试程序,在此基础上进行扩展,探讨整个系列MCU测试程序的扩展方案。
关键词
集成电路测试
C8051F330
MCU
通信协议
eva-100
下载PDF
职称材料
题名
C8051F系列混合信号MCU测试方法与实现
1
作者
杨超
金荣康
张金凤
吴迪
机构
北京振兴计量测试研究所
出处
《集成电路应用》
2023年第7期22-25,共4页
文摘
阐述C8051F系列MCU测试程序的设计方法,包括测试程序和软硬件方案、通信协议制定规则、配置程序编写方法,基于EVA-100实现C8051F330测试程序,在此基础上进行扩展,探讨整个系列MCU测试程序的扩展方案。
关键词
集成电路测试
C8051F330
MCU
通信协议
eva-100
Keywords
integrated circuit testing
C8051F330
MCU
communication protocol
eva-100
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP368.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
C8051F系列混合信号MCU测试方法与实现
杨超
金荣康
张金凤
吴迪
《集成电路应用》
2023
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