一种基于存储器内建自测试的新型动态March算法设计

存储器作为片上系统(SoC)中最大和最重要的模块之一,它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率,该文提出一种新型动态March算法——Dynamic-RAWC。相比经典的March RAW算法,Dynamic-RAWC算法有着更良好的故障检测效果:动态故障覆盖率提高了31.3%。这个可观的效果得益于所提算法以经典的March RAW算法为基础进行优化,融入了Hammer,March C+算法的测试元素和一些新的测试元素。不同于普通March型算法的固定元素,所提算法支持用户自定义算法的执行顺序以适应不同的故障检测需求,能够动态地控制算法元素,在时间复杂度和故障覆盖率之间进行调整从而达到良好的平衡。

基于March算法的电子病案数据存储归档方法研究

目的研究基于March算法的电子病案数据存储归档方法,测试存储器故障,提高存储归档的效率。方法有效结合区块链结构的数据存储特点,建立电子病案数据存储模型,加密电子病案数据,保证电子病案数据不被篡改;基于March算法,通过对指定电子病案存储单元数据执行读写操作,测试电子病案存储模型中存储器故障,维护电子病案数据安全;并基于分布式哈希表区块链归档存储模型中的电子病案数据,降低电子病案数据存储模型存储压力的同时不影响其存储可靠性。结果该方法故障检测覆盖率高达100%,能够准确检测出所有的存储器故障类型和个数,归档率均在98%以上,且能够节约医院开销、快速查询到所需患者的个人电子病案数据。结论该方法能够测试存储器故障,提高存储归档的效率,可以广泛应用于电子病案数据存储归档领域。

基于March算法的医疗器械溯源数据存储方法

目的 医疗器械溯源种类众多,存储后的数据溯源时存在跨度大、数据丢失等问题,为提升医疗器械溯源数据存储性能,提出基于March算法的医疗器械溯源数据存储方法。方法 通过构建的滤波器对医疗器械溯源数据开展小波分解处理并实施阈值量化,结合混合熵编码对保留溯源数据系数编码,完成医疗器械溯源数据的压缩;采用建立的云存储模型存储压缩后的溯源数据,利用March算法遍历存储模型各个存储单元,测试出模型内是否存有故障,实现医疗器械溯源数据的最终存储,验证所提基于March算法的医疗器械溯源数据存储方法的有效性。结果 验证结果表明,该方法的平均剩余能量在400~500 nJ范围内,可存储溯源数据量5000个,存储标准差值均小于15。结论 基于March算法的医疗器械溯源数据存储方法的能量消耗较低,存储容量较大,负载均衡性能较好,可为医疗数据管理提供参考。

基于March算法的存储器测试控制器设计

随着soc设计向存储器比例大于逻辑部分比例的方向发展,存储器的品质直接影响着soc的整体性能的提高,故对于存储器测试显得尤为重要。现在存在的一些存储器测试方法对故障的覆盖率都不能达到100%。本文分析了现有的各种March算法,提出了一种新的存储器测试控制器设计方法,它综合调配各种March算法,使测试的故障覆盖率接近100%,并且硬件开销很小。

基于March算法的嵌入式存储器BIST技术

随着嵌入式存储器规模的不断增大,BIST成为一种节省存储器测试时间和测试成本的有效手段.March算法是当前MBIST设计中最适合的算法.简要介绍了存储器故障模型和各种重要的March算法,探讨了MBIST的几种实现方式,从速度、面积、灵活性和IP保护等几方面对它们进行了分析比较,提出了未来MBIST技术的发展趋势.

一种改进的随机存储器自检测March算法

本文对随机存储器各类故障的失效机制和当前已有的解决算法做了简要介绍,进而对该问题更好的解决和各个指标的优化平衡提出了一种改进的March算法,从而达到了较高的故障覆盖率。

基于MARCH算法的SRAM内建自测试设计

随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要,但是测试是FPGA设计中费用最高、难度最大的一个环节。由于片上系统的快速发展,ATE的速度及其存储量已经不能满足测试的要求,因此出现了内建自测试技术。本研究的主要目的是实现一个对32个单元、每个单元8比特大小的SRAM测试的BIST,采用的测试方法为MARCH算法。在设计中采用的是Verilog语言,用QautusⅡ9.0软件对设计进行仿真,并对仿真结果进行分析判断。

基于March算法的网络多维数据优化存储方法

传统的多维数据优化存储方法存在存储性能较差、信噪比较低的问题.为此,提出一种基于March算法的网络多维数据优化存储方法.根据映射函数,对网络多维数据进行映射函数整数编码;通过映射获得多维数组的坐标值,完成维数据组织构建;依据二进制编码获取更高的网络多维数据存储效率;利用顺序存储与分块存储完成度量数据组织,通过块的压缩存储节约数据存储占用空间;利用march算法测试网络多维数据存储方法,完成存储方法的优化.实验结果表明,在不同压缩比时,该方法在数据存储过程中的最高信噪比可达96;在不同稀疏度时,该方法在数据存储过程中的信噪比依旧较高,具备较优的数据存储性能.

基于March算法的嵌入式存储器BIST技术

目前应用最多的存储器就是嵌入式存储器,这一类型的存储器在长期的发展进程中,规模和容量逐渐扩大,这就使得针对存储器的测试时间以及成本都相应的增加,为了能够使得存储器的测试成本相应减少,优化嵌入式存储器的测试时间,就需要合理的应用BIST技术,并且在March算法的基础上,更好的发挥出BIST技术的应用效应。本文主要就基于March算法的嵌入式存储器BIST技术进行了简要的分析,仅供同行交流。

可兼容四种March系列算法的PMBIST电路设计

存储器是系统级芯片(System on chip,SoC)中最重要的组成部分之一,也是最容易出现故障的部件。存储器故障可能会导致整个SoC失效,对存储器进行充分的测试和验证是至关重要的。目前,主流的存储器测试方法是采用存储器内建自测试(Memory build-in-self test,MBIST)技术,传统的可测性技术采用单一的测试算法进行测试,为了满足不同类型存储器的测试需求以及不同工艺制造阶段的测试强度,需要使用不同类型的测试算法进行测试。结合存储器常见的故障模型以及多种测试算法,设计了具有较高灵活性和可扩展性的可编程存储器内建自测试(Programmable memory built-in-self test,PMBIST)电路,可兼容四种不同的March系列算法进行存储器内建自测试,采用寄存器传输语言(Reigster transfer language,RTL)级代码的编写方式,针对静态随机存储器(Static random-access memory,SRAM)采用不同March系列测试算法进行仿真,并以常用的March C+算法为例进行说明。仿真结果表明,所设计的PMBIST电路可对四种不同的March算法进行测试,满足不同类型存储器的内建自测试需求。

基于March X算法的SRAM BIST的设计

针对LS-DSP中嵌入的128kbSRAM模块,讨论了基于MarchX算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生;完成了基于MarchX算法的BIST电路的设计。128kbSRAMBIST电路的规模约为2000门,仅占存储器面积的1.2%,故障覆盖率高于80%。

一种基于存储器故障原语的March测试算法研究

研究高效率的系统故障测试算法,建立有效的嵌入式存储器测试方法,对提高芯片良品率、降低芯片生产成本,具有十分重要的意义。从存储器基本故障原语测试出发,在研究MarchLR算法的基础上,提出March LSC新算法。该算法可测试现实的连接性故障,对目前存储器的单一单元故障及耦合故障覆盖率提升到100%。采用March LSC算法,实现了内建自测试电路(MBIST)。仿真实验表明,March LSC算法能很好地测试出嵌入式存储器故障,满足技术要求。研究结果具有重要的应用参考价值。

一种Mbist新型算法March 3CL的设计

制造工艺的不断进步,嵌入式存储器在片上系统芯片中的集成度越来越大,同时存储器本身也变得愈加复杂,使得存储器出现了一系列新的故障类型,比如三单元耦合故障。存储器內建自测试技术是当今存储器测试的主流方法,研究高效率的Mbist算法,是提高芯片成品率的必要前提。以SRAM的7种三单元耦合故障为研究对象,通过分析故障行为得到三单元耦合的72种故障原语,并且分析了地址字内耦合故障的行为,进而提出新的测试算法March 3CL。以2048X32的SRAM为待测存储器,利用EDA工具进行了算法的仿真,仿真结果表明,该算法具有故障覆盖率高、时间复杂度低等优点。

基于故障类型的高效March算法构造

March算法是一系列用以测试片上随机存储器的测试算法,通过搭配存储器内的内建自测试系统(mBIST)与功能故障模型,可以检测存储器中存在的故障。March算法的优劣直接影响到存储器的测试效率,其评判指标为故障覆盖率和时间复杂度。通过分析March算法的结构、读写操作与故障检测方式的关系,提出了一种March算法的构造方法,通过其构造的两种March算法在保证故障覆盖种类不变的情况下,时间复杂度减少了5.7%与1.3%,从而减少了测试时间。

基于改进Marching Tetrahedra算法的锥体气象数据三维重建

在气象领域中,多普勒雷达探测的气象数据采用空间极坐标的方式进行存储,探测到的气象目标具有分布不均匀、区域分散、形状不规则等特征。为了满足气象目标三维重建的需求,针对雷达数据特征对Marching Tetrahedra三维重建算法进行一定的改进。首先采用Barnes插值方法和傅里叶谱分析原理的插值方法分别在雷达锥体数据的垂直方向及径向之间进行回波强度值的加密,对加密后的回波极坐标数据构成的新的六面体进行基本四面体单元的剖分,并利用线性插值得到各顶点的具体位置,绘制时结合多层次面绘制技术渲染三维图,该算法避免了对高仰角以及距离远而没有回波数据区域的重建。实验表明,改进算法能更好更快地实现三维重建,并且能观测分析云层的内部细节信息,为气象的准确预报提供了一定的参考依据。

基于改进算法的DICE结构抗辐射SRAM内建自测试电路设计

为测试DICE结构抗辐射静态随机存储器(Static random-access memory,SRAM)在生产制造后是否存在故障,针对DICE结构抗辐射SRAM设计存储器内建自测试电路(Memory built-in self-test,MBIST)。DICE结构SRAM不同于传统结构SRAM,由于它的存储单元结构更复杂,更多缺陷易出现在DICE结构SRAM的生产制造过程中。为了有针对性地测试出由这些缺陷导致的故障,提出了一种针对DICE结构SRAM的改进算法,此算法在March C算法的基础上仅增加了两个测试序列,使其不仅能覆盖March C算法所能覆盖的所有故障,还能覆盖DICE结构SRAM所特有的故障,提高了测试算法对DICE结构SRAM的综合故障覆盖率,在实际应用开发中,实现了对待测电路的特异性测试算法优化的目标。本算法对DICE结构SRAM设计MBIST电路,并对设计完成的MBIST电路RTL代码进行功能仿真,仿真结果证明了所设计电路的可行性和正确性,可为抗辐射SoC芯片内嵌SRAM测试提供符合工程项目开发的IP。

静态随机存储器在轨自检算法

静态随机存储器(SRAM)在轨自检应用于星载电子设备上电初始化过程中,能够在电子设备开始工作前发现存储器的故障单元,为评估电子设备健康状态提供依据。分析了SRAM的结构和常见的故障原理,针对在轨应用这一特殊背景开展研究,提出了对典型测试算法的改进方案。在完成对改进方案的分析和评价后,以8 K×8 bit存储器为例开展算法的实现,并验证了改进方案的可行性。与典型测试算法相比,所提改进方案具有资源开销少、故障覆盖率高等优点。

一种适用于FinFET单存储单元的高效的动态故障测试算法

FinFET作为现在最前沿的晶体管技术,在嵌入式存储器上得到了广泛应用.但是,新的工艺也带来了新的缺陷.Synopsys公司通过故障建模及测试发现:FinFET存储器比平面存储器对动态故障更敏感.而经典的测试算法仅仅针对静态故障.目前关于动态故障的测试算法极少,并且复杂度很高.因此,本文提出了一种改进的动态故障测试算法,该算法能够覆盖所有连续两次敏化操作的单单元动态故障.

基于PRPNet的三维表面重建方法

隐式神经网络用于三维表面重建时,存在重建物体的结构不准确、表面缺乏局部细节等问题,针对此问题,文章提出了一种基于PRPNet(点云残差编码网络)的三维表面重建方法。首先采用更深的网络结构且加入残差模块挖掘点云潜在的结构信息,加入PointMateBase模块,以增强局部细节表示能力;其次使用特征权重网络获取查询点的占用概率;最后通过区域增长的Marching Cubes算法提取三维表面。实验结果表明,PRPNet模型在ShapetNet和Synthetic Rooms数据集上的精度较DpConvONet模型相应数据集上的精度分别提升了2.5百分点和2.6百分点,能够有效提升三维表面重建性能。

高安全电子设备中RAM测试算法的设计与实现

为了满足航空高安全电子设备领域的高可靠性和高安全性,解决内存故障给系统带来的不稳定性,针对内存的故障类型和典型的内存测试场景,设计出一种按数据总线、地址总线、存储单元划分功能电路,以总线宽度(字或双字)为测试基准,结合字内组合故障测试码的RAM测试算法。算法通过设置测试步进量调整存储单元测试地址的跨越幅度,满足不同测试场景对测试时间的需求。通过在一些型号项目的上电检测、内存故障定位等应用场景中的验证,算法的时间性能、错误检测率和可配置性等均能满足要求。