基于V93000 ATE的MTL生成功能码的方法

随着信息科学和产业的发展,集成电路为人们广泛应用。在今天的超大规模集成电路特别是在系统芯片SOC设计中,将大量存储器嵌入在片中的设计方法已经非常普遍。存储器的测试是集成电路测试一个十分重要的内容。V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平台,它集合了数字测试、模拟测试和射频测量等资源。可针对各种高集成度的电子产品组件进行晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test)。就利用V93000测试系统(ATE)的MTL工具产生存储器功能测试码的方法进行阐述,分析了与传统生成功能码方式相比,MTL具备灵活、占内存小、实现方便等特点。

一种基于三维模型冗余贴图的信息隐藏技术

针对传统三维模型信息隐藏技术鲁棒性不强的缺点,提出了一种基于三维模型冗余贴图的信息隐藏算法。首先,对正交投影纹理映射规则进行面片贴图的可行性进行验证;其次,构造带有表面颜色属性的四元数小波变换空间并选取传输的关键信息进行加密;最后,将隐秘消息嵌入鲁棒空间后生成含密OBJ模型,贴图纹理与状态信息保存至MTL文件中,以RSA编程手段进行含密模型文件加密处理。仿真实验表明,与不含表面贴图属性的三维模型水印以及隐写方法相比,该算法在特殊渲染环境下具备较强的抗攻击能力。