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基于LabVIEW的考虑Sieverts装置阀门运动的PCT测试方法 被引量:1
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作者 秦俊南 程宏辉 +2 位作者 朱洪星 缪宏 陈东雷 《实验技术与管理》 CAS 北大核心 2024年第4期95-101,共7页
针对Sieverts装置由阀门动作引起的腔体容积变化导致的储氢量计算误差,提出一种阀门容积在线标定方法。该方法结合Leachman真实气体状态方程和质量守恒定律构建数学模型;同时提出一种考虑阀门运动的PCT测试方法。基于所提出的新储氢量... 针对Sieverts装置由阀门动作引起的腔体容积变化导致的储氢量计算误差,提出一种阀门容积在线标定方法。该方法结合Leachman真实气体状态方程和质量守恒定律构建数学模型;同时提出一种考虑阀门运动的PCT测试方法。基于所提出的新储氢量计算模型,借助LabVIEW软件执行阀门动作流程并进行测试程序编写,大大提高了PCT测试的精度和鲁棒性。该文详细介绍了标定装置的结构、PCT测试原理、阀门容积在线标定以及考虑阀门运动PCT测试的实现方法。通过无样品空测验证了阀门容积标定及PCT测试方法的准确性,不同储氢合金的PCT实测表明了程序的测试效果以及考虑阀门运动的必要性。 展开更多
关键词 材料表征 容量法 pct测试 虚拟仪器
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储氢合金的压力-组成-温度关系测试仪的优化 被引量:2
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作者 陈通进 吴铸 +5 位作者 钦佩 李志林 余学斌 毛建锋 黄铁生 徐乃欣 《自动化仪表》 CAS 2008年第2期70-73,共4页
随着储氢合金在能源领域中的应用日益广泛,对测试仪精确性和稳定性的要求更高。针对精确稳定的要求提出了测试仪的优化方案,通过采用内有集成16位分辨率ADC的控制器ADμC848和2.5 V外部基准电源等措施来提高数据采集精度和工作稳定度。... 随着储氢合金在能源领域中的应用日益广泛,对测试仪精确性和稳定性的要求更高。针对精确稳定的要求提出了测试仪的优化方案,通过采用内有集成16位分辨率ADC的控制器ADμC848和2.5 V外部基准电源等措施来提高数据采集精度和工作稳定度。简述了基于实际气体状态方程的测试原理和结构,同时详细描述了控制器性能、K型热电偶电路、硬件组成关系和软件流程。经过优化的测试仪实验运行,表明它可以精确可靠地进行储氢合金性能测试。 展开更多
关键词 储氢合金 ADμC848控制器 pct测试 K型热电偶 数据采集
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考虑阈值电压漂移的SiC MOSFET功率循环寿命修正技术
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作者 顾殿杰 谢露红 +3 位作者 邓二平 吴立信 刘昊 黄永章 《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第11期1008-1015,共8页
在SiC MOSFET的功率循环测试(PCT)中,饱和压降主要表征键合线的老化状态,其值由导通电阻决定。SiC MOSFET的阈值电压漂移会在导通电阻中引入非键合线老化导致的芯片电阻增量,进而影响寿命判断。为了准确判定键合线失效,设计和搭建阈值... 在SiC MOSFET的功率循环测试(PCT)中,饱和压降主要表征键合线的老化状态,其值由导通电阻决定。SiC MOSFET的阈值电压漂移会在导通电阻中引入非键合线老化导致的芯片电阻增量,进而影响寿命判断。为了准确判定键合线失效,设计和搭建阈值电压漂移在线监测平台,并结合实测阈值电压漂移数据解耦出芯片电阻增量,进而对实测饱和压降进行补偿,实现对SiC MOSFET功率循环寿命的修正。结果表明,同一器件寿命修正前后的结果基本一致,阈值电压漂移主要影响PCT前期的饱和压降,对最终寿命判定结果没有影响。该研究成果可为SiC MOSFET封装可靠性测试提供参考。 展开更多
关键词 SiC MOSFET 阈值电压漂移 功率循环测试(pct) 在线监测 芯片电阻 键合线失效 寿命修正
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Mg-16.5Y-13Zn合金储氢性能的研究 被引量:2
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作者 李长友 刘江文 《材料研究与应用》 CAS 2010年第4期282-286,共5页
采用电磁感应铜模铸造法制备了含有长周期相(LPSO)Mg12YZn,Mg3Y2Zn3相和Mg相的Mg-16.5Y-13Zn(质量分数)合金,并测定了合金的储氢性能.通过退火和球磨处理可以细化镁合金的显微组织,但不改变相组成.退火态球磨合金的储氢性能优于铸态球... 采用电磁感应铜模铸造法制备了含有长周期相(LPSO)Mg12YZn,Mg3Y2Zn3相和Mg相的Mg-16.5Y-13Zn(质量分数)合金,并测定了合金的储氢性能.通过退火和球磨处理可以细化镁合金的显微组织,但不改变相组成.退火态球磨合金的储氢性能优于铸态球磨合金,虽然二者吸氢量没有明显的区别,但退火态球磨合金的放氢量较大退火态球磨和铸态球磨合金PCT后均存在YH2,YH3和MgZn相,但退火态球磨合金PCT后MgH2完全放氢,其放氢性能要好于铸态球磨样品. 展开更多
关键词 镁合金 储氢 压力成分温度测试(pct) 显微组织
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引线键合的低成本解决方案 被引量:6
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作者 Jong-SooCho Jeong-Tak Moon 《电子工业专用设备》 2008年第5期60-63,共4页
最近,金价不断上涨突破了35.4美元/g,同时半导体产品特别是存储器类产品的价格却不断下降。目前半导体行业最大的挑战是如何控制并降低成本。为了降低引线键合的原材料成本,近年来金-银合金引线已被开始用来替代金线键合。但是,由于金-... 最近,金价不断上涨突破了35.4美元/g,同时半导体产品特别是存储器类产品的价格却不断下降。目前半导体行业最大的挑战是如何控制并降低成本。为了降低引线键合的原材料成本,近年来金-银合金引线已被开始用来替代金线键合。但是,由于金-银合金引线键合的器件在测试中出现的故障,不能用于在高湿度环境下进行可靠性测试(例如PCT测试)的器件,使其在应用上受到限制。研究了传统Au-Ag合金引线键合的电子器件在PCT测试时所产生的故障机理和钯元素的作用,通过在Au-Ag合金引线中掺入(Pd)钯元素来阻止在高湿度环境下进行可靠性测试时出现的故障。 展开更多
关键词 Au—Ag合金引线 pct(高压炉测试) 潮湿度 可靠性
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