Analysis Of Repeatability For Measurements Of Veiling Glare Index

Various factors that affect the repeatability of an apparatusfor the measurement of veiling glare index of a long focal length opticalsystem are discussed,which include the errors influencing the radianceuniformity of the extended bright field,positions of the detector,measuring aperture,and the black patch.The results can be used in thedesign of any veiling glare measurement apparatus.

透射式光学系统杂光系数计算方法

在相机研制中,杂光系数是评价杂散光的主要指标.为了快速、便捷、准确地计算杂光系数,本文通过分析透射式光学系统的杂散光路,根据能量传输原理,推导了无中心遮拦无渐晕的透射式光学系统的杂光系数的理论计算方法,并编制了相关的程序.仿真结果表明:该方法简单易行,能够快速给出杂光系数的初步评价,将杂散光抑制设计及分析提前,为后续设计提供参考.

光学系统黑斑法杂光系数和PST间的联系

ＰＳＴ（点源传递函数）是杂光分析程序常用的输出结果形式，杂光系数则是杂光实验测量最常用的结果表示方式。本文根据辐射传热理论，建立了杂光分析计算程序的输出结果ＰＳＴ和用黑斑法进行杂光测量所得的杂光系数Ｖ之间的联系，并给出了相应的解析表达式。

长焦距光学系统杂光系数测试仪

报告了一种新的长焦距光学系统杂光系数测量装置，该装置除具有避免了制作大直径积分球的优点外，还能精确测量轴外杂光系数，分析各部分杂光源对杂光系数的影响。

空间可见光相机的杂散光分析与抑制

当空间可见光相机对地物目标进行成像时,视场内外的辐射会引起像面上产生杂散辐射,从而降低相机的成像质量,严重时可能会造成相机无法正常工作。为了提高相机的成像性能,介绍了可见光系统中杂散光的产生机理及其抑制措施,建立了相机的光机模型,分析了系统的杂散光,改进了遮光系统的设计。利用建立的杂光系数测量装置测量了相机镜头的杂光系数,并验证了建模分析结果。

R-C系统消杂散光设计与效果评估

研究R-C系统的消杂散光以提高其成像质量。从杂散光的能量传输方程出发,分析总结了杂散光消除的基本途径。按照R-C系统杂散光消除的具体要求,结合作图法,推导出初始中心遮光比确定时的内遮光罩顶点坐标公式;为了减小初始中心遮光比,将次镜锥状遮光罩改进为百叶窗式结构。设计了杂散光源抑制角已知时的外遮光罩。最后,给出在Tracepro中利用仿真模拟测定杂光系数的方法及R-C系统遮光罩的应用实例。

光学系统杂光测试仪误差分析

本文介绍了一种光学系统杂光测试仪,并对其主要误差进行了分析和计算,对提高仪器的测量精度起到了一定的作用。

长焦距光学系统杂光系数测量的新方法及其理论分析

在分析现有杂光系数测量的基础上，提出了一种新的长焦距光学系统杂光系数测量的方法。

空间离轴反射式CCD相机杂散光抑制

对空间离轴反射式CCD相机的杂散光情况进行分析,通过对CCD的照度图进行分解,对占CCD照度图能量较大的杂散光光路进行解析,确定杂散光路径。根据仿真结果,针对两个成像通道提出杂散光抑制措施并对抑制措施进行优化设计。经过再次仿真,两个成像通道杂散光系数得到大幅降低。根据相机观测对象,利用点源透过率(PST)作为检验杂散光抑制措施有效性的指标。当离轴角为30°,相机的PST达到10-8数量级,满足设计指标要求。

成像光学系统杂光系数分析与计算

杂光系数是评价光学系统成像质量的重要指标之一。一般情况下,杂光系数只有在光学系统加工完成之后,才能运用实测方法得到,且如果实测结果不理想,需对光学系统的杂光抑制方法进行调整以增强其抑制效果。针对上述问题,提出了一种在光学设计阶段求得杂光系数的方法。该方法运用光学仿真软件TracePro为光学系统建模、分析和光线追迹,运用数学分析软件Matlab对仿真结果进行拟合,最终求出杂光系数。该方法的优点是将杂光系数的分析与计算提前,准确评价光学系统的杂光抑制能力。